干粉颗粒分析仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种干粉颗粒分析仪。所述干粉颗粒分析仪包括人机交互单元、处理控制单元和执行单元。处理控制单元与人机交互单元通信连接。执行单元与处理控制单元通信连接并且包括由处理控制单元控制的样品平台、光源和线阵相机。干粉颗粒分析仪还包括拍摄暗箱，光源布置在拍摄暗箱内，样品平台能够在所述处理控制单元的控制下进出所述拍摄暗箱，在拍摄暗箱内，线阵相机能够在光源的配合下获取样品的图像并将图像传入处理控制单元进行计算分析。这种干粉颗粒分析仪提高了效率、降低了误差。降低了误差。降低了误差。

【技术实现步骤摘要】
干粉颗粒分析仪


[0001]本技术涉及干粉颗粒测量
；具体而言，本技术涉及一种干粉颗粒分析仪。

技术介绍

[0002]根据测量要求不同，目前得到广泛应用的各种颗粒粒径测量仪器的种类很多，相应的颗粒测量方法也有很多。按照测量的基本工作原理可以分为直接法和间接法两大类。直接法是根据颗粒的几何尺寸测定，如筛分法和显微镜法；而根据某种物理规律测定颗粒在某些因素影响下所具有的某一物理量，再换算成具有相同数值的同一物理量的球体的直径，用它代表粒子的大小，称为间接法，如沉降法、电感应法、光散射法等。
[0003]在上述仪器和方法中，直接法操作步骤繁琐，测量效率低；间接法则不能对单个颗粒物进行分析，且只适合对接近球形的颗粒进行检测，对于非球形颗粒的测量误差较大。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本技术提供了干粉颗粒分析仪，从而解决或者至少缓解了现有技术中存在的上述技术问题和其它方面问题中的一个或多个。
[0005]根据本技术的一个方面，提供了一种干粉颗粒分析仪，其中，所述干粉颗粒分析仪包括：
[0006]人机交互单本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种干粉颗粒分析仪，其特征在于，所述干粉颗粒分析仪包括：人机交互单元，所述人机交互单元包括输入设备和输出设备；处理控制单元，所述处理控制单元与所述人机交互单元通信连接，从所述输入设备接收数据并从所述输出设备输出信息；执行单元，所述执行单元与所述处理控制单元通信连接并且包括由所述处理控制单元控制的样品平台(4)、光源和线阵相机，其中，所述干粉颗粒分析仪还包括拍摄暗箱(9)，所述光源布置在所述拍摄暗箱(9)内，所述样品平台(4)能够在所述处理控制单元的控制下进出所述拍摄暗箱(9)，在所述拍摄暗箱(9)内，所述线阵相机能够在所述光源的配合下获取样品的图像并将所述图像传入所述处理控制单元进行计算分析。2.如权利要求1所述的干粉颗粒分析仪，其中，所述输入设备包括键盘、触屏和/或鼠标，所述输出设备包括显示器。3.如权利要求1所述的干粉颗粒分析仪，其中，所述处理控制单元包括用于从所述线阵相机采集图像并且进行计算分析的中央计算处理器。4.如权利要求3所述的干粉颗粒分析仪，其中，所述处理控制单元包括用于控制所述执行单元的下位机(2)。5.如权利要求4所述的干粉颗粒分析仪，其中，所述线阵相...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑俊麟，
申请(专利权)人：米谱科技常州有限公司，
类型：新型
国别省市：