基于镜架订制镜片的基弯测算方法技术

技术编号:33890020 阅读:84 留言:0更新日期:2022-06-22 17:24
本发明专利技术提供了一种基于镜架订制镜片的基弯测算方法,工作人员对镜架的内缘弧度进行测量,且镜架包括架体及其内圈卡接的衬片,测量镜架内缘弧度的方法是将衬片固定安装至镜架内缘,然后通过选取衬片的上缘中心位置进行测量,得到镜架的弧度值为A,工作人员根据所选镜片的折射率计算出需要加工光度为F,然后根据加工光度F确认订制基弯E和光度面弯度值G。本发明专利技术所述的基于镜架订制镜片的基弯测算方法,在个性化定制服务中,通过该方法进行镜片基弯测量和计算数据准确,且测算方法适用广泛,能够满足镜架装配要求,使得订制化的镜片基弯数据量化、标准化,满足了不同定制化需求减少制作成本,提高制作效率的需求。提高制作效率的需求。

【技术实现步骤摘要】
基于镜架订制镜片的基弯测算方法


[0001]本专利技术属于镜片制作领域,尤其是涉及一种基于镜架订制镜片的基弯测算方法。

技术介绍

[0002]随着眼镜市场镜架材质、款式的不断更新,TR、薄钢等镜架由于材料弹性高,镜片常规装配后,镜面角、外张角会随着镜片的弧度变化而变化且不易调整,另外一些太阳镜镜架、运动款镜架,由于弧度较大,现今眼镜片基弯多数较小,造成装配困难,因此镜片基弯订制彰显出了其重要性。
[0003]镜片基弯的订制需要通过测量和计算才能确定,那么如何合理的订制镜片基弯,才能满足镜架装配要求,以及在确定镜片基弯时要考虑到的因素,如何确定镜片所需基弯,将不同订制化的镜片基弯数据量化、标准化,以便满足不同定制化需求,减少制作成本、提高制作效率,是目前需要解决的问题。

技术实现思路

[0004]有鉴于此,本专利技术旨在提出一种基于镜架订制镜片的基弯测算方法,以解决现有技术不同定制化需求,制作成本高、制作效率低的问题。
[0005]为达到上述目的,本专利技术的技术方案是这样实现的:
[0006]一种基于镜架订制镜片的基弯测算方法,具体步骤为:工作人员对镜架的内缘弧度进行测量,且镜架包括架体及其内圈卡接的衬片,测量镜架内缘弧度的方法是将衬片固定安装至镜架内缘,然后通过选取衬片的上缘中心位置进行测量,得到镜架的弧度值为A,工作人员根据所选镜片的折射率计算出需要加工光度为F,然后根据加工光度F确认订制基弯E和光度面弯度值G。
[0007]进一步的,所述根据加工光度F确认订制基弯E=F/2+A,后光度面弯度值G=F

E。
[0008]进一步的,所述根据镜片的折射率计算需加工光度F的方法是:根据镜片折射率的基础值和初始光度F1计算镜片的曲率半径。
[0009]进一步的,所述镜片的两个面曲率半径分别是r1、r2,镜片折射率为n,n的基础值是1.523,根据:和计算得出曲率半径是r1、r2,然后按选定镜片折射率代入得出实际加工光度。
[0010]进一步的,所述所述镜片是近视片,F1为近视片的外表面基弯值,F2为近视片内表面的光度面值。
[0011]进一步的,所述所述镜片是远视片,F1为远视片的外表面光度面值,F2为远视片内表面的基弯值。
[0012]相对于现有技术,本专利技术所述的基于镜架订制镜片的基弯测算方法具有以下有益效果:在个性化定制服务中,通过该方法进行镜片基弯测量和计算数据准确,且测算方法适用广泛,能够满足镜架装配要求,使基于镜架订制的镜片基弯不会过大或过小,使得订制化
的镜片基弯数据量化、标准化,满足了不同定制化需求减少制作成本,提高制作效率的需求。
具体实施方式
[0013]需要说明的是,在不冲突的情况下,本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0014]在本专利技术的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本专利技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本专利技术的限制。此外,术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本专利技术的描述中,除非另有说明,“多个”的含义是两个或两个以上。
[0015]在本专利技术的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以通过具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0016]下面将结合实施例来详细说明本专利技术。
[0017]一种基于镜架订制镜片的基弯测算方法,具体步骤为:工作人员对镜架的内缘弧度进行测量,且镜架包括架体及其内圈卡接的衬片,测量镜架内缘弧度的方法是将衬片固定安装至镜架内缘,然后通过选取衬片的上缘中心位置进行测量,得到镜架的弧度值为A,工作人员根据所选镜片的折射率计算出需要加工光度为F,然后根据加工光度F确认订制基弯E和光度面弯度值G。
[0018]根据加工光度F确认订制基弯E=F/2+A,后光度面弯度值G=F

E。
[0019]根据镜片的折射率计算需加工光度F的方法是:根据镜片折射率的基础值和初始光度F1计算镜片的曲率半径。
[0020]镜片的两个面曲率半径分别是r1、r2,镜片折射率为n,n的基础值是1.523,根据:和计算得出曲率半径是r1、r2,,然后按选定镜片折射率代入得出实际加工光度。
[0021]所述镜片是近视片,F1为近视片的外表面基弯值,F2为近视片内表面的光度面值。
[0022]所述镜片是远视片,F1为远视片的外表面光度面值,F2为远视片内表面的基弯值。
[0023]如下为在实际应用中的测算步骤
[0024]一、镜架弧度测量方法:
[0025]测量镜架的弧度时,由于镜圈表面的弧度与镜架沟槽的弧度是存在差异的,所以在日常工作应用中,测量镜架的弧度其实是要测量镜架沟槽的弯度,下面对三种不同测量方法进行对比:
[0026]1.全框、开槽镜架弧度测量:
[0027]⑴
方法一:测量镜圈弧度
[0028]测量镜圈上缘内或外侧;由于镜圈较圆滑,测量值准确度差。
[0029]⑵
方法二:测量衬片、太阳镜镜片
[0030]测量镜片几何中心水平位置;衬片、太阳镜片多是注塑工艺生产,表面平整度差,测量位置不同,测量结果不同,测量值不稳定。
[0031]⑶
方法三:不拆卸镜片测量
[0032]测量镜片镜圈上缘中心位置。
[0033]三种方式测量结果不同,三种方式中方式三,测量值与镜架槽的弯度是最接近的。
[0034]2、打孔架弧度测量:
[0035]⑴
前桩头镜架(适合近视镜片):
[0036]测量位置:衬片前表面,鼻侧桩头与颞侧桩头之间水平线。
[0037]⑵
后桩头镜架(适合远视镜片):
[0038]测量衬片后表面,鼻侧桩头与颞侧桩头之间水平线。
[0039]二、合理的订制镜片基弯:
[0040]1、定制镜片基弯的条件:
[0041]根据眼镜装配中的实际操作经验,需要定制镜片基弯,往往出现在镜架弧度与镜片原设计基弯相差大于2D,加工中通过手动调整尖边位置,仍不能满足加工装配要求时。
[0042]2、定制镜片基弯的注意点:
[0043]在通过定制镜片基弯来满足加工装配要求时,如果完全按照镜架沟槽弧度定制本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.基于镜架订制镜片的基弯测算方法,其特征在于:镜架包括架体及其内圈卡接的衬片,具体步骤为:工作人员将衬片固定安装至镜架内缘,然后通过选取衬片的上缘中心位置进行测量,得到镜架的弧度值为A;工作人员根据所选镜片的折射率计算出需要加工光度为F;然后根据加工光度F确认订制基弯E和光度面弯度值G。2.根据权利要求1所述的基于镜架订制镜片的基弯测算方法,其特征在于:根据加工光度F确认订制基弯E=F/2+A,后光度面弯度值G=F

E。3.根据权利要求1所述的基于镜架订制镜片的基弯测算方法,其特征在于:根据镜片的折射率计算需加工光度F的方法是:根据镜片折...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘健李丽华王婷陈晓琴杨晓艳尹双安世瑾张威
申请(专利权)人:天津市眼科医院视光中心有限公司
类型:发明
国别省市:

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