平板探测器、其制作方法及X射线成像系统技术方案

本申请实施例提供了一种平板探测器、其制作方法及X射线成像系统。该平板探测器包括显示区和包围显示区的边框区，显示区包括位于其边缘的待改善区域，该平板探测器包括显示基板、垫高结构以及闪烁体层，显示基板包括衬底、器件层以及平坦化层；垫高结构位于平坦化层远离衬底的一面上且在衬底上的正投影至少覆盖待改善区域；闪烁体层覆盖垫高结构和平坦化层，且包括平坦部分和位于平坦部分周围的梯度部分，其中，梯度部分在衬底上的正投影与垫高结构在衬底上的正投影无交叠。本实施例通过在显示基板上形成垫高结构，利用垫高结构降低阴影效应对待改善区域内的影响，从而提升待改善区域内的闪烁体层的厚度的均一性，提升了平板探测器的显示效果。探测器的显示效果。探测器的显示效果。

【技术实现步骤摘要】
平板探测器、其制作方法及X射线成像系统


[0001]本申请涉及X射线检测
，具体而言，本申请涉及一种平板探测器、其制作方法及X射线成像系统。

技术介绍

[0002]平板探测器可应用于涵盖医疗射线检测领域与工业无损检测领域，无论是生命体特定部位的检测还是钢材缺陷检查，均可利用平板探测器来实现。尤其是平板探测器的X射线的辐射剂量较小，对操作者和待检测者的影响较小。
[0003]平板探测器可分为直接转换型平板探测器和间接转换型平板探测器。其中，间接转换型平板探测器是利用闪烁体涂层将X射线转换为可见光，再利用光电二极管对可见光进行感测以将光信号转换为电信号，再根据电信号生成X线数字影像。间接数字化X线成像的平板探测器对画质的要求尤为严格。
[0004]但本申请的专利技术人发现，目前平板探测器的显示区的边缘处容易出现亮度异常的现象，影响平板探测器的画质。

技术实现思路

[0005]本申请针对现有方式的缺点，提出一种平板探测器、其制作方法及X射线成像系统，用于解决现有技术中平板探测器的显示区的边缘亮度异常的问题。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种平板探测器，包括显示区和包围所述显示区的边框区，所述显示区包括位于所述显示区边缘的待改善区域，其特征在于，所述平板探测器包括：显示基板，包括衬底、位于所述衬底一侧的器件层以及位于所述器件层远离所述衬底一侧的平坦化层；垫高结构，位于所述平坦化层远离所述衬底的一面上，所述垫高结构在所述衬底上的正投影至少覆盖所述待改善区域；闪烁体层，覆盖所述垫高结构和所述平坦化层，且包括平坦部分和位于所述平坦部分周围的梯度部分，其中，所述梯度部分在所述衬底上的正投影与所述垫高结构在所述衬底上的正投影无交叠。2.根据权利要求1所述的平板探测器，其特征在于，所述垫高结构的横截面为弧形。3.根据权利要求2所述的平板探测器，其特征在于，所述垫高结构的宽度d为500μm～2000μm；所述垫高结构的厚度h为d*tanθ，其中，θ为所述闪烁体层的边缘处的坡度角。4.根据权利要求1所述的平板探测器，其特征在于，所述垫高结构的材料为树脂。5.根据权利要求1所述的平板探测器，其特征在于，所述垫高结构在所述衬底上的正投影还覆盖部分所述边框区。6.根据权利要求1所述的平板探测器，其特征在于，所述闪烁体的材料包括碘化铯或硫氧化钆。7.根据权利要求1
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6中任一项所述的平板探测器，其特征在于，所述器件层包括：控制电路层，包括多个呈阵列排布的薄膜晶体管、多条栅极线以及多条数据线，所述薄膜晶体管...

【专利技术属性】
技术研发人员：夏会楠，侯学成，尚建兴，丁志，
申请(专利权)人：北京京东方传感技术有限公司，
类型：发明
国别省市：