用于SECCM高分辨成像的探针单元和控制方法技术

本发明专利技术属于电化学技术领域，公开了一种用于SECCM高分辨成像的探针单元和控制方法，探针单元包括单通道的探针，探针的开孔直径为50

Probe unit and control method for seccm high resolution imaging

【技术实现步骤摘要】
用于SECCM高分辨成像的探针单元和控制方法


[0001]本专利技术属于电化学
，具体的说，是涉及一种用于扫描电化学池显微镜(SECCM)高分辨成像的探针单元和控制方法。

技术介绍

[0002]作为最新一代的扫描电化学探针显微技术，扫描电化学池显微镜(SECCM)可以同时给出样品的形貌学和电化学活性信息，用于直接研究材料结构
‑
活性的关联。它的最大优势是不需要将样品电极浸泡于溶液中，只在局部测量区域实现溶液的短暂接触。此外，探针的制备和表征更加容易，测量过程也更加稳定。同时，SECCM有很好的兼容性，较为容易与其它技术联用。这使得SECCM成为表面和微观尺度电化学测试中强有力的新技术，广泛应用于半导体材料、纳米颗粒、碳基材料、储能材料以及合成制造等领域。
[0003]SECCM的仪器设置包括x
‑
y
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z压电定位器、电流追踪器、波形发生器、数据采集系统和探针。SECCM测试过程中，通过探针末端形成的弯月形液滴针尖与目标区域的短暂接触，获取目标区域的表面形貌和电化学活性信息。通过本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于SECCM高分辨成像的探针单元，包括单通道的探针，其特征在于，所述探针的开孔直径为50
‑
100nm；所述探针由控制模块对其液滴针尖进行控制；所述控制模块用于在进针过程增设最小化的进针电压校正，在进针过程增设最小化的进针速度校正，在电化学测试过程增设最小化的测试电压校正，以及在抬针过程增设最小化的抬起高度校正。2.根据权利要求1所述的一种用于SECCM高分辨成像的探针单元，其特征在于，所述最小化的进针电压校正为：将所述进针的电压值校正为高于阈值电流所需最小电压值0.1
‑
0.4V。3.根据权利要求1所述的一种用于SECCM高分辨成像的探针单元，其特征在于，所述最小化的进针速度校正为：将所述进针的速度校正为0.1
‑
0.3μm s
‑1。4.根据权利要求1所述的一种用于SECCM高分辨成像的探针单元，其特征在于，所述最小化的电化学测试电压校正为：将测试电压校正为高于反应起始电压0.1
‑
0.3V。5.根据权利要求1所述的一种用于SECCM高分辨成像的探针单元，其特征在于，所述最小化的抬起高度校正为：将抬起高度校正为2
‑
4倍的所述探针的直径。6.一种用于SECCM高分辨成像的控制方法，其跳跃模...

【专利技术属性】
技术研发人员：马雷，刘根，李浩，徐宇晨，
申请(专利权)人：天津大学，
类型：发明
国别省市：