一种前散型薄片光束取样滴谱仪校准方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种前散型薄片光束取样滴谱仪校准方法、装置，该方法包括：利用滴谱仪测量具有不同粒子直径的降水粒子所对应的光强信号值，并建立粒径对照表，其中，粒径对照表包括粒子直径集合和测量得到的光强信号值集合，并记录有粒子直径与测量的光强信号值的一一对应关系；利用粒子直径集合和光强信号值集合对预先建立的映射关系函数进行迭代计算，以确定出符合预设收敛条件的映射关系函数的计算参数，其中，映射关系函数为利用计算参数建立的以光强信号值为自变量，以粒子直径为因变量的关系函数。使用该前散型薄片光束取样滴谱仪校准方法无需其他繁琐的复杂逻辑，不仅减少了计算量，还提高了粒子直径与光强信号值之间映射关系函数的准确性。射关系函数的准确性。射关系函数的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种前散型薄片光束取样滴谱仪校准方法及装置


[0001]本专利技术涉及滴谱仪检测
，具体涉及一种前散型薄片光束取样滴谱仪校准方法及装置。

技术介绍

[0002]在气象观测应用领域，毛毛雨、大雨、冰雹、雪花等气象均可以利用雨滴谱仪进行监测，雨滴谱仪是降水微物理特征的重要观测测量仪器，雨滴谱仪可以通过声学、撞击、光学等方式检测。利用光学的检测方法，在现有技术中常采用基于相机对降水粒子直径进行拍摄捕捉以及基于光束取样的光强时间序列进行分析降水粒子直径的方法。基于相机对降水粒子直径进行拍摄捕捉，能够直观的从图像中提取降水粒子尺寸，但处理过程相对复杂，需要从背景中提取目标粒子，再对粒子轮廓进行提取，不仅需要选取均匀的光源，且图像信息量过大，对图像信息的处理要求过高。
[0003]例如：一维线阵成像分析是目前使用较多的方法，而由于一维线阵成像分析方法可以直接获取降水粒径的直接信息，因此，很多时候用户对该方法更具倾向性。而实际上一维线阵成像分析方法在采样较小的降水粒子直径时，其准确性存在较大的局限。
[0004]其次，基于光束取样的光强本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种前散型薄片光束取样滴谱仪校准方法，其特征在于，包括如下步骤：利用滴谱仪测量具有不同粒子直径的降水粒子所对应的光强信号值，并建立粒径对照表，其中，所述粒径对照表包括粒子直径集合和测量得到的光强信号值集合，并记录有粒子直径与测量的光强信号值的一一对应关系；利用所述粒子直径集合和所述光强信号值集合对预先建立的映射关系函数进行迭代计算，以确定出符合预设收敛条件的映射关系函数的计算参数，其中，所述映射关系函数为利用所述计算参数建立的以光强信号值为自变量，以粒子直径为因变量的关系函数。2.根据权利要求1所述的前散型薄片光束取样滴谱仪校准方法，其特征在于，所述利用所述粒子直径集合和所述光强信号值集合对预先建立的映射关系函数进行迭代计算，以确定出符合预设收敛条件的映射关系函数的计算参数，包括：步骤a，建立初始映射关系函数，确定所述初始映射关系函数的计算参数的参数类型；步骤b，选取所述粒径对照表中的多组训练数据，代入所述初始映射关系函数，得到多项关于所述计算参数的关系式；步骤c，利用所述多项关于所述计算参数的关系式，求解得到所述计算参数，得到中间映射关系函数；步骤d，从所述粒径对照表中选取多组光强数据，代入到所述中间映射关系函数进行计算，得到所述多组光强数据对应的粒子直径计算值，其中，所述多组光强数据为不同于所述多组训练数据中的光强数据；步骤e，计算所述多组光强数据对应的实际粒子直径与所述粒子直径计算值的均方差；重复执行以上步骤a至步骤e，直到计算得到的所述均方差小于预设阈值，将对应的中间映射关系函数作为最终的映射关系函数。3.根据权利要求2所述的前散型薄片光束取样滴谱仪校准方法，其特征在于，所述计算所述多组光强数据对应的实际粒子直径与所述粒子直径计算值的均方差，包括：分别计算每组光强数据对应的实际粒子直径与所述粒子直径计算值之间的误差，获得多个误差项；分别将所述误差项平方后之后求平均值，得到所述均方差。4.根据权利要求2所述前散型薄片光束取样滴谱仪校准方法，其特征在于，通过以下公式计算得到所述均方差：其中，D
eq
‑
im
(i,j)为第i组第j个实际粒子直径，D
eq
‑
fit
(i,j)为...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑峰，刘丽莹，杨礼艳，陈佳力，李媛媛，
申请(专利权)人：航天新气象科技有限公司，
类型：发明
国别省市：