一种用于SSD存储装置的测试座制造方法及图纸

本发明专利技术提出了一种用于SSD存储装置的测试座，包括塑胶体和若干接触端子，所述塑胶体底部的避位槽底部开设有沿所述塑胶体的厚度方向延伸且未贯穿所述塑胶体的上端面的收容槽，所述接触端子的端子安装部过盈设置在收容槽内，其端子头部被限制在所述收容槽的底部，使得M.2SSD在插入接纳槽时，使其与接触端子稳定的接触，而当其离开接纳槽时，其端子接触部在端子头部和端子安装部的共同作用下，具有良好的复位性能，提高了测试座的使用寿命；同时，接触端子通过尾部尖端与PCB板无需焊接而直接电接触，增加了更换PCB板的便利性，避免了对其他部件可能的损失。部件可能的损失。部件可能的损失。

【技术实现步骤摘要】
一种用于SSD存储装置的测试座


[0001]本专利技术涉及固态硬盘测试领域，特别是一种用于SSD存储装置的测试座。

技术介绍

[0002]在现有功能测试座使用过程中，在对SSD固态硬盘(Solid State Disk或Solid State Drive，简称SSD以下均称SSD)进行功能测试时会用到测试座，目前市场较多的测试厂家使用的测试座是工业品测试座，虽然功能可以满足测试要求，但是在测试寿命方面有很大缺陷，如在使用工业品进行测试时，测试座磨损，注塑产品容易变形；同时，在多次插拔测试时，接触端子弹性性能下降，复位效果降低，易出现虚接、接触不良等问题。此外，使用现有的功能测试座在大批量测试时使用也很不方便。

技术实现思路

[0003]为解决上述问题，本专利技术提出了一种用于SSD存储装置的测试座。
[0004]本专利技术的主要内容包括：
[0005]一种用于SSD存储装置的测试座，包括塑胶体和若干接触端子，所述塑胶体下端面的中部开设有避位槽，所述避位槽的底部两侧开设有两排收容槽，单个所述收容槽沿所述塑胶体的厚度本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于SSD存储装置的测试座，其特征在于，包括塑胶体和若干接触端子，所述塑胶体下端面的中部开设有避位槽，所述避位槽的底部两侧开设有两排收容槽，单个所述收容槽沿所述塑胶体的厚度方向延伸且未贯穿所述塑胶体的上端面；单个所述接触端子包括端子尾部、端子安装部、端子接触部以及端子头部；所述端子尾部包括弯折形成的尾部尖端，所述端子接触部包括弯折形成的接触尖端；所述塑胶体的上端面中部沿所述塑胶体的长度方向开设有接纳槽，所述接纳槽与两排所述收容槽连通；所述接触尖端延伸至所述接纳槽内；所述塑胶体的下端面的两侧开设有两排尾部槽，所述尾部槽与所述避位槽连通；所述端子尾部延伸设置在所述尾部槽内，且所述尾部尖端延伸至所述塑胶体下方；当将待测试的M.2SSD插入所述接纳槽内时，所述接触尖端与M.2SSD的金手指电接触；所述端子头部受力抵靠在所述收容槽的底部且沿所述收容槽的底部水平滑动；所述端子安装部过盈安装在所述收容槽内；所述尾部尖端与PCB板上的焊盘电接触。2.根据权利要求1所述的一种用于SSD存储装置的测试座，其特征在于，所述端子安装部包括竖直设置的安装本体；所述端子接触部包括第一弹臂和第二弹臂；所述第一弹臂的一端通过第一圆角连接段与所述安装本体的上端连接，其另一端通过第二圆角连接段与所述第二弹臂的一端连接，所述第二弹臂的另一端通过第三圆角连接段与所述端子头部连接；所述第二圆角连接段为所述接触尖端；所述端子头部包括沿水平延伸的头部本体。3.根据权利要求2所述的一种用于SSD存储装置的测试座，其特征在于，所述第一弹臂与水平方向的夹角大于所述第二弹臂与水平方向的夹角，且所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨晓华，史先映，
申请(专利权)人：苏州英世米半导体技术有限公司，
类型：发明
国别省市：