一种用于大尺寸测试座的杠杆结构制造技术

本实用新型专利技术提出了一种用于大尺寸测试座的杠杆结构，包括设置在测试座基座上的浮动座、浮动座下方的复位弹簧、浮动座内的连动轴以及转动连动轴的压杆。本实用新型专利技术通过压杆带动具有铣扁结构的连动轴，使其在第一位置和第二位置之间转动时，即可实现测试座在打开状态和测试状态之间切换，操作简便；此外，通过设置连杆单元，与所述压杆共同作用，利用杠杆原理，施加较小的作用力即可满足测试下压力的需求，方便了测试人员的操作。方便了测试人员的操作。方便了测试人员的操作。

【技术实现步骤摘要】
一种用于大尺寸测试座的杠杆结构


[0001]本技术涉及芯片测试领域，特别是一种用于大尺寸测试座的杠杆结构。

技术介绍

[0002]芯片的功能测试是芯片研发和生产中必不可少的重要步骤，而芯片测试座为功能测试的关键治具，测试座功能是将芯片定位后通过导体探针将芯片上的芯片球与线路板之间建立电子信号和电流传输，从而达到测试目的。
[0003]对于大尺寸的芯片而言，其芯片球数通常在1000个球以上，故相应的测试座的尺寸也要达到要求，在实际测试时，现有的大尺寸的测试座需要较大的压力来完成下压，下压困难，且测试座的结构复杂，加工精度要求高，导致加工成本较高。

技术实现思路

[0004]为解决上述问题，本技术提出了一种用于大尺寸测试座的杠杆结构。
[0005]本技术的主要内容包括：
[0006]一种用于大尺寸测试座的杠杆结构，包括浮动设置在测试座基座两侧的两个浮动支撑件；所述浮动支撑件包括浮动座以及设置在所述浮动座下方的复位弹簧；其中一个所述浮动座上转动连接有测试座盖体；所述浮动支撑件内设置有连动轴，所述连动轴具有铣扁结构；所述连动轴连接有压杆，所述压杆带动所述连动轴转动，使其在第一位置和第二位置之间转换；所述连动轴处于第一位置时，测试座处于打开状态下；所述连动轴处于第二位置时，测试座处于测试状态。
[0007]优选的，测试座基座的两侧开设有浮动槽体，所述浮动座通过所述复位弹簧浮动设置在所述浮动槽体内。
[0008]优选的，所述浮动槽体的两个相对的侧壁开设有浮动轴孔；所述浮动座内开设有轴放置槽体，所述连动轴在所述放置槽体内在第一位置和第二位置转动，所述连动轴的两端穿过所述浮动轴孔延伸至测试座基座外。
[0009]优选的，所述压杆包括第一压杆体、第二压杆体和连接在第一压杆体和第二压杆体一端的压杆把手；所述第一压杆体和第二压杆体的另一端与其中一个所述连动轴的两端连接。
[0010]优选的，所述连动轴包括轴本体以及设置在轴本体两端的两个轴连接头，所述轴本体呈圆柱体且具有一个铣平面；所述轴连接头的横截面为多边形；所述第一压杆体和第二压杆体的另一端开设有呈四边形的轴连接孔，所述轴连接头配置在所述轴连接孔内。
[0011]优选的，还包括连杆单元，所述连杆单元的一端与所述压杆连接，所述压杆与其中一个所述连动轴连接，所述连杆单元的另一端与另一个所述连动轴连接。
[0012]优选的，所述连杆单元包括第一连杆体和第二连杆体，所述第一连杆体的一端与另一个所述连动轴连接，所述第二连杆体的一端与所述第一连杆体的另一端转动连接，其另一端与所述压杆转动连接。
[0013]优选的，所述压杆上设置有压杆凸起，所述第二连杆体上设置有连杆凸起，当所述压杆带动所述连动轴转动时，所述压杆凸起通过所述连杆凸起推动所述第二连杆体向着所述第一连杆体水平运动；在测试状态下，所述压杆凸起抵压在所述第二连杆体上，所述复位弹簧处于压缩状态。
[0014]优选的，测试座基座的四角开设有块放置槽，所述块放置槽内浮动设置有支撑块，所述压杆的一端配置在所述支撑块上。
[0015]优选的，所述浮动槽体底部开设有导向槽，所述浮动座底部向下延伸设置有导向柱，所述导向柱配置在所述导向槽内。
[0016]与现有技术相比，本技术的有益效果在于：
[0017](1)通过压杆带动具有铣扁结构的连动轴，使其在第一位置和第二位置之间转动时，即可实现测试座在打开状态和测试状态之间切换，操作简便；
[0018](2)通过设置连杆单元，与所述压杆共同作用，利用杠杆原理，施加较小的作用力即可满足测试下压力的需求，方便了测试人员的操作。
附图说明
[0019]图1为本技术的整体结构示意图；
[0020]图2为本技术打开状态下的结构示意图；
[0021]图3为本技术测试状态下的结构示意图；
[0022]附图标记：
[0023]1‑
基座；100
‑
容置空间；110
‑
浮动槽体；111
‑
导向槽；120
‑
复位弹簧；2
‑
上盖；20
‑
上盖框架；21
‑
卡扣板；22
‑
散热组件；23
‑
轴安装座；31
‑
压杆；310
‑
第一压杆体；311
‑
第二压杆体；312
‑
压杆把手；313
‑
压杆凸起；314
‑
轴连接孔；315
‑
连接安装孔；32
‑
连杆单元；320
‑
连杆凸起；321
‑
第一连杆体；322
‑
第二连杆体；323
‑
连杆安装孔；4
‑
芯片；
[0024]5‑
探针固定组件；50
‑
探针；51
‑
第一固定板；52
‑
第二固定板；6
‑
IC放置板；60
‑
导向通孔；70
‑
浮动座；700
‑
轴放置槽体；701
‑
浮动轴孔；71
‑
连动轴；710
‑
轴本体；711
‑
铣平面；712
‑
轴连接头；72
‑
支撑块；720
‑
块放置槽；73
‑
导向柱。
具体实施方式
[0025]以下结合附图对本技术所保护的技术方案做具体说明。
[0026]请参阅图1至图3。本技术提出一种用于大尺寸测试座的杠杆结构，所述测试座包括基座1和上盖2，其中，所述基座的中心具有容置空间100，用于固定放置探针固定组件5 和IC放置板，具体地，所述探针固定组件5包括上下设置的第一固定板51和第二固定板52，用于连通芯片4和用于测试的PCB板的探针50被固定放置其内，同时将芯片4放置在IC放置板6上，在所述IC放置板6上开设有使探针50穿过的导向通孔60，当所述芯片4被上盖 2下压时，所述IC放置板6带动所述芯片4向下运动而使得探针50与芯片稳定接触。
[0027]本技术提出了的杠杆结构能够为上盖2下压提供下压压力。
[0028]实施例一
[0029]在本实施例中，在所述基座2的两侧开设有浮动槽体110，在所述浮动槽体110内设置有浮动支撑件，所述浮动支撑件包括浮动座70以及复位弹簧120，所述复位弹簧120设置
在所述浮动座70和浮动槽体110之间；进一步地，在所述浮动座70内开设有轴放置槽体700，同时，在所述浮动槽体110的两个相对的侧壁开设有浮动轴孔701，在所述轴放置槽体700 内放置有连动轴71，所述连动轴71的两端穿过所述浮动轴本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于大尺寸测试座的杠杆结构，其特征在于，包括浮动设置在测试座基座两侧的两个浮动支撑件；所述浮动支撑件包括浮动座以及设置在所述浮动座下方的复位弹簧；其中一个所述浮动座上转动连接有测试座盖体，测试座盖体的一侧连接在另一个测试座上；所述浮动支撑件内设置有连动轴，所述连动轴具有铣扁结构；所述连动轴连接有压杆，所述压杆带动所述连动轴转动，使其在第一位置和第二位置之间转换；所述连动轴处于第一位置时，测试座处于打开状态下；所述连动轴处于第二位置时，测试座处于测试状态。2.根据权利要求1所述的一种用于大尺寸测试座的杠杆结构，其特征在于，测试座基座的两侧开设有浮动槽体，所述浮动座通过所述复位弹簧浮动设置在所述浮动槽体内。3.根据权利要求2所述的一种用于大尺寸测试座的杠杆结构，其特征在于，所述浮动槽体的两个相对的侧壁开设有浮动轴孔；所述浮动座内开设有轴放置槽体，所述连动轴在所述放置槽体内在第一位置和第二位置转动，所述连动轴的两端穿过所述浮动轴孔延伸至测试座基座外。4.根据权利要求3所述的一种用于大尺寸测试座的杠杆结构，其特征在于，所述压杆包括第一压杆体、第二压杆体和连接在第一压杆体和第二压杆体一端的压杆把手；所述第一压杆体和第二压杆体的另一端与其中一个所述连动轴的两端连接。5.根据权利要求4所述的一种用于大尺寸测试座的杠杆结构，其特征在于，所述连动轴包括轴本体以及设置在轴本体两端的两个轴连接头，所述轴本体呈圆柱体且具有...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨晓华，史先映，
申请(专利权)人：苏州英世米半导体技术有限公司，
类型：新型
国别省市：