用于使用陀螺仪的快速磁力计校准的系统和方法技术方案

本公开的实施例涉及用于使用陀螺仪的快速磁力计校准的系统和方法。电子设备包括输出磁力计传感器信号的磁力计和输出陀螺仪传感器信号的陀螺仪。该电子设备包括利用陀螺仪传感器信号校准磁力计的磁力计校准模块。电子设备基于卡尔曼滤波过程生成第一磁力计校准参数。电子设备基于最小平方估计过程生成第二磁力计校准参数。力计校准参数。力计校准参数。

【技术实现步骤摘要】
用于使用陀螺仪的快速磁力计校准的系统和方法


[0001]本公开涉及包括磁力计的电子设备，更具体地，涉及用于校准电子设备中的磁力计的系统和方法。

技术介绍

[0002]许多类型的电子设备利用传感器来确定电子设备的位置和取向。例如，智能电话、智能手表、导航设备、增强现实/虚拟现实眼镜、汽车中的电子罗盘和其他类型的电子设备利用传感器来确定电子设备的位置和取向。
[0003]GPS系统对于确定电子设备在地球上的位置是非常有用的。然而，GPS系统通常不能确定电子设备的取向或朝向。电子设备通常利用磁力计来帮助确定电子设备的取向或朝向。磁力计确定电子设备相对于地球磁场的方向。然而，如果在电子设备附近存在其他磁场源，则磁力计可能提供错误的取向或朝向。

技术实现思路

[0004]本公开的原理提供了一种具有传感器模块的电子设备，其能够快速且准确地校准传感器模块的磁力计。校准过程利用多个单独的校准技术来校准磁力计。每种校准技术都利用陀螺仪传感器信号和磁力计传感器信号来校准磁力计。多种校准技术能够相互增强以确保校准是准确的。
[0005本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种方法，包括：利用电子设备的陀螺仪生成陀螺仪传感器信号；利用所述电子设备的磁力计生成磁力计传感器信号；通过利用所述陀螺仪传感器信号和所述磁力计传感器信号执行卡尔曼滤波过程来估计第一磁力计校准参数；通过利用所述陀螺仪传感器信号和所述磁力计传感器信号执行最小平方过程来估计第二磁力计校准参数；以及通过分析在所述第一磁力计校准参数和所述第二磁力计校准参数之间的收敛来验证所述第一磁力计校准参数和所述第二磁力计校准参数。2.根据权利要求1所述的方法，其中估计所述第一磁力计校准参数包括确定硬铁偏移。3.根据权利要求2所述的方法，其中估计所述硬铁偏移包括部分地基于所述陀螺仪传感器信号来最小化对总磁场的误差约束。4.根据权利要求1所述的方法，其中估计所述第二磁力计校准包括确定硬铁偏移。5.根据权利要求4所述的方法，其中估计所述硬铁偏移包括最小化在磁场的一阶导数和陀螺仪传播的磁场之间的误差。6.根据权利要求1所述的方法，其中验证所述第一磁力计校准参数和所述第二磁力计校准参数包括确定在所述第一磁力计校准参数和所述第二磁力计校准参数之间的差。7.根据权利要求1所述的方法，还包括同时操作卡尔曼滤波器和最小平方过程的多个实例。8.根据权利要求7所述的方法，其中所述卡尔曼滤波器和所述最小平方过程的所述多个实例在时间上彼此偏移。9.根据权利要求8所述的方法，其中同时操作所述卡尔曼滤波器和所述最小平方过程的多个实例包括连续地校准所述磁力计。10.根据权利要求1所述的方法，还包括基于所述第一磁力计校准参数和所述第二磁力计校准参数确定所述电子设备的取向。11.一种电子设备，包括：陀螺仪，被配置为输出陀螺仪传感器信号；磁力计，被配置为输出磁力计传感器信号；磁力计校准模块，被配置为接收所述陀螺仪传感器信号和所述磁力计传感器信号，并且被配置为利用所述陀螺仪传感器信号和所述磁力计传感器信号通过卡尔曼滤波器过程生成第一磁力计校准参数，并且被配置为利用所述陀螺仪传感器信号和所述磁力计传感器信号基于最小平方过程生成第二磁力...

【专利技术属性】
技术研发人员：M，
申请(专利权)人：意法半导体公司，
类型：发明
国别省市：