一种半导体制冷片检测设备制造技术

本实用新型专利技术涉及半导体制冷片技术领域，且公开了一种半导体制冷片检测设备，包括底座、机架、检测机构、传送机构、分拣机构和支撑机构，所述机架位于底座的上端，所述检测机构位于机架的上端，所述传送机构位于底座的外端，所述分拣机构位于机架的左端，所述支撑机构位于底座的下端。该半导体制冷片检测设备，在检测检测探头组到不合格工件时，会将不合格信号传输给控制面板，控制面板将信号转化为电信号，并控制打开电动推杆，电动推杆带动推板向右运动，从而可以将不合格的半导体制冷片从传送机构上推出，完成对不合格半导体制冷片的自动分拣，不需要人工进行分拣，提高了半导体制冷片的检测效率，也降低了人工成本。也降低了人工成本。也降低了人工成本。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体制冷片检测设备


[0001]本技术涉及半导体制冷片
，具体为一种半导体制冷片检测设备。

技术介绍

[0002]半导体制冷片，也叫热电制冷片，是一种热泵，它的优点是没有滑动部件，应用在一些空间受到限制，可靠性要求高，无制冷剂污染的场合。
[0003]现有技术中，在对半导体制冷片的性能进行检测时，在检测到不合格的半导体制冷片时，通常需要人为地将不合格的半导体制冷片分拣出来，再对其他的半导体制冷片进行检测，此种分拣方法效率较低，严重影响了半导体制冷片检测的效率。

技术实现思路

[0004](一)解决的技术问题
[0005]本技术的目的在于提供一种半导体制冷片检测设备，以解决上述
技术介绍
中提出现有技术中，在对半导体制冷片的性能进行检测时，在检测到不合格的半导体制冷片时，通常需要人为地将不合格的半导体制冷片分拣出来，再对其他的半导体制冷片进行检测，此种分拣方法效率较低，严重影响了半导体制冷片检测的效率的问题。
[0006](二)技术方案
[0007]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种半本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体制冷片检测设备，包括底座(1)、机架(2)、检测机构(3)、传送机构(4)、分拣机构(5)和支撑机构(6)，其特征在于：所述机架(2)位于底座(1)的上端，所述检测机构(3)位于机架(2)的上端，所述传送机构(4)位于底座(1)的外端，所述分拣机构(5)位于机架(2)的左端，所述支撑机构(6)位于底座(1)的下端；所述分拣机构(5)包括电动推杆(501)、输出杆(502)、推板(503)、控制面板(504)、分拣箱(505)和槽口(506)，所述电动推杆(501)固定安装在机架(2)的左端，所述输出杆(502)固定安装在电动推杆(501)输出端的右端，所述输出杆(502)贯穿机架(2)，所述推板(503)固定安装在输出杆(502)的右端，所述控制面板(504)固定安装在机架(2)左端的上方。2.根据权利要求1所述的一种半导体制冷片检测设备，其特征在于：所述控制面板(504)与电动推杆(501)之间电性连接，所述分拣箱(505)固定安装在机架(2)的下端，所述分拣箱(505)位于传送机构(4)的右端，所述槽口(506)固定设置在底座(1)的上端，所述槽口(506)与分拣箱(505)相连通。3.根据权利要求2所述的一种半导体制冷片检测设备，其特征在于：所述检测机构(3)包括液压缸(301)、传动杆(302)、固定座(303)和检测探头组(304)，所述液压缸(301)固定安装在机架...

【专利技术属性】
技术研发人员：熊妙，
申请(专利权)人：广州偲瑞电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：