本发明专利技术公开了一种数控加工中心综合管理控制系统，包括数据掠取单元、数据分析单元、综合回馈单元、控制器、相关记录单元、比较单元、录入单元和显示单元，所述数据掠取单元用于获取对应高温部分的部件的基础模型；所述数据掠取单元用于将基础模型传输到数据分析单元，数据分析单元接收数据掠取单元传输的基础模型；本发明专利技术通过数据掠取单元用于将基础模型传输到数据分析单元，利用数据分析单元对其进行相关获取到部件工作时的温度变化曲线；之后将接触面及其对应的温度变化曲线传输到综合回馈单元，综合回馈单元对温度变化曲线进行数据提取。取。取。
【技术实现步骤摘要】
一种数控加工中心综合管理控制系统
[0001]本专利技术属于热分析领域，涉及机床温度场分析技术，具体是一种数控加工中心综合管理控制系统。
技术介绍
[0002]机床温度场分布是影响热误差的主要因素，并且极其复杂。这就需要在机床上布置大量的温度传感器，用来测量机床运行过程中的实时温度场分布。
[0003]如数控加工中心在高速运转过程中，机床主轴是受热的主要部件，当机床主轴的温度超过允许的范围，会严重影响机床的加工进度，进而降低产品的质量。如中国专利CN201707578U涉及一种机床运行环境实时监控系统，电器柜温度传感器安装于电器柜内，环境温度传感器和环境湿度传感器安装于操作车间内，环境温度传感器、环境湿度传感器、机床内温度传感器、电器柜温度传感器、液位高度传感器和机床气压传感器依次并联再与机床数控电脑连接，提供了可靠的数据支持。
[0004]但是，针对机床温度分析，需要关注一些高温部件；但是针对部件，缺乏一种有效的评估手段，对温度进行综合测评，借助相关分析，得到一定结果；为了弥补这一缺陷，现提供一种解决方案。
技术实现思路
[0005]本专利技术的目的在于提供一种数控加工中心综合管理控制系统。
[0006]本专利技术的目的可以通过以下技术方案实现：
[0007]一种数控加工中心综合管理控制系统，包括数据掠取单元、数据分析单元、综合回馈单元、控制器、相关记录单元、比较单元、录入单元和显示单元；
[0008]其中，所述数据掠取单元用于获取对应高温部分的部件的基础模型，基础模型即为根据对应部件本身构造和构建的模型，包括材质和相关导热系数等内容；
[0009]所述数据掠取单元用于将基础模型传输到数据分析单元，数据分析单元接收数据掠取单元传输的基础模型，并对部件进行相关分析，得到部件对应的温度曲线信息；
[0010]数据分析单元用于将部件及其对应的温度曲线信息传输到综合回馈单元，所述综合回馈单元接收数据分析单元传输的温度曲线信息，并对其进行数据提取，得到部件及其对应的常规温度区间G1和下限耐受值P1；
[0011]所述综合回馈单元用于将部件及其对应的常规温度区间G1和下限耐受值P1；所述控制器用于将部件及其对应的常规温度区间G1和下限耐受值P1；输到相关记录单元进行实时存储；
[0012]所述录入单元用于录入部件的材料构成，并自动根据材料构成获取到其最高的温度顶值，温度顶值即为最高的温度耐受值，并将温度顶值标记为D1；所述控制器用于将接触面J1及其对应的温度顶值D1传输到比较单元，所述比较单元用于结合相关记录单元进行容限分析，容限分析具体步骤为：
[0013]S1：获取到所有的部件；
[0014]S2：自动获取到该温度顶值D1，及其对应的常规温度区间G1和下限耐受值P1；
[0015]S3：当D1低于下限耐受值P1时，产生失败信号；
[0016]当D1处于对应的常规温度区间G1及其以上时，产生胜任信号；
[0017]当D1大于P1，且低于常规温度区间G1的最低值时，产生临时信号；
[0018]S4：获取到下一部件，重复步骤S2
‑
S3的处理步骤；
[0019]S6：自动获取失败信号、胜任信号和临时信号的个数，并依次计算对应个数占总个数的比例，将得到的比例依次标记为失败占比、胜任占比和临时占比；
[0020]S7：当失败占比大于0时，产生不合格信号；
[0021]当临时信号占比超过X2时，产生不合格信号；X2为预设数值；
[0022]当胜任占比超过X3时，产生完美信号，若失败占比大于0则同样产生不合格信号；X3为预设值；
[0023]其余情况均产生可用信号。
[0024]进一步地，相关分析的具体步骤为：
[0025]S01：选定一起热点，起热点即为开始进入高温部件的位置；
[0026]S02：之后依次选定距离值为J1、J2、J3数值的位置点各一处；J1、J2、J3为管理人员预设值；
[0027]S03：各自计算J1、J2、J3占三者和值的比例，依次标记为占比一B1、占比二B2和占比三B3；
[0028]S04：导入高温部件后，每间隔30S获取一次三个位置点的温度信息；
[0029]S05：将三个位置点的温度信息依次乘以对应的占比一B1、占比二B2和占比三B3，之后计算结果的和值，将其标记为视为温度；
[0030]S06：自动获取得到关于时间的部件的视为温度变化曲线，将其标记为温度曲线信息。
[0031]进一步地，数据提取的具体步骤为：
[0032]步骤一：获取到部件及其对应的温度曲线信息；
[0033]步骤二：获取到该曲线的初始值和峰值，将其标记为温度范围段，从初始时刻起，每增长X1个数值的温度，标记为一个温度区间，得到若干个温度区间；X1为管理人员预设数值；
[0034]步骤三：获取到每个温度区间的时间长度占总时间的占比，将占比最高的标记为常规温度区间，将其标记为G1；
[0035]步骤四：获取到实时的温度变化曲线的温度均值，将该值标记为下限耐受值，将其标记为P1。
[0036]进一步地，所述控制器用于根据不合格信号、可用信号将对应的部件标记为故障部件或正常部件；
[0037]所述控制器用于将故障部件和正常部件传输到显示单元，所述显示单元接收控制器传输的故障部件和正常部件并进行实时显示。
[0038]本专利技术的有益效果：
[0039]本专利技术通过数据掠取单元用于将基础模型传输到数据分析单元，利用数据分析单
元对其进行相关获取到部件工作时的温度变化曲线；之后将接触面及其对应的温度变化曲线传输到综合回馈单元，综合回馈单元对温度变化曲线进行数据提取；
[0040]之后利用录入单元用于录入部件的材料构成，并自动根据材料构成获取到其最高的温度顶值，温度顶值即为最高的温度耐受值；之后控制器用于将温度顶值传输到比较单元，利用比较单元结合相关记录单元进行容分析，得到对应部件温度变化情况，同时通过对一批材料进行分析，得到总体的温度变化情况；本专利技术简单有效，且易于实用。
附图说明
[0041]为了便于本领域技术人员理解，下面结合附图对本专利技术作进一步的说明。
[0042]图1为本专利技术的系统框图。
具体实施方式
[0043]如图1所示，一种数控加工中心综合管理控制系统，包括数据掠取单元、数据分析单元、综合回馈单元、控制器、相关记录单元、比较单元、录入单元和显示单元；
[0044]其中，所述数据掠取单元用于获取对应高温部分的部件的基础模型，基础模型即为根据对应部件本身构造和构建的模型，包括材质和相关导热系数等内容；
[0045]所述数据掠取单元用于将基础模型传输到数据分析单元，数据分析单元接收数据掠取单元传输的基础模型，并对部件进行相关分析，具体相关分析步骤为：
[0046]S01：选定一起热点，起热点即本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种数控加工中心综合管理控制系统，其特征在于，包括：数据掠取单元：其用于获取对应高温部分的部件的基础模型；数据分析单元：其接收基础模型并对部件进行相关分析，得到部件对应的温度曲线信息；综合回馈单元：其对温度曲线信息进行数据提取，得到部件及其对应的常规温度区间G1和下限耐受值P1，并经控制器传输至相关记录单元进行实时存储；比较单元：其用于结合相关记录单元进行容限分析。2.根据权利要求1所述的一种数控加工中心综合管理控制系统，其特征在于，所述比较单元结合相关记录单元进行容限分析具体步骤为：步骤S1：获取到所有的部件；步骤S2：自动获取到第一个部件的温度顶值D1，及其对应的常规温度区间G1和下限耐受值P1；步骤S3：根据温度顶值D1，及其对应的常规温度区间G1和下限耐受值P1的分析产生失败信号、胜任信号、临时信号；步骤S4：获取到下一个部件；步骤S5：重复步骤S2
‑
S3的处理步骤；步骤S6：自动获取失败信号、胜任信号和临时信号的个数，并依次计算对应个数占总个数的比例，将得到的比例依次标记为失败占比、胜任占比和临时占比；步骤S7：当失败占比大于0时，产生不合格信号；当临时信号占比超过X2时，产生不合格信号；X2为预设数值；当胜任占比超过X3时，产生完美信号，若失败占比大于0则同样产生不合格信号；X3为预设值；其余情况均产生可用信号。3.根据权利要求2所述的一种数控加工中心综合管理控制系统，其特征在于，所述步骤S3中根据温度顶值D1，及其对应的常规温度区间G1和下限耐受值P1的分析产生失败信号、胜任信号、临时信号的方法为：当D1低于下限耐受值P1时，产生失败信号；当D1处于对应的常规温度区间G1及其以上时，产生胜任信号；当D1大于P1，且低于常规温度区间G1的最低值时，产生临时信号。4.根据权利要求1所述的一种数控加工中心综合管理控制系统，其特征在于，所述相关分析...
【专利技术属性】
技术研发人员：王海兵，
申请(专利权)人：江苏鸿励数控机床有限公司，
类型：发明
国别省市：
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