采样电路制造技术

关于本发明专利技术的采样电路具备：以从被测定器件输出的数字数据（Ｓ１）作为输入，按照一定周期采样该数字数据（Ｓ１）的锁存电路（１２）；将由上述锁存电路（１２）采样出的数字数据针对同一输入代码按照规定的相加个数进行加法计算，依次输出该加法值的加法输出部件（１３ａ）；将采用上述加法输出部件（１３ａ）进行的加法输出处理控制为与采用上述锁存电路（１２）进行的采样处理并行地进行的控制逻辑部（１１）。由此能够进一步减小检查时间，此外由于不需要安装容量大的存储器，所以能够将电路规模抑制为必要最小限度的低成本的检查设备。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
一种采样电路，其特征在于，具备：　　　　将从被测定器件输出的数字数据作为输入，以一定周期采样该数字数据的采样部件；　　　　对由上述采样部件所采样出的数字数据针对同一输入代码按照规定的相加个数进行加法计算，并依次输出该加法值的加法输出部件；　　　　将由上述加法输出部件进行的加法输出处理控制成和由上述采样部件进行的采样处理并行地进行的控制部件。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：井出裕二，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]