【技术实现步骤摘要】
一种铟钨氧化物靶材及其制备方法
[0001]本专利技术涉及光电材料
,尤其涉及一种铟钨氧化物靶材及其制备方法。
技术介绍
[0002]透明导电氧化物薄膜(TCO)是一类特殊功能的材料,具有良好的光学性能和导电性,被广泛运用到电子屏幕、触摸屏面板、发光二极管(LED)和太阳能电池等领域。这类材料易于生产,可使用化学气相沉积,磁控溅射和喷雾热解等技术制备。目前最常用的TCO是掺杂锡的氧化铟(铟锡氧化物或ITO)。
[0003]与锡掺杂氧化铟(ITO)和铝掺杂氧化锌(AZO)材料体系相比较,WO3掺杂In2O3材料体系制备的IWO薄膜拥有更高的载流子迁移率,在可见光和近红外波段高透光性和更好的高温及物化稳定性。IWO拥有更高的电子迁移率,因此,可以在不增加载流子浓度(维持高透光率)的情况下进一步提高其优异光电性能。
[0004]同时IWO薄膜还可以用做TFT器件中的沟道层材料,与IGZO薄膜相比,IWO薄膜具有更强耐酸碱的刻蚀性能,因为WO
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除了氢氟酸外不溶于任何酸溶液,IGZO材料中的G ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种铟钨氧化物靶材的制备方法,包括以下步骤:(1)按化学计量比,将氧化铟和氧化钨混合后在氧气氛围中进行煅烧,得到In6WO
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;(2)将所述步骤(1)得到的In6WO
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与氧化铟、水、分散剂和粘结剂混合,得到IWO浆料;(3)将所述步骤(2)得到的IWO浆料进行压力注浆,得到IWO素坯;(4)将所述步骤(3)得到的IWO素坯依次进行脱脂处理和台阶变温烧结,得到铟钨氧化物靶材。2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述步骤(1)中煅烧的温度为700~1000℃,煅烧的时间为2~20h。3.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述步骤(2)中In6WO
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的质量为氧化铟质量的1~6%。4.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述步骤(2)中分散剂的质量为In6WO
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和氧化铟总质量的1.2~1.8%。5.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘洋,左仲恒,孙本双,曾学云,王之君,刘苗,陈杰,舒永春,何季麟,
申请(专利权)人:郑州大学,
类型:发明
国别省市:
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