一种用于衰减器生产测试的系统载台技术方案

本实用新型专利技术提供一种用于衰减器生产测试的系统载台，包括载台、探针架、移动组件和升降组件，所述载台的两侧分别设置有可活动的探针架，所述探针架上设置有探针，所述载台两侧的探针架上的探针相对布置，所述移动组件设置在探针架下方用于驱动探针架前后左右移动，所述升降组件设置在移动组件下方用于驱动探针架的升降。的升降。的升降。

【技术实现步骤摘要】
一种用于衰减器生产测试的系统载台


[0001]本技术涉及衰减器检测领域，特别是一种用于衰减器生产测试的系统载台。

技术介绍

[0002]电子元器件是现在常用的一种用于电子设备的小型零件，元器件在生产使用过程中往往需要进行多方面检测。在通常情况下，对元器件的测试需要使用微带线电路板进行焊接测试，但因为元器件的尺寸多种多样，在采用微带线电路板进行焊接测试的过程中，不同尺寸的元器件需要采用对应尺寸的微带线电路板，不仅需要更换进行测试的夹具，还要更换电路板，拆装过程十分繁琐，会浪费大量的时间，同时因为拆装时微带线电路板为人工拆装，往往有可能会出现因为安装过程的失误导致的测试误差。

技术实现思路

[0003]本技术的主要目的是克服现有技术的缺点，提供一种可以三维移动，且采用探针进行测试，在检测不同尺寸的元器件时不需要复杂的拆卸过程即可快速适配各种二端口的微波产品测试的用于衰减器生产测试的系统载台。
[0004]本技术采用如下技术方案：
[0005]一种用于衰减器生产测试的系统载台，其特征在于：包括载台、探针架、移动组件和升降组件，所述载台的两侧分别设置有可活动的探针架，所述探针架上设置有探针，所述载台两侧的探针架上的探针相对布置，所述移动组件设置在探针架下方用于驱动探针架前后左右移动，所述升降组件设置在移动组件下方用于驱动探针架的升降。
[0006]进一步地，所述探针架朝向载台的一侧延伸形成有两防护块，所述两防护块平行间隔布置，所述探针设置在两防护块之间。
[0007]进一步地，载台上设置有两根定位柱，所述两根定位柱分别设置在载台的前端和后端。
[0008]进一步地，所述移动组件包括两个调位器，两个调位器相互堆叠设置，两个调位器分别用于调整探针架左右方向与前后方向的位移量。
[0009]进一步地，所述调位器包括第一移动台和第二移动台，所述第一移动台和第二移动台通过移动滑轨连接，第一移动台和第二移动台之间设置有弹簧和移动微调器，所述移动微调器包括移动顶块和移动调杆，移动顶块和移动调杆分别与第一移动台和第二移动台连接，弹簧连接第一移动台和第二移动台，弹簧使第一移动台和第二移动台具有一个相互错开的力并且使移动顶块与移动调杆相互挤压。
[0010]进一步地，所述第一移动台与第二移动台通过移动滑轨连接后，两者之间形成有容纳安装弹簧的空间，第一移动台在该空间内向上凸出形成有第一拉杆，第二移动台在该空间内向下凸出形成有第二拉杆，弹簧两端分别挂于第一拉杆和第二拉杆上，弹簧的施力方向与移动滑轨的运动方向平行。
[0011]进一步地，所述升降组件包括第一升降台和第二升降台，所述第一升降台和第二
升降台通过升降滑轨连接，第一升降台和第二升降台之间设置有升降微调器，所述升降微调器包括升降顶块和升降调杆，升降顶块和升降调杆分别于第一升降台和第二升降台连接，所述升降滑轨的运动方向为竖直方向。
[0012]进一步地，所述所述第二升降台顶面延伸形成有承接面，所述承接面大小与移动组件的底面大小相等，移动组件的底面承接于承接面上使移动组件堆叠于升降组件上。
[0013]由上述对本技术的描述可知，与现有技术相比，本技术的有益效果是：采用探针式可移动端口设计可以很好地适用于各种元器件，免去了元器件对微带线电路板地依赖，使检测过程更将方便，同时采用探针的方式可以减少安装微带线电路板时带来的人为安装测试误差。两个调位器组成的移动组件可以对探针进行前后左右四个方向的位置调节，升降组件则可以对探针进行上下方向的位置调节，使探针架可以进行三维调节，使装置可以适用各种规格的元器件，采用移动调杆和升降调杆进行调节，可以提高调整精度；防护块不仅可以对检测夹具进行定位，同时也可以有效地保护探针，提高探针的使用寿命。
附图说明
[0014]图1是本技术的具体实施方式的整体结构示意图；
[0015]图2是本技术的具体实施方式的部分结构爆炸图，图中示出了移动组件和升降组件的具体结构；
[0016]图3是本技术的探针架的结构示意图。
[0017]图中：1.载台，10.定位柱，2.探针架，20.探针，21.防护块，22.接线器，3.移动组件，30.调位器，301.第一移动台，3010.第一拉杆，302.第二移动台，3020.第二拉杆，303.弹簧，304.移动微调器，3040.移动顶块，3041.移动调杆，4.升降组件，40.第一升降台，41.第二升降台，410.承接面，42.升降微调器，420.升降顶块，421.升降调杆。
具体实施方式
[0018]以下通过具体实施方式对本技术作进一步的描述。
[0019]参照图1至图3，本技术的一种用于衰减器生产测试的系统载台，包括载台1、探针架2、移动组件3和升降组件4，所述载台1的两侧分别设置有可活动的探针架2，所述探针架2上设置有探针20，所述载台1两侧的探针架2上的探针20相对布置，所述移动组件3设置在探针架2下方用于驱动探针架2前后左右移动，所述升降组件4设置在移动组件3下方用于驱动探针架2的升降；探针架2朝向载台1的一侧延伸形成有两防护块21，所述两防护块21平行间隔布置，所述探针20设置在两防护块21之间，防护块21不仅可以用于辅助检测夹具的定位，同时也能有效保护探针20，提高探针20的使用寿命；载台1上设置有两根定位柱10，所述两根定位柱10分别设置在载台1的前端和后端，定位柱10用于定位辅助垫片，辅助垫片用于辅助较小的元器件检测，探针架上还设置有接线器22，用于连接检测线路。
[0020]移动组件3包括两个调位器30，两个调位器30相互堆叠设置，两个调位器30分别用于调整探针架2左右方向与前后方向的位移量；调位器30包括第一移动台301、第二移动台302、弹簧303和移动微调器304，所述第一移动台301和第二移动台302通过两套移动滑轨连接，第一移动台301与第二移动台302通过移动滑轨连接后，两者之间形成有容纳安装弹簧303的空间，第一移动台301在该空间内向上凸出形成有第一拉杆3010，第二移动台302在该
空间内向下凸出形成有第二拉杆3020，弹簧303两端分别挂于第一拉杆3010和第二拉杆3020上；移动微调器304包括移动顶块3040和移动调杆3041，移动顶块3040和移动调杆3041分别与第一移动台301和第二移动台302连接，弹簧303使第一移动台301和第二移动台302具有一个相互错开的力并且使移动顶块3040与移动调杆3041相互挤压；弹簧303的施力方向与移动滑轨的运动方向平行，移动顶块3040连接第二移动台302，移动调杆3041连接第一移动台301。
[0021]升降组件4包括第一升降台40和第二升降台41，所述第一升降台40和第二升降台41通过竖直滑轨连接，第一升降台40和第二升降台41之间设置有升降微调器42，所述升降微调器42包括升降顶块420和升降调杆421，升降顶块420和升降调杆421分别与第一升降本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于衰减器生产测试的系统载台，其特征在于：包括载台、探针架、移动组件和升降组件，所述载台的两侧分别设置有可活动的探针架，所述探针架上设置有探针，所述载台两侧的探针架上的探针相对布置，所述移动组件设置在探针架下方用于驱动探针架前后左右移动，所述升降组件设置在移动组件下方用于驱动探针架的升降。2.根据权利要求1所述的一种用于衰减器生产测试的系统载台，其特征在于：所述探针架朝向载台的一侧延伸形成有两防护块，所述两防护块平行间隔布置，所述探针设置在两防护块之间。3.根据权利要求1所述的一种用于衰减器生产测试的系统载台，其特征在于：载台上设置有两根定位柱，所述两根定位柱分别设置在载台的前端和后端。4.根据权利要求1所述的一种用于衰减器生产测试的系统载台，其特征在于：所述移动组件包括两个调位器，两个调位器相互堆叠设置，两个调位器分别用于调整探针架左右方向与前后方向的位移量。5.根据权利要求4所述的一种用于衰减器生产测试的系统载台，其特征在于：所述调位器包括第一移动台和第二移动台，所述第一移动台和第二移动台通过移动滑轨连接，第一移动台和第二移动台之间设置有弹簧和移动微调器，所述移动微调器包括移动顶块和移动调杆，...

【专利技术属性】
技术研发人员：骆杰煌，杨建益，黄星凡，上官江艺，席子钊，
申请(专利权)人：福建毫米电子有限公司，
类型：新型
国别省市：