一种使用激光跟踪仪调整分体设备水平直线度的方法技术

本发明专利技术公开了一种使用激光跟踪仪调整分体设备水平直线度的方法，该方法包括：对分体设备进行取点测量，得到分体设备对应的多个测点的位置数据；利用所述分体设备对应的任意两个测点，拟合一条基准线；基于所述分体设备对应的任意一测点、基准线及大地水平面，建立坐标系；读取在所述坐标系下分体设备对应的其他测点的坐标值；在所述分体设备上设置多个调整点，利用多个调整点调整所述分体设备的位置，使分体设备对应的其他测点的坐标值的直线度偏差值符合要求。本发明专利技术不需要其它辅助测量工具，测量精度高、设备调整准确可靠。设备调整准确可靠。设备调整准确可靠。

【技术实现步骤摘要】
一种使用激光跟踪仪调整分体设备水平直线度的方法


[0001]本专利技术涉及机械设备
，具体涉及一种使用激光跟踪仪调整分体设备水平直线度的方法。

技术介绍

[0002]目前分体设备的直线度主要通过拉设钢丝进行测量，受到钢丝本身弯曲和工人技术水平等影响，很难满足精密设备的调整要求，近年来激光跟踪仪测量技术正在不断发展，为解决分体设备直线度测量难题提供了技术手段。
[0003]现有的分体设备的直线度测量方法有：
[0004](1)中国专利CN202110741254.9公开了一种应用最大实体要求任意方向上的直线度快速评定方法，该方法首先获取测量零件测点集，建立分析矩阵你，对分析矩阵及其增广矩阵进行秩分析，进行秩比较，确定寻优方向；求测点与边界的运动向量；根据追及问题求解新的关键点，更新测点状态集元素；进行寻优，求解零件此时的实效尺寸，与最大实体实效尺寸对比，判断基于最大实体要求下任意方向直线度误差合格性。该方法存在操作步骤复杂，并且技术手段也复杂的问题。
[0005](2)中国专利CN202111040697.1公开一种数控机床直线度的补偿调整方法，该方法通过搭建机床参数化分析模型，对机床参数化分析模型进行考虑位姿变化的多工况有限元分析，提取不同设计变量取值时结构件的关键指标响应值，拟合出变形曲线；根据变形曲线计算反变形曲线，并将反变形曲线映射于结构件原加工程序中，生成结构件补偿加工程序，按照补偿加工程序对结构件进行反变形加工，从而实现对机床结构件的直线度调整。该方法也存在操作步骤复杂，并且技术手段也复杂的问题。

技术实现思路

[0006]有鉴于此，本专利技术提出一种使用激光跟踪仪调整分体设备水平直线度的方法，用于分体设备的直线度测量，不需要其它辅助测量工具，测量精度高、设备调整准确可靠。
[0007]本专利技术第一方面提供一种使用激光跟踪仪调整分体设备水平直线度的方法，该方法包括：对分体设备进行取点测量，得到分体设备对应的多个测点的位置数据；利用所述分体设备对应的任意两个测点，拟合一条基准线；基于所述分体设备对应的任意一测点、基准线及大地水平面，建立坐标系；读取在所述坐标系下分体设备对应的其他测点的坐标值；在所述分体设备上设置多个调整点，利用多个调整点调整所述分体设备的位置，使分体设备对应的其他测点的坐标值的直线度偏差值符合要求。
[0008]进一步的，所述分体设备包括第一设备和第二设备，所述第一设备和所述第二设备分别包括相对设置的第一侧和第二侧以及相对设置的第三侧和第四侧。
[0009]进一步的，所述对分体设备进行取点测量的步骤包括：架设激光跟踪仪，并对激光跟踪仪进行调平校准；分别在所述第一设备和第二设备的第一侧和第二侧选取测量点，将所述第一设备和所述第二设备的第一侧和第二侧上的测量点投影到大地水平面上，得到所
述第一设备的第一侧对应的第一测点和第二侧对应第二测点以及所述第二设备的第一侧对应的第三测点和第二侧对应第四测点；采用激光跟踪仪分别测量所述第一测点、所述第二测点、所述第三测点及所述第四测点的位置数据。
[0010]进一步的，所述基准线的拟合方法为：利用所述第一设备的第一侧对应的第一测点的位置数据和所述第二设备的第二侧对应第四测点的位置数据拟合一条基准线。
[0011]进一步的，所述坐标系的建立方法为：选取所述第一设备的第一侧对应的第一测点或所述第二设备的第二侧对应的第四测点作为第一要素，选取基准线作为第二要素，选取大地水平面作为第三要素；基于所述第一设备的第一侧对应的第一测点或所述第二设备的第二侧对应的第四测点、基准线、以及大地水平面构建坐标系。
[0012]进一步的，在所述坐标系下读取所述第一设备的第二侧对应的第二测点和所述第二设备的第一侧对应的第三测点的Y坐标值Y1和Y2。
[0013]进一步的，分别在所述第一设备的第三侧设置第一调整点，在所述第二设备的第三侧设置第二调整点，在所述第一设备的第四侧设置第三调整点，在所述第二设备的第四侧设置第四调整点。
[0014]进一步的，所述第一调整点和所述第二调整点相对设置，所述第三调整点和所述第四调整点相对设置。
[0015]进一步的，所述利用多个调整点调整所述分体设备的位置，使分体设备对应的其他测点的坐标值的直线度偏差值符合要求的步骤包括：通过所述第一调整点、第二调整点、第三调整点和第四调整点调整所述第一设备和所述第二设备的位置，直至将所述第一设备的第二侧对应的第二测点和所述第二设备的第一侧对应的第三测点的Y坐标值Y1和Y2调整归零，使Y坐标值Y1和Y2的偏差值符合要求。
[0016]上述的使用激光跟踪仪调整分体设备水平直线度的方法，首先，通过激光跟踪仪分别对分体设备相对的两侧进行取点测量，并将测量点投影到大地水平面得到投影的测点，利用测点的位置数据，拟合一条基准线；并基于基准线和测点的位置数据，建立坐标系；读取该坐标系下测点的Y坐标值；通过调整点将测点的Y值调整归零，重复进行多次测量、调整，直至分体设备上的两个测点的Y值偏差值符合要求为止，实现对分体设备水平直线度的调整。该方法不需要其它辅助测量工具，测量精度高、设备调整准确可靠。
附图说明
[0017]为了说明而非限制的目的，现在将根据本专利技术的优选实施例、特别是参考附图来描述本专利技术，其中：
[0018]图1是本专利技术提出的一种使用激光跟踪仪调整设备水平直线度的方法流程图；
[0019]图2是分体设备的结构示意图。
具体实施方式
[0020]为了能够更清楚地理解本专利技术的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施例对本专利技术进行详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本专利技术的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0021]在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本专利技术，所描述的实施例仅
仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0022]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本专利技术。
[0023]图1是本专利技术提出的一种使用激光跟踪仪调整设备水平直线度的方法流程图。该使用激光跟踪仪调整设备水平直线度的方法，首先，通过激光跟踪仪分别对分体设备相对的两侧进行取点测量，并将测量点投影到大地水平面得到投影的测点，利用测点的位置数据，拟合一条基准线；并基于基准线和测点的位置数据，建立坐标系；读取该坐标系下分体设备的测点的Y坐标值；通过调整点调整分体设备测点的Y值。
[0024]以分体设备包括第一设备和第二设备为例，对本实施例提出的使用激光跟踪仪调整分体设备水平直线度的方法进行详细说明。
[0025]请参阅附图1，该使用激光跟踪仪调整分体设备水平直线度的方法包括以下步骤：
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种使用激光跟踪仪调整分体设备水平直线度的方法，其特征在于，包括：对分体设备进行取点测量，得到分体设备对应的多个测点的位置数据；利用所述分体设备对应的任意两个测点，拟合一条基准线；基于所述分体设备对应的任意一测点、基准线及大地水平面，建立坐标系；读取在所述坐标系下分体设备对应的其他测点的坐标值；在所述分体设备上设置多个调整点，利用多个调整点调整所述分体设备的位置，使分体设备对应的其他测点的坐标值的直线度偏差值符合要求。2.根据权利要求1所述的使用激光跟踪仪调整分体设备水平直线度的方法，其特征在于，所述分体设备包括第一设备和第二设备，所述第一设备和所述第二设备分别包括相对设置的第一侧和第二侧以及相对设置的第三侧和第四侧。3.根据权利要求2所述的使用激光跟踪仪调整分体设备水平直线度的方法，其特征在于，所述对分体设备进行取点测量的步骤包括：架设激光跟踪仪，并对激光跟踪仪进行调平校准；分别在所述第一设备和第二设备的第一侧和第二侧选取测量点，将所述第一设备和所述第二设备的第一侧和第二侧上的测量点投影到大地水平面上，得到所述第一设备的第一侧对应的第一测点和第二侧对应第二测点以及所述第二设备的第一侧对应的第三测点和第二侧对应第四测点；采用激光跟踪仪分别测量所述第一测点、所述第二测点、所述第三测点及所述第四测点的位置数据。4.根据权利要求3所述的使用激光跟踪仪调整分体设备水平直线度的方法，其特征在于，所述基准线的拟合方法为：利用所述第一设备的第一侧对应的第一测点的位置数据和所述第二设备的第二侧对应第四测点的位置数据拟合一条基准线。5.根据权利要求3所述的使...

【专利技术属性】
技术研发人员：郝俊义，苏保全，
申请(专利权)人：包头钢铁集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：