【技术实现步骤摘要】
马达控制器
本专利技术涉及一种驱动具有磁铁的同步马达的马达控制器。同步马达包括用于检测马达位置的磁通量检测器。即使在启动或过渡(transition)时,本专利技术的马达控制器也以正弦波驱动来推动(throw)同步马达。
技术介绍
下面参照图17和图18描述传统马达控制器。驱动同步马达涉及(a)检测马达磁极的位置,以及(b)响应于表示马达磁极的位置的磁极信号(CS信号)来控制施加于马达线圈的电流或电压。图17示出三相马达的矩形波驱动。基于三相的磁极信号CS1、CS2和CS3的逻辑,120度的矩形波驱动施加于马达的相U、V和W。通常在该120度周期内供电。图18示出了三相马达的正弦波驱动。正弦波驱动使用(a)CS信号的逻辑的变化点和(b)由单独安装的高分辨率位置检测器如编码器产生的距离变化点的位置信息施加于马达的相U、V和W。在该正弦波驱动中,在180度周期内供电。正弦波驱动由于能够以较少的振动高效地驱动马达而是理想的。然而,如上所述,CS信号简单地以矩形波驱动来推动马达,因此马达控制器需要用于获得位置信息以便以正弦波驱动来推动马达的位置检测器,如编码器。位置检测器应该单独安装,这从成本和尺寸的角度来看不利于马达控制器。在初始启动时,即使包括编码器的马达控制器也被迫以矩形波驱动马达,这是因为在从启动到CS信号的第一变化之间的时间段内不能检测绝对位置。在该时间段内,不能以正弦波驱动马达,并且矩形波驱动是唯一的选择。日本专利申请未审查公开号H10-201284公开了马达的恒速驱动通过划分CS信号的逻辑变化点之间的间隔来允许正弦波驱动。这些间隔由计时器测量,并且 ...
【技术保护点】
一种马达控制器,包括:(a)马达;(b)磁通量检测装置,用于以直接方式和间接方式之一检测所述马达的磁通量;(c)位置检测装置,用于根据由所述磁通量检测装置检测的磁通量的数量,检测所述马达的位置;以及(d)控制 装置,用于使用由所述位置检测装置检测的位置驱动所述马达。
【技术特征摘要】
JP 2001-11-16 351452/20011.一种马达控制器,包括:(a)马达;(b)磁通量检测装置,用于以直接方式和间接方式之一检测所述马达的磁通量;(c)位置检测装置,用于根据由所述磁通量检测装置检测的磁通量的数量,检测所述马达的位置;以及(d)控制装置,用于使用由所述位置检测装置检测的位置驱动所述马达。2.一种马达控制器,包括:(a)马达;(b)磁通量检测装置,用于以直接方式和间接方式之一从所述马达检测三相的磁通量,该三相相互之间各自具有大约120度相差;(c)位置检测装置,用于根据由所述磁通量检测装置检测的磁通量的数量,检测所述马达的位置,所述位置检测装置包括:(c-1)磁通量合计装置,用于合计由所述磁通量检测装置检测的三相的磁通量的数量;(c-2)磁通量中性点校正装置,用于从由所述磁通量检测装置检测的三相的各个磁通量数量中减去由所述磁通量合计装置合计的磁通量数量之和的平均值,以校正各个磁通量数量;(c-3)位置转换装置,用于根据由所述磁通量中性点校正装置校正的磁通量数量,得到所述马达的位置;以及(d)控制装置,用于使用由所述位置检测装置检测的位置驱动所述马达。3.一种马达控制器,包括:(a)马达;(b)磁通量检测装置,用于以直接方式和间接方式之一从所述马达检测三相的磁通量,该三相相互之间各自具有大约120度相差;(c)位置检测装置,用于根据由所述磁通量检测装置检测的磁通量的数量,检测所述马达的位置,所述位置检测装置包括:(c-1)平方磁通量合计装置,用于合计由所述磁通量检测装置检测的三相的磁通量的平方量;(c-2)磁通量映射装置,用于采用所述平方磁通量合计装置,将由所述磁通量检测装置检测的三相的各个磁通量数量校正成三相位置信号;(c-3)位置转换装置,用于根据由所述磁通量映射装置校正的三相位置信号,得到所述马达的位置;以及(d)控制装置,用于使用由所述位置检测装置检测的位置驱动所述马达。4.如权利要求3所述的马达控制器,其中所述磁通量映射装置将由所述磁通量检测装置检测的三相的各个磁通量的数量除以来自所述平方磁通量合计装置的输出的平方根,从而将各个磁通量的数量校正成三相位置信号。5.如权利要求3所述的马达控制器,其中所述磁通量映射装置将由所述磁通量检测装置检测的三相的各个磁通量的平方量除以来自所述平方磁通量合计装置的输出,从而将各个磁通量的数量校正成三相位置信号。6.一种马达控制器,包括:(a)马达;(b)磁通量检测装置,用于以直接方式和间接方式之一从所述马达检测三相的磁通量,该三相相互之间各自具有大约120度相差;(c)位置检测装置,用于根据由所述磁通量检测装置检测的磁通量的数量,检测所述马达的位置,所述位置检测装置包括:(c-1)磁通量合计装置,用于合计由所述磁通量检测装置检测的三相的磁通量的数量;(c-2)磁通量中性点校正装置,用于从由所述磁通量检测装置检测的三相的各个磁通量数量中减去由所述磁通量合计装置合计的磁通量数量之和的平均值,以校正各个磁通量数量;(c-3)平方磁通量合计装置,用于合计由所述磁通量中性点校正装置校正的磁通量的平方量;(c-4)磁通量映射装置,用于采用所述平方磁通量合计装置,将由所述磁通量检测装置检测的三相的各个磁通量数量校正成三相位置信号;(c-5)位置转换装置,用...
【专利技术属性】
技术研发人员:松浦贞裕,加藤康司,
申请(专利权)人:松下电器产业株式会社,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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