相位差测试仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种相位差测试仪，涉及偏光片检测相关领域，为解决现有技术中的无法实现对检测过程中的偏光片进行转动调节的问题。所述设备控制箱的前端设置有样品检测台，所述样品检测台的上端设置有检测机构，所述样品检测台的下端设置有防护外壳，所述防护外壳的上端设置有外护框，所述外护框与设备控制箱通过螺栓连接，所述外护框上设置有调节槽，所述调节槽设置为倒“L”状，所述调节槽的深度与外护框的厚度设置为一致，所述调节槽的内部设置有调节杆，所述调节杆设置有两个，所述调节杆与调节槽设置为贴合。杆与调节槽设置为贴合。杆与调节槽设置为贴合。

【技术实现步骤摘要】
相位差测试仪


[0001]本技术涉及偏光片检测相关领域，具体为一种相位差测试仪。

技术介绍

[0002]相位差测试仪是一种测量偏光片相位差的仪器。测试时采用手动放置偏光片的方式，可对偏光片相位差进行单次测量和多次连续测量，并实时显示测量结果。并可保存大量测试数据，具备数据查询，相位差分析、数据报表导出等功能。
[0003]而现有的相位差测试仪在进行使用时，常常会在使用时，难以实现对偏光片进行多位置调节，从而极易影响到整个相位差测试仪的工作效率，因此市场急需研制一种相位差测试仪来帮助人们解决现有的问题。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种相位差测试仪，以解决上述
技术介绍
中提出的无法实现对检测过程中的偏光片进行转动调节的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种相位差测试仪，包括设备控制箱，所述设备控制箱的前端设置有样品检测台，所述样品检测台的上端设置有检测机构，所述样品检测台的下端设置有防护外壳。
[0006]优选的，所述防护外壳的上端设置有外护框，所述外护框与设备控制箱通过螺栓连接，所述外护框上设置有调节槽，所述调节槽设置为倒“L”状，所述调节槽的深度与外护框的厚度设置为一致，所述调节槽的内部设置有调节杆，所述调节杆设置有两个，所述调节杆与调节槽设置为贴合。
[0007]优选的，所述检测机构的两侧均设置有调节条，所述调节条设置为矩形条状，所述调节条上设置有多个调节孔，且调节孔设置为圆孔状，所述调节条与设备控制箱通过螺栓连接，所述调节条的前端设置有转动盘，所述转动盘设置为圆盘状。
[0008]优选的，所述转动盘上设置有通光孔，所述通光孔设置为圆孔状，所述通光孔的两侧均设置有拨片，两个所述拨片呈对称状布置，所述拨片的一侧设置有挡条，所述挡条设置为矩形条状，所述挡条与转动盘通过螺栓连接。
[0009]优选的，所述转动盘的外侧设置有刻度环，所述刻度环设置为圆环状，所述转动盘的下端设置有光源模块，所述光源模块与设备控制箱通过螺栓连接，所述光源模块的外侧设置有定位柱，所述定位柱设置有多个，多个所述定位柱呈圆周状布置，所述定位柱与样品检测台通过螺栓连接，所述定位柱上设置有定位槽，所述定位柱与转动盘通过螺栓连接。
[0010]优选的，所述定位柱的两侧均设置有加强架，所述加强架设置为“L”状，所述加强架设置有两个，所述加强架分别与设备控制箱和样品检测台通过螺栓连接，所述加强架的前端设置有固定杆，所述固定杆设置有两个，所述固定杆与样品检测台通过螺柱连接，所述光源模块的下端设置有操纵机构，所述操纵机构与设备控制箱通过螺栓连接。
[0011]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0012]1、该技术通过转动盘与定位柱的设置，使用者在对该相位差测试仪进行使用时，使用者可以通过转动盘的设置，来使得整个相位差测试仪在工作的过程中，可以通过调节定位柱上螺柱来实现对转动盘的转动调节，从而可以实现对整个相位差测试仪工作性能的提高，进而可以在一定程度上提高整个相位差测试仪的使用便利性；
[0013]2、该技术通过刻度环的设置，使用者在对该相位差测试仪进行使用时，使用者可以通过刻度环的设置，来使得整个相位差测试仪在对偏光片进行检测时，可以对偏光片的转动角度进行精准辨识，从而可以在一定程度上提高整个相位差测试仪的工作效率，进而可以大幅度的缓解使用者的使用压力。
附图说明
[0014]图1为本技术的相位差测试仪的结构图；
[0015]图2为本技术的相位差测试仪的局部剖视结构图；
[0016]图3为本技术的样品检测台的俯视结构图
[0017]图4为本技术的相位差测试仪的仰局部剖视结构图。
[0018]图中：1、设备控制箱；2、样品检测台；3、刻度环；4、通光孔；5、挡条；6、拨片；7、检测机构；8、定位柱；9、光源模块；10、加强架；11、固定杆；12、操纵机构；13、调节槽；14、调节杆；15、调节条；16、转动盘；17、外护框；18、防护外壳。
具体实施方式
[0019]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0020]请参阅图1
‑
4，本技术提供的一种实施例：一种相位差测试仪，包括设备控制箱1，设备控制箱1的前端设置有样品检测台2，样品检测台2与设备控制箱1通过螺栓连接，样品检测台2的上端设置有检测机构7，检测机构7与设备控制箱1通过螺栓连接，样品检测台2的下端设置有防护外壳18，防护外壳18与设备控制箱1通过螺栓连接。
[0021]进一步，防护外壳18的上端设置有外护框17，外护框17与设备控制箱1通过螺栓连接，外护框17上设置有调节槽13，调节槽13设置为倒“L”状，调节槽13的深度与外护框17的厚度设置为一致，调节槽13的内部设置有调节杆14，调节杆14设置有两个，调节杆14与调节槽13设置为贴合。
[0022]进一步，检测机构7的两侧均设置有调节条15，调节条15设置为矩形条状，调节条15上设置有多个调节孔，且调节孔设置为圆孔状，调节条15与设备控制箱1通过螺栓连接，调节条15的前端设置有转动盘16，转动盘16设置为圆盘状。
[0023]进一步，转动盘16上设置有通光孔4，通光孔4设置为圆孔状，通光孔4的两侧均设置有拨片6，两个拨片6呈对称状布置，拨片6的一侧设置有挡条5，挡条5设置为矩形条状，挡条5与转动盘16通过螺栓连接。
[0024]进一步，转动盘16的外侧设置有刻度环3，刻度环3设置为圆环状，转动盘16的下端设置有光源模块9，光源模块9与设备控制箱1通过螺栓连接，光源模块9的外侧设置有定位柱8，定位柱8设置有多个，多个定位柱8呈圆周状布置，定位柱8与样品检测台2通过螺栓连
接，定位柱8上设置有定位槽，定位柱8与转动盘16通过螺栓连接。
[0025]进一步，定位柱8的两侧均设置有加强架10，加强架10设置为“L”状，加强架10设置有两个，加强架10分别与设备控制箱1和样品检测台2通过螺栓连接，加强架10的前端设置有固定杆11，固定杆11设置有两个，固定杆11与样品检测台2通过螺柱连接，光源模块9的下端设置有操纵机构12，操纵机构12与设备控制箱1通过螺栓连接。
[0026]工作原理：使用时，先对整个相位差测试仪进行检查，使用者确认检查无误后，即可以开始进行使用，使用者可以通过将偏光片放置在样品检测台2上，并通过检测机构7来实现对偏光片的检测处理，而使用者在使用该相位差测试仪的过程中，可以通过转动盘16的设置，来使得整个相位差测试仪在工作的过程中，可以通过调节定位柱8上螺柱来实现对转动盘16的转动调节，从而可以实现对整个相位差测试仪工作性能的提高，进而可以在一定程度上提高整个相位差测试仪的使用便利性，同时也可以通过刻度环3的设置，来本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.相位差测试仪，包括设备控制箱（1），其特征在于：所述设备控制箱（1）的前端设置有样品检测台（2），所述样品检测台（2）的上端设置有检测机构（7），所述样品检测台（2）的下端设置有防护外壳（18）。2.根据权利要求1所述的相位差测试仪，其特征在于：所述防护外壳（18）的上端设置有外护框（17），所述外护框（17）与设备控制箱（1）通过螺栓连接，所述外护框（17）上设置有调节槽（13），所述调节槽（13）设置为倒“L”状，所述调节槽（13）的深度与外护框（17）的厚度设置为一致，所述调节槽（13）的内部设置有调节杆（14），所述调节杆（14）设置有两个，所述调节杆（14）与调节槽（13）设置为贴合。3.根据权利要求1所述的相位差测试仪，其特征在于：所述检测机构（7）的两侧均设置有调节条（15），所述调节条（15）设置为矩形条状，所述调节条（15）上设置有多个调节孔，且调节孔设置为圆孔状，所述调节条（15）与设备控制箱（1）通过螺栓连接，所述调节条（15）的前端设置有转动盘（16），所述转动盘（16）设置为圆盘状。4.根据权利要求3所述的相位差测试仪，其特征在于：所述转动盘（16）上设置有通光孔（4），所述通光孔（4）设置为圆孔状，所述通光孔（4）的两侧均设置有拨...

【专利技术属性】
技术研发人员：密振宇，蔡良盼，
申请(专利权)人：苏州千宇光学科技有限公司，
类型：新型
国别省市：