【技术实现步骤摘要】
混合物的衍射图案分析方法、装置以及信息存储介质
[0001]本专利技术涉及混合物的衍射图案分析方法、装置以及信息存储介质,并涉及计算X射线衍射的观测图案中所含有的1个或多个已知衍射图案的强度比的技术。
技术介绍
[0002]能够用X射线衍射法来进行混合物的定量分析。实际上所观测到的混合物的衍射图案中,包括重叠的源自各成分的已知衍射图案。在实施定量分析时计算实际上所观测到的衍射图案中的源自各成分的已知衍射图案的强度。若得知这样的强度比,则可使用例如本专利技术人的定量分析的一种方法即Direct Derivation法来计算各成分的重量分数。例如,在下述专利文献1~3中公开了用Direct Derivation法计算各成分的重量分数的方法。
[0003]现有技术文献
[0004]专利文献
[0005]专利文献1:日本再表2017/149913号公报
[0006]专利文献2:日本再表2019/031019号公报
[0007]专利文献3:日本特开2019
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184254号公报 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种混合物的衍射图案分析方法,其特征在于,包括:观测图案获取步骤,获取X射线衍射的观测图案;拟合图案获取步骤,获取第一强度比、第二强度比以及未知图案为拟合参数的拟合图案,该拟合图案包括表示目标成分的已知目标图案乘以所述第一强度比得到的项,以及表示由1个以上剩余成分构成的剩余组的所述未知图案乘以所述第二强度比得到的项;第一拟合步骤,在将所述未知图案设定为初始图案的状态下,通过变更所述第一强度比和所述第二强度比,来使所述拟合图案与所述观测图案拟合;以及第二拟合步骤,在所述第一拟合步骤之后,限制所述第一强度比以及所述第二强度比的变更并变更所述未知图案,来使所述拟合图案与所述观测图案拟合。2.根据权利要求1所述的混合物的衍射图案分析方法,其特征在于,反复多次进行所述第一拟合步骤和所述第二拟合步骤。3.根据权利要求1或2所述的混合物的衍射图案分析方法,其特征在于,所述拟合图案还包括作为拟合参数的临时图案的项,在所述第一拟合步骤中,除了所述第一强度比和所述第二强度比以外,还变更所述临时图案,来使所述拟合图案与所述观测图案拟合,在所述第二拟合步骤中,变更所述未知图案,以使得所述剩余组相关的项吸收所述临时图案的项的至少一部分。4.根据权利要求1或2所述的混合物的衍射图案分析方法,其特征在于,基于所述第一强度比和所述第二强度比来进行所述目标成分的定量分析。5.根据权利要求3所述的混合物的衍射图案分析方法,其特征在于,基于所述第一强度比和所述第二强度比来进行所...
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