微控制器、微控制器的测试方法以及包含微控制器的系统技术方案

本发明专利技术提供一种微控制器的测试方法。测试方法包括：由使用者经由外部的除错工具设定测试条件以及观察点，其中观察点指向微控制器的存储器；由微控制器中的控制电路判断存储器的数据是否满足测试条件；以及当存储器的数据满足测试条件时，由控制电路控制微控制器输出触发信号，其中触发信号用以触发外部的仪器。另外，本发明专利技术还提供一种微控制器及包括微控制器的系统。的系统。的系统。

【技术实现步骤摘要】
微控制器、微控制器的测试方法以及包含微控制器的系统


[0001]本专利技术涉及一种微控制器，且特别是涉及一种应用于微控制器的测试方法。

技术介绍

[0002]相应的测试程序被加载微控制器以对微控制器进行除错。具体来说，测试程序会被加载微控制器去做执行。在这个过程中，常需要外部的仪器去量微控制器产生的信号。通过量测结果来得知测试程序的运行流程是否与预想的相同。
[0003]在除错过程中，可以监视微控制器当中的存储区块。当前述存储区块所储存的数值满足测试程序所设定的测试条件时(例如储存的值大于一阀值)，微控制器可以对应地改变其输出信号(例如从低电压准位转态为高电压准位)，进而触发外部仪器(例如风扇、示波器)进行其相应的功能。设计者可以根据当下量测到的信号的波形、信号的电压状态以及实际量测到的数值，来判断测试结果与预想的是否一致。
[0004]然而，当欲改变测试条件时，测试程序也需要相应改变并重载微控制器。因此，在除错过程中，可能需要多次去更改测试程序。此举不但提高了除错的复杂度，更平添许多变数。因此，需要一种解决手段，以在不需要反复更改测试程序的情况下，完成对微控制器的除错。

技术实现思路

[0005]本专利技术是针对一种微控制器及微控制器的测试方法，以在不需要反复更改测试程序的情况下，完成对微控制器的除错。
[0006]根据本专利技术的实施例，微控制器的测试方法包括：由使用者经由外部的除错工具设定测试条件以及观察点(watchpoint)，其中观察点指向微控制器的存储器；由微控制器中的控制电路判断存储器的数据是否满足测试条件；以及当存储器的数据满足测试条件时，由控制电路控制微控制器输出触发信号，其中触发信号用以触发外部的仪器。
[0007]根据本专利技术的实施例，微控制器的测试方法包括：由使用者经由外部的除错工具设定测试条件以及观察点，其中观察点指向微控制器的存储器；通过除错工具轮询存储器的数据是否满足测试条件；以及当存储器的数据满足测试条件时，由除错工具输出触发信号，其中触发信号用以触发外部的仪器。
[0008]根据本专利技术的实施例，微控制器的测试方法包括：由使用者经由外部的除错工具设定测试条件以及观察点，其中观察点指向微控制器的存储器；通过除错工具读取存储器，并由除错工具判断存储器的数据是否满足测试条件；以及当存储器的数据满足测试条件时，由除错工具输出触发信号，其中触发信号用以触发外部的仪器。
[0009]根据本专利技术的实施例，微控制器包括存储器以及控制电路。控制电路耦接存储器、外部的除错工具以及外部的仪器。控制电路用以判断存储器的数据是否满足测试条件。控制电路并在存储器的数据满足该测试条件时，输出触发信号以触发仪器。其中，测试条件以及观察点由使用者经由外部的除错工具设定，并且观察点指向存储器。
[0010]根据本专利技术的实施例，微控制器包括存储器以及控制电路。控制电路耦接存储器以及外部的除错工具。控制电路用以判断存储器的数据是否满足测试条件。当存储器的数据满足测试条件时，除错工具输出触发信号，触发信号用以触发外部的仪器。其中，测试条件以及观察点由使用者经由除错工具设定，并且观察点指向存储器。
[0011]根据本专利技术的实施例，微控制器包括存储器。存储器用以储存数据以供外部的除错工具进行读取。其中，除错工具用以依据观察点来持续读取存储器的数据，以判断存储器的数据是否满足测试条件。当存储器的数据满足测试条件时，除错工具输出触发信号以触发外部的仪器。其中，测试条件以及观察点由使用者经由除错工具设定，并且观察点指向存储器。
[0012]根据本专利技术的实施例，包含微控制器的系统包括上述微控制器、除错工具以及仪器。除错工具耦接微控制器。仪器耦接微控制器与除错工具。
[0013]基于上述，本专利技术可以通过除错工具来设定观察点与测试条件，使微控制器、除错工具以及仪器达到连动的效果。最重要的是，当需要更改测试条件时，使用者只需要通过除错工具来更改测试条件即可，而不需要通过去修改已加载微控制器的测试程序的方式来进行测试。因此，除错的复杂度可以被降低。并且，可以不需要在反复更改测试程序的情况下，就能完成对微控制器的除错。
附图说明
[0014]图1A示出本专利技术第一实施例的微控制器的电路方块图。
[0015]图1B示出本专利技术第一实施例的微控制器的测试方法的步骤流程图。
[0016]图1C示出本专利技术第一实施例的微控制器的控制电路的电路示意图。
[0017]图1D示出在第一实施例下控制电路的另一种实施型态的电路示意图。
[0018]图2A示出本专利技术第二实施例的微控制器的电路方块图。
[0019]图2B示出本专利技术第二实施例的微控制器的测试方法的步骤流程图。
[0020]图3A示出本专利技术第三实施例的微控制器的电路方块图。
[0021]图3B示出本专利技术第三实施例的微控制器的测试方法的步骤流程图。
具体实施方式
[0022]现将详细地参考本专利技术的示范性实施例，示范性实施例的实例说明于附图中。只要有可能，相同元件符号在图式和描述中用来表示相同或相似部分。
[0023]图1A示出本专利技术第一实施例的微控制器的电路方块图。图1A绘示出微控制器110、除错工具120以及仪器130。微控制器110与除错工具120相互耦接，微控制器110与仪器130相互耦接。仪器130的数量至少有一个。仪器130可以是风扇和/或示波器。微控制器110包括存储器111、CPU 112、除错接口113、观察点内容114以及控制电路115。除错工具(debugger tool)亦称除错程序、除错器或调试器，是指用于除错的计算机程序及工具。除错工具可以显示出错误所在位置的原始码，并使其于整合开发环境里也能看见，以便排错、除错。
[0024]一使用者可以经由除错工具120来设定观察点与相应的测试条件，其中观察点可以指向微控制器110中的存储器111。观察点与相应的测试条件在除错工具120的用户接口可以一表达式来呈现。观察点与相应的测试条件通过除错接口113被储存至观察点内容
114。也就是说，观察点内容114可包括指向存储器111的地址的信息以及相应的测试条件。详细来说，设定观察点的作用在于监视特定地址(address，可能是一个用来储存特定变量的地址)被CPU 112写入数据或被CPU 112读取数据的状况。在本实施例中，观察点内容114独立于CPU 112被设置，然而本专利技术不以此为限。在其他实施例中，观察点内容114可以是CPU 112的一部分。
[0025]观察点与相应的测试条件通过除错工具120与除错接口113被建立于微控制器110的观察点内容114，并且观察点指向存储器111。CPU 112可以例如一温度传感器感测到的温度值来持续更新存储器111中的数据。CPU 112耦接观察点内容114以及存储器111。在第一实施例中，CPU 112可以依据观察点内容114来监视以及判断存储器111所储存的数据是否满足测试条件(例如存储器本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微控制器的测试方法，其特征在于，适用于微控制器，包括：由使用者经由外部的除错工具设定测试条件以及观察点，其中该观察点指向该微控制器的存储器；由该微控制器中的控制电路判断该存储器的数据是否满足该测试条件；以及当该存储器的数据满足该测试条件时，由该控制电路控制该微控制器输出触发信号，其中该触发信号用以触发外部的仪器。2.根据权利要求1所述的微控制器的测试方法，其特征在于，还包括：在该存储器的数据满足该测试条件时，给定旗标，以作为该控制电路判断该存储器的数据是否满足该测试条件的依据。3.根据权利要求2所述的微控制器的测试方法，其特征在于，还包括：由该使用者经由该除错工具发出选择信号，该控制器依据该选择信号以自多个信号型态中选择一个作为默认信号型态；以及当该旗标由第一状态改变为第二状态时，由该控制电路产生具有该默认信号型态的输出信号作为该触发信号。4.一种微控制器的测试方法，其特征在于，适用于微控制器，包括：由使用者经由外部的除错工具设定测试条件以及观察点，其中该观察点指向该微控制器的存储器；通过该除错工具轮询该存储器的数据是否满足该测试条件；以及当该存储器的数据满足该测试条件时，由该除错工具输出触发信号，其中该触发信号用以触发外部的仪器。5.一种微控制器的测试方法，其特征在于，适用于微控制器，包括：由使用者经由外部的除错工具设定测试条件以及观察点，其中该观察点指向该微控制器的存储器；通过该除错工具读取该存储器，并由该除错工具判断该存储器的数据是否满足该测试条件；以及当该存储器的数据满足该测试条件时，由该除错...

【专利技术属性】
技术研发人员：邱达进，涂结盛，
申请(专利权)人：新唐科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：