下载一种半导体制冷片检测设备的技术资料

文档序号:34040851

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本实用新型涉及半导体制冷片技术领域,且公开了一种半导体制冷片检测设备,包括底座、机架、检测机构、传送机构、分拣机构和支撑机构,所述机架位于底座的上端,所述检测机构位于机架的上端,所述传送机构位于底座的外端,所述分拣机构位于机架的左端,所述支...
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