译码修复方法与装置及带有该装置的用户数据估测器制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种光盘数据读取并译码的方法及装置，尤指应用于一ｎＴＲＬＬ译码过程中的译码修复方法与装置，该装置包含有一第一资料储存器、一转换器、一第二资料储存器以及一比较式位检测器。而该方法包含下列步骤：接收一模拟信号串，该模拟信号串包含有多个模拟信号；根据一预设值而将该模拟信号串中该模拟信号转换成多个位码而形成一位码串；以及当该位码串中具有ｎ－１个连续第一电位的位码且相邻于该ｎ－１个连续第一电位位码两侧的两位码皆为第二电位时，将该两第二电位位码所对应的两模拟信号进行比较，进而将较接近该预设值的该模拟信号所对应的该位码修正为第一电位。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光盘数据读取并译码的方法及装置，尤指应用于一nTRLL(Run Length Limited)译码过程中的译码修复方法与装置。如附图说明图1所示，是一现有光盘读取装置的部份功能方块示意图，其中由读写头所输出的一模拟电压信号V由一可变增益放大器10、一模拟数字转换器11、一重新定时系统12(retiming system)以及一增益控制反馈电路13所构成的数据采样装置，每隔一采样时间T便输出一模拟电压采样值而构成一模拟信号串Xn，此模拟信号串Xn再经一离散时间序列检测器14(discrete timesequence detector)的转换而得到一位串Bn，而位串Bn再经一3T RLL译码器15(3T RLL decoder)的译码而回复原始数据。由于在3T RLL编码格式中，并不允许一个或两个相同位单独出现，于是当111_010_111或000_101_000等形态的位码串出现时，我们可轻易得知，正确的数据应分别为111_000_111或000_111_000。但是如图2所示，表示出上述模拟电压信号V的波形示意图以及每隔一采样时间T来进行采样所得的模拟信号串Xn与位串Bn的示意图，其中模拟信号串Xn是根据一预设电位Vr来进行高低电位的判断，由图中可清楚看出，当Xn大于Vr时便被认定为位1，而当Xn小于Vr时便被认定为位0。而由于上述数据以3T RLL的方式进行编码，因此当所输出的位串Bn为如图2所示的111_1001_111时，可立即判断出有错误产生，正确的位串Bn应为111_0001_111或是111_1000_111，但是在目前存在的现有架构中，并无法正确地判断出正确资料，导致错误仍可能存在而无法完成正确译码的任务，而如何改善上述缺陷，是发展本案的主要目的。为了实现上述目的，本专利技术提供了一种译码修复方法，应用于一nT RLL(Run Length Limited)译码过程中，该方法包含下列步骤接收一模拟信号串，该模拟信号串包含有多个模拟信号；根据一预设值而将该模拟信号串中该模拟信号转换成多个位码而形成一位串；以及当该位串中具有n-1个连续第一电位且相邻于该n-1个连续第一电位两侧的两位码皆为第二电位时，将该两第二电位所对应的两模拟信号进行比较，进而将较接近该预设值的该模拟信号所对应的该位码修正为第一电位。本专利技术的另一方面为一种译码修复装置，应用于一nT RLL译码过程中，其特征在于，该装置包含有一第一资料储存器，其是接收一采样值串并予以储存，而该采样值串包含有多个采样值；一第二资料储存器，其是接收该采样值串根据一预设值转换而得到的一位串并予以储存；以及一比较式位检测器，电连接于该第一资料储存器与该第二资料储存器，当储存于该第二资料储存器中的该位串中具有n-1个连续第一电位的位码且相邻于该n-1个连续第一电位位码两侧的两位为第二电位时，将该两第二电位位码所对应并储存于该第一资料储存器中的两模拟信号进行比较，进而将较接近该预设值的该模拟信号所对应且储存于该第二资料储存器中的该位码修正为第一电位。根据上述的译码修复装置，其中该第一资料储存器为一第一先进先出缓冲器，而该第二资料储存器系为一第二先进先出缓冲器。根据上述的译码修复装置，其中该第一与第二先进先出缓冲器分别为一第一移位缓存器与一第二移位缓存器。根据上述的译码修复装置，其中该比较式位检测器包含一比较器，电连接于该第一移位缓存器中一第一缓存器与一第二缓存器，将间距n-1个缓存器的该第一缓存器与该第二缓存器所储存的两模拟信号进行比较后发出一修正信号，该修正信号指出储存有较接近该预设值的该模拟信号的缓存器；以及一检测修正器，电连接于该比较器与该第二移位缓存器，当储存于该第二移位缓存器中的该位码串具有n-1个连续第一电位且相邻于该n-1个连续第一电位位码两侧的两位码为第二电位时，进而将该修正信号所指出的该缓存器中储存的该位码由第二电位修正为第一电位。本专利技术还提供了一种包含该译码修复装置的一种用户数据估测器，用以估测储存介质所存的用户数据，由该介质上方的读取头所发的一模拟读取信号而得到nT RLL码格式数据，其种，该用户数据估测器包括一信号处理装置，用以将该模拟读取信号转换成一同步采样值串；一离散时间序列检测器，根据一预设值将该同步采样值串转成一位码串；一资料修复装置，接收该同步采样值串与该位码串，用以产生一nT RLL码格式数据的修正位码串，并在该位码串中具有n-1个连续第一电位的位码且相邻于该n-1个连续第一电位位码两侧的两位码皆为第二电位时，将该两第二电位位码所对应的两模拟信号进行比较，进而将较接近该预设值的该模拟信号所对应的该位码修正为第一电位；以及一译码器，根据该修正位码串，以估测该以nT RLL码格式编码并储存于该储存介质中的使用者数据。如上的用户数据估测器，其中，该信号处理装置包括一可变增益放大器，用以调整该模拟读取信号的强度；一采样器，用以在强度调整后对该模拟读取信号进行异步采样，产生一异步采样值串；一重新定时系统，用以调整该异步采样值串的频率与相位，以得到该同步采样值串；以及一增益控制反馈电路，进行一反馈至该可变增益放大器的反馈动作，以重新调整该模拟读取信号的强度。本专利技术的有益效果是，该修复装置利用该修复方法，可实现自动修正采样所得的位码串，最终输出一正确的位码串给译码器。下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步说明。图1是一现有光盘读取装置的部份功能方块示意图。图2表示出一模拟电压信号V的波形示意图以及每隔一采样时间T进行采样所得的模拟信号串Xn与位码串Bn的示意图。图3是本专利技术针对RLL译码过程包含译码修复装置的用户数据估测器的一较佳实施例功能方块示意图；图4是本专利技术对于修复装置所发展出来的一功能方块示意图。而该修复装置36主要进行下列步骤以实现修正动作(a)接收一模拟信号串Xn，该模拟信号串Xn包含有多个模拟信号。(b)根据一预设值(例如0)而将该模拟信号串Xn中该模拟信号，一对一转换成多个位码而形成一位码串Bn。以及(c)当该位码串Bn中具有n-1个连续第一电位的位码且相邻于该n-1个连续第一电位位码两侧的两位码皆为第二电位时，将该两第二电位位码所对应的两模拟信号进行比较，进而将较接近该预设值的该模拟信号所对应的该位码修正为第一电位。而上述位码的第一电位可代表位码1，而第二电位代表位码0。另外，位码的第一电位代表位码0，而第二电位代表位码1时，上述方法也可成立。至于n的值，在编码格式使用3T RLL时，n等于3，依此类推，在编码格式使用4T RLL时，n便等于4。如图4所示，是对于修复装置36所发展出来的一功能方块示例图，其主要包含有以先进先出缓冲器(FIFO Buffer)来完成的第一资料储存器与第二资料储存器(本例以第一移位缓存器361与第二移位缓存器362来完成)以及一比较式位检测器363，其中第一移位缓存器361接收一模拟信号串Xn而予以储存并依序输出，而由离散时间序列检测器34所完成的模拟数字转换器，根据一预设值Vr(本例为Vr＝0)而将该模拟信号串Xn一对一转换成多个个位码而形成一位串Bn(相关示意图可参见图2)，而第二移位缓存器362便用以接收该位码串Bn并予以储存与依序输出。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种ｎＴＲＬＬ码格式的译码修复方法，其特征在于，包含下列步骤： 接收一模拟信号串，该模拟信号串包含有多个模拟信号； 根据一预设值将该模拟信号串中的该模拟信号转换成多个位码而形成一位串；以及 当该位串中具有ｎ－１个连续第一电位的位码且相邻于该ｎ－１个连续第一电位位码两侧的两位皆为第二电位时，将该两第二电位位码所对应的两模拟信号进行比较，进而将较接近该预设值的该模拟信号所对应的该位码修正为第一电位。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：马清文，文治中，
申请(专利权)人：威盛电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]