本发明专利技术公开了一种适用于微小信号的分析放大电路及装置，包括滤波电路，被配置为与电子产品内的滤波电容具有同等功效；滤波电路用于对电子产品做失效性分析时输出的微小信号进行滤波；信号放大电路，用于对滤波后的微小信号进行增益调节，并输出增益调节信号，能够避免获取的微小信号由于电子产品内部电路中的滤波电容失效而产生失真，从而能够对电子产品的内部电路的其他电子器件进行进一步的失效性分析，在此基础上能够更准确地确定电子产品内部电路的故障元器件，并且设置了信号放大电路对滤波后的微小信号进行放大，使示波器能够将放大后的增益调节信号较为清楚的显示出来，有效提高了对电子产品内部电路的失效性分析的准确性。析的准确性。析的准确性。
【技术实现步骤摘要】
一种适用于微小信号的分析放大电路及装置
[0001]本专利技术涉及电力电子
，尤其涉及一种适用于微小信号的分析放大电路及装置。
技术介绍
[0002]在对电子产品进行失效检测时，需要获取电子产品内部电路输出的信号，以通过输出信号的波形分析电子产品内部的故障或失效的元器件。
[0003]电子产品的内部电路中常设置有用于滤波的电容，以滤除其输出信号中的杂波信号，从而能够根据消除干扰后的输出信号分析电子产品的失效元器件，但当该电容失效时，获取的信号由于干扰信号的影响而造成波形失真，基于该信号只能判断出电子产品的由于其内部的滤波电容失效引起的故障，而不能进一步的对电路中的其它器件的失效情况进行故障分析。
[0004]另外，由于电子产品输出的故障信号通常为幅值较小的微小信号，并且有些精度低的示波器的放大倍数有限，当通过示波器对其进行显示时不能将获取的故障信号较为清楚的显示出来，同样对电子产品内部电路的失效性分析造成影响。
技术实现思路
[0005]本专利技术提供了一种适用于微小信号的分析放大电路及装置，以从电子产品中获取较为准确的检测信号。
[0006]根据本专利技术的一方面，提供了一种适用于微小信号的分析放大电路，包括：
[0007]滤波电路，被配置为与电子产品内的滤波电容具有同等功效；所述滤波电路用于对所述电子产品做失效性分析时输出的微小信号进行滤波；
[0008]信号放大电路，用于对滤波后的所述微小信号进行增益调节，并输出增益调节信号。
[0009]可选的，所述滤波电路包括至少一个第一电容；所述第一电容适配于所述电子产品内的滤波电容；
[0010]所述第一电容的一端与所述电子产品的微小信号输出端电连接，所述第一电容的另一端接地。
[0011]可选的，所述第一电容为程控电容。
[0012]可选的，所述信号放大电路包括共射放大电路和共集放大电路；
[0013]所述共射放大电路的输入端与所述滤波电路的输出端电连接；所述共射放大电路的输出端与所述共集放大电路的输入端电连接；所述共集放大电路的输出端输出所述增益调节信号。
[0014]可选的，所述共射放大电路包括第一晶体管、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第二电容和第三电容；所述第二电容的第一端与所述滤波电路的输出端电连接，所述第一晶体管的基极与所述第二电容的第二端、所述第一电阻的第一端和所述第
二电阻的第一端电连接，所述第一电阻的第二端接收直流稳压信号，所述第二电阻的第二端接地；所述第三电阻的第一端接收所述直流稳压信号，所述第三电阻的第二端与所述第一晶体管的集电极电连接；所述第四电阻的第一端与所述第一晶体管的发射极电连接，所述第四电阻的第二端与所述第五电阻的第一端和所述第三电容的第一端电连接，所述第五电阻的第二端和所述第三电容的第二端均接地；
[0015]所述共集放大电路包括第二晶体管、第六电阻、第七电阻和第四电容；所述第二晶体管的基极与所述第一晶体管的集电极和所述第三电阻的第二端电连接，所述第二晶体管的集电极接收所述直流稳压信号，所述第二晶体管的发射极与所述第六电阻的第一端和所述第四电容的第一端电连接，所述第六电阻的第二端接地，所述第四电容的第二端与所述第七电阻的第一端电连接，所述第七电阻的第二端接地；所述第四电容和所述第七电阻的连接节点还与增益调节信号的输出端电连接。
[0016]可选的，所述第三电阻和/或所述第四电阻为程控电阻。
[0017]可选的，所述信号放大电路还包括差分放大电路；所述差分放大电路电连接于所述共射放大电路的输入端与所述滤波电路的输出端之间；
[0018]所述差分放大电路包括第三晶体管、第四晶体管、第八电阻、第九电阻、第十电阻、第十一电阻、第十二电阻；
[0019]所述第八电阻的第一端与所述滤波电路的输出端电连接，所述第八电阻的第二端与所述第三晶体管的基极电连接；
[0020]所述第九电阻的第一端与所述第四晶体管的集电极电连接并接收直流稳压信号，所述第九电阻的第二端与所述第三晶体管的集电极、所述第十电阻的第一端以及所述共射放大电路的输入端电连接，所述第十电阻的第二端接地；
[0021]所述第三晶体管的发射极、所述第四晶体管的发射极与所述第十一电阻的第一端电连接，所述第十一电阻的第二端接收直流参考信号；
[0022]所述第四晶体管的基极与第十二电阻的第一端电连接，所述第十二电阻的第二端接地。
[0023]可选的，所述适用于微小信号的分析放大电路还包括：直流稳压电路；
[0024]所述直流稳压电路用于将市电电源的交流电源信号转换为直流稳压信号，并将所述直流稳压信号输出至所述信号放大电路；
[0025]其中，所述信号放大电路、所述滤波电路以及所述直流稳压电路均集成于同一电路板中。
[0026]可选的，所述直流稳压电路包括降压电路、整流电路和稳压电路；
[0027]所述降压电路用于对所述市电电源提供的交流电源信号进行降压后，输出降压后的交流信号；
[0028]所述整流电路用于对所述降压后的交流电源信号进行整流，并输出直流电源信号；
[0029]所述稳压电路用于调节直流电源信号的电压，并输出直流稳压信号和/ 或直流参考信号至所述信号放大电路。
[0030]根据本专利技术的另一方面，提供了一种适用于微小信号的分析放大装置，其特征在于，包括：示波器和上述适用于微小信号的分析放大电路；
[0031]所述示波器用于显示所述信号放大电路输出的增益调节信号。
[0032]本专利技术实施例提供的适用于微小信号的分析放大电路设置了被配置为与电子产品内的滤波电容具有同等功效的滤波电路，能够在电子产品内的滤波电容失效时，代替电子产品内失效的滤波电容起到滤波作用，能够滤除电子产品输出的微小信号中包含的干扰信号，避免获取的微小信号由于电子产品内部电路中的滤波电容失效而产生失真，从而在电子产品内的滤波电容失效时，仍能够对电子产品中内部电路的其他器件进行失效性分析，以能够更准确地确定电子产品内部电路的故障元器件，并且在当电子产品中的内部电路的滤波电容没有失效时，该滤波电路也不会对后级电路产生影响，同样能够准确的对电子产品内部电路的电子元器件进行失效性分析；同时，通过设置信号放大电路对滤波后的微小信号进行放大，使示波器能够将放大后的增益调节信号较为清楚的显示出来，从而能够根据较为清楚的信号波形对电子产品内部电路的电子元器件进行失效性分析，有效提高了对电子产品内部电路的失效性分析的准确性。
[0033]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
[0034]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种适用于微小信号的分析放大电路，其特征在于，包括：滤波电路，被配置为与电子产品内的滤波电容具有同等功效；所述滤波电路用于对所述电子产品做失效性分析时输出的微小信号进行滤波；信号放大电路，用于对滤波后的所述微小信号进行增益调节，并输出增益调节信号。2.根据权利要求1所述的适用于微小信号的分析放大电路，其特征在于，所述滤波电路包括至少一个第一电容；所述第一电容适配于所述电子产品内的滤波电容；所述第一电容的一端与所述电子产品的微小信号输出端电连接，所述第一电容的另一端接地。3.根据权利要求2所述的适用于微小信号的分析放大电路，其特征在于，所述第一电容为程控电容。4.根据权利要求1所述的适用于微小信号的分析放大电路，其特征在于，所述信号放大电路包括共射放大电路和共集放大电路；所述共射放大电路的输入端与所述滤波电路的输出端电连接；所述共射放大电路的输出端与所述共集放大电路的输入端电连接；所述共集放大电路的输出端输出所述增益调节信号。5.根据权利要求4所述的适用于微小信号的分析放大电路，其特征在于，所述共射放大电路包括第一晶体管、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第二电容和第三电容；所述第二电容的第一端与所述滤波电路的输出端电连接，所述第一晶体管的基极与所述第二电容的第二端、所述第一电阻的第一端和所述第二电阻的第一端电连接，所述第一电阻的第二端接收直流稳压信号，所述第二电阻的第二端接地；所述第三电阻的第一端接收所述直流稳压信号，所述第三电阻的第二端与所述第一晶体管的集电极电连接；所述第四电阻的第一端与所述第一晶体管的发射极电连接，所述第四电阻的第二端与所述第五电阻的第一端和所述第三电容的第一端电连接，所述第五电阻的第二端和所述第三电容的第二端均接地；所述共集放大电路包括第二晶体管、第六电阻、第七电阻和第四电容；所述第二晶体管的基极与所述第一晶体管的集电极和所述第三电阻的第二端电连接，所述第二晶体管的集电极接收所述直流稳压信号，所述第二晶体管的发射极与所述第六电阻的第一端和所述第四电容的第一端电连接，所述第六电阻的第二端接地，所述第四电容的第二端与所述第七电阻的第一端电连接...
【专利技术属性】
技术研发人员：褚俊泽，张军，智强，谢锦阳，闫合，张健，唐昊，
申请(专利权)人：立臻精密智造昆山有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。