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本发明提出了一种用于SSD存储装置的测试座,包括塑胶体和若干接触端子,所述塑胶体底部的避位槽底部开设有沿所述塑胶体的厚度方向延伸且未贯穿所述塑胶体的上端面的收容槽,所述接触端子的端子安装部过盈设置在收容槽内,其端子头部被限制在所述收容槽的底...该专利属于苏州英世米半导体技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过苏州英世米半导体技术有限公司授权不得商用。
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本发明提出了一种用于SSD存储装置的测试座,包括塑胶体和若干接触端子,所述塑胶体底部的避位槽底部开设有沿所述塑胶体的厚度方向延伸且未贯穿所述塑胶体的上端面的收容槽,所述接触端子的端子安装部过盈设置在收容槽内,其端子头部被限制在所述收容槽的底...