一种墙面破损的红外识别方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开一种墙面破损的红外识别方法和装置，涉及墙面破损识别领域。为解决统计的墙面破损面积不够准确而发明专利技术。所述墙面破损的红外识别方法，包括：获取目标墙面的温度矩阵；对所述温度矩阵二值化处理，得到二值图；统计在所述二值图中，由预设像素点围设的区域内的像素点的数量；基于所述二值图中所述围设的区域内的像素点的数量，以及单个像素对应的所述目标墙面上的面积，计算所述区域所对应的所述目标墙面上的面积。适用于需要统计墙面破损面积的应用场景。面破损面积的应用场景。面破损面积的应用场景。

An infrared identification method and device for wall damage

【技术实现步骤摘要】
一种墙面破损的红外识别方法和装置


[0001]本专利技术涉及墙面破损识别
尤其是涉及一种墙面破损的红外识别方法和装置。

技术介绍

[0002]砖砌体结构的古建筑在长期的风化、冻融和人为破坏的影响下，会导致墙面上出现一些砌块的破损或缺失。当墙面上砌块的缺失较多时，会使得墙体的受力发生改变，从而使墙体具有坍塌的风险。所以在对这些建筑进行安全性检测及鉴定时，需要统计砌块的损失面积，以综合评估建筑物的安全性。
[0003]一般情况下，通过人工计量的方式统计砌块的损失面积，且人工计量采用的是估算的方法统计砌块的损失面积，对于墙面缺损程度的判定很大程度上取决于检测人员的经验。这种检测方法统计的砌块损失面积不够准确。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术实施例提供一种墙面破损的红外识别方法和装置，可以在一定程度上增强统计的墙面破损面积的准确性。
[0005]为达到上述目的，本专利技术的实施例采用如下技术方案：
[0006]本专利技术实施例提供一种墙面破损的红外识别方法，包括：获取目标墙面的温度矩阵；对所述温度矩阵二值化处理，得到二值图；统计在所述二值图中，由预设像素点围设的区域内的像素点的数量；基于所述二值图中所述围设的区域内的像素点的数量，以及单个像素对应的所述目标墙面上的面积，计算所述区域所对应的所述目标墙面上的面积。
[0007]根据本专利技术实施例的一种具体实现方式，所述对所述温度矩阵二值化处理，得到二值图，包括：获取所述温度矩阵中各温度值的温度变化率，得到温度变化率矩阵；将所述温度变化率矩阵中各所述温度变化率与预设温度变化率阈值比较；若一温度值的温度变化率大于预设温度变化率阈值，则将该温度变化率赋值为1或0，得到二值矩阵；将所述二值矩阵表示为二值图。
[0008]根据本专利技术实施例的一种具体实现方式，所述获取所述温度矩阵中各温度值的温度变化率，包括：求解所述温度矩阵的偏导数，得到各温度值的温度变化率。
[0009]根据本专利技术实施例的一种具体实现方式，在得到所述目标墙面的二值图之后，所述方法还包括：将以所述二值图中的预设像素点为中心的像素点转化为预设色，得到符合第一预设形状的由预设像素点构成的区域。
[0010]根据本专利技术实施例的一种具体实现方式，在获取目标墙面的温度矩阵之后，所述方法还包括：测量拍摄所述红外热像图的红外热像仪的镜头和所述目标墙面之间的水平距离，获取所述目标墙面所处环境的温度值和湿度值；基于所述水平距离和所述温度值及湿度值，对所述温度矩阵进行校正。
[0011]根据本专利技术实施例的一种具体实现方式，所述对所述温度矩阵二值化处理，得到
二值图之后，所述方法还包括：将所述二值图中，由预设像素点围设的区域内的像素点转化为预设像素点。
[0012]根据本专利技术实施例的一种具体实现方式，在将所述二值图中，统计在所述二值图中，由预设像素点围设的区域内的像素点的数量之前，所述方法还包括：对所述区域进行降噪处理，得到符合第二预设形状的区域。
[0013]第二方面，本专利技术实施例提供一种墙面破损的红外识别装置，包括：温度获取模块，用于获取目标墙面的温度矩阵；二值化模块，用于对所述温度矩阵二值化处理，得到二值图；像素点统计模块，用于统计在所述二值图中，由预设像素点围设的区域内的像素点的数量；面积计算模块，用于基于所述二值图中所述围设的区域内的像素点的数量，以及单个像素对应的所述目标墙面上的面积，计算所述区域所对应的所述目标墙面上的面积。
[0014]根据本专利技术实施例的一种具体实现方式，所述二值化模块具体用于：获取所述温度矩阵中各温度值的温度变化率，得到温度变化率矩阵；将所述温度变化率矩阵中各所述温度变化率与预设温度变化率阈值比较；若一温度值的温度变化率大于预设温度变化率阈值，则将该温度变化率赋值为1或0，得到二值矩阵；将所述二值矩阵表示为二值图。
[0015]根据本专利技术实施例的一种具体实现方式，所述获取所述温度矩阵中各温度值的温度变化率，包括：求解所述温度矩阵的偏导数，得到各温度值的温度变化率。
[0016]根据本专利技术实施例的一种具体实现方式，还包括像素点转化模块，用于将以所述二值图中的预设像素点为中心的像素点转化为预设色，得到符合第一预设形状的由预设像素点构成的区域。
[0017]根据本专利技术实施例的一种具体实现方式，还包括校正模块，用于测量拍摄所述红外热像图的红外热像仪的镜头和所述目标墙面之间的水平距离，获取所述目标墙面所处环境的温度值和湿度值；基于所述水平距离和所述温度值及湿度值，对所述温度矩阵进行校正。
[0018]根据本专利技术实施例的一种具体实现方式，还包括像素点转化模块，用于将所述二值图中，由预设像素点围设的区域内的像素点转化为预设像素点。
[0019]根据本专利技术实施例的一种具体实现方式，还包括降噪模块，用于对所述区域进行降噪处理，得到符合第二预设形状的区域。
[0020]本专利技术实施例提供的墙面破损的红外识别方法和装置，通过对目标墙面的温度矩阵做二值化处理，能够得到具有由预设像素点构成的墙面破损边缘标识的二值图；基于二值图中的墙面破损边缘标识，可以得到二值图中墙面破损对应的像素点数量；基于墙面破损对应的像素点数量和单个像素对应的所述目标墙面上的面积，可以得到在目标墙面上的墙面破损面积。相比于人工计量目标墙面上的墙面破损面积，本专利技术实施例提供的墙面破损的红外识别方法可以在一定程度上增强统计的墙面破损面积的准确性。
附图说明
[0021]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0022]图1为本专利技术一实施例墙面破损的红外识别方法的流程示意图；
[0023]图2为本专利技术一实施例墙面破损的红外识别装置的模块示意图；
[0024]图3为本专利技术一实施例墙面破损的红外识别装置的目标墙面的破损的示意图；
[0025]图4为本专利技术一实施例墙面破损的红外识别装置的测量目标墙面的示意图；
[0026]图5为本专利技术一实施例墙面破损的红外识别装置的测量目标墙面的结果的示意图。
具体实施方式
[0027]下面结合附图对本专利技术实施例进行详细描述。
[0028]应当明确，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0029]参看图1所示，本专利技术实施例提供的墙面破损的红外识别方法，包括：
[0030]S01、获取目标墙面的温度矩阵。
[0031]获取目标墙面的温度矩阵，是指获取目标墙面上各点的温度值，将各点的温度值按照各点在墙面上的相对位置关系排列成的矩形阵列。
[0032]可以本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种墙面破损的红外识别方法，其特征在于，包括：获取目标墙面的温度矩阵；对所述温度矩阵二值化处理，得到二值图；统计在所述二值图中，由预设像素点围设的区域内的像素点的数量；基于所述二值图中所述围设的区域内的像素点的数量，以及单个像素对应的所述目标墙面上的面积，计算所述区域所对应的所述目标墙面上的面积。2.根据权利要求1所述的墙面破损的红外识别方法，其特征在于，所述对所述温度矩阵二值化处理，得到二值图，包括：获取所述温度矩阵中各温度值的温度变化率，得到温度变化率矩阵；将所述温度变化率矩阵中各所述温度变化率与预设温度变化率阈值比较；若一温度值的温度变化率大于预设温度变化率阈值，则将该温度变化率赋值为1或0，得到二值矩阵；将所述二值矩阵表示为二值图。3.根据权利要求2所述的墙面破损的红外识别方法，其特征在于，所述获取所述温度矩阵中各温度值的温度变化率，包括：求解所述温度矩阵的偏导数，得到各温度值的温度变化率。4.根据权利要求1所述的墙面破损的红外识别方法，其特征在于，在得到所述目标墙面的二值图之后，所述方法还包括：将以所述二值图中的预设像素点为中心的像素点转化为预设色，得到符合第一预设形状的由预设像素点构成的区域。5.根据权利要求1所述的墙面破损的红外识别方法，其特征在于，在获取目标墙面的温度矩阵之后，所述方法还包括：测量拍摄所述红外热像图的红外热像仪的镜头和所述目标墙面之间的水平距离，获取所述目标墙面所处环境的温度值和湿度值；基于所述水平距离和所述温度值及湿度值，对所述温度...

【专利技术属性】
技术研发人员：王珅，吴婧姝，吕威，朱红光，胡程鹤，徐龙宁，包静，
申请(专利权)人：中冶建筑研究总院有限公司，
类型：发明
国别省市：