红外芯片发码功能测试方法及装置、电子设备和存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种红外芯片发码功能测试方法及装置、电子设备和存储介质，该方法包括以下步骤：通过记录设备记录待测红外发码芯片的按键所发码型的编码格式信息，并将所述编码格式信息传送给测试设备；在所述红外发码芯片测试时，所述测试设备触发相同的按键，并记录所述按键所发码型的编码格式信息；以及所述测试设备判断其记录的编码格式信息和从所述记录设备接收到的编码格式信息的误差是否在所述测试误差内；若是，则所述红外发码芯片的发码功能正常。该方法无论红外集成电路发出来的码型是需要奇偶帧校验的，还是带简码重复功能的，需要测试一帧还是测试多帧，该测试方法都可以准确测试码型正确性，进而判断红外集成电路的功能是否正常。路的功能是否正常。路的功能是否正常。

【技术实现步骤摘要】
红外芯片发码功能测试方法及装置、电子设备和存储介质


[0001]本专利技术是关于芯片测试领域，特别是关于一种红外芯片发码功能测试方法及装置、电子设备和存储介质。

技术介绍

[0002]红外遥控是一种无线、非接触控制技术，具有抗干扰能力强，信息传输可靠，功耗低，成本低，易实现等显著特点，被诸多电子设备特别是家用电器广泛采用，应用中的各种红外遥控系统的原理都大同小异，区别只是在于各系统的信号编码格式不同。遥控编码脉冲对38KHz的载波进行脉冲幅度调制(PAM)后便形成遥控信号，经驱动电路由红外发射管发射出去，红外接收头接收到调制后的遥控信号，经前置放大、限幅放大、带通滤波、峰值检波和波形整形，从而解调出与输入遥控信号反相的遥控脉冲。
[0003]由于各种码型编码格式差异较大，很难做到统一识别其格式。在集成电路的生产过程中，集成电路的功能可能出现异常，因此，在焊接到PCB线路板上之前，都需要对每一颗集成电路进行测试，以确保其功能正确无误。但是由于红外编码码型较多，因此自动测试工具需要经常修改来适应这种变化，给生产测试带来诸多不便。
[0004]红外发码集成电路的传统测试方式是对其发出的红外编码进行完整解码，通过解码得到该次按键的码型、键值、用户码等信息，再判断这些信息是否正确。这种方式要求测试设备具备解码所有红外码型的能力，否则无法判断集成电路的功能是否正确。因此需要不定期的更新解码程序，添加新码型的解码功能，这种方式给生产和维护带来了一定的风险和困难。
[0005]公开于该
技术介绍
部分的信息仅仅旨在增加对本专利技术的总体背景的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。

技术实现思路

[0006]本专利技术的目的在于提供一种红外芯片发码功能测试方法及装置、电子设备和存储介质，解决红外发码集成电路的传统测试方法需要不定期的更新解码程序，添加新码型的解码功能的问题。
[0007]为实现上述目的，本专利技术的实施例提供了一种红外发码芯片发码功能测试的方法。
[0008]在本专利技术的一个或多个实施方式中，所述方法包括：通过记录设备记录待测红外发码芯片的按键所发码型的编码格式信息，并将所述编码格式信息传送给测试设备；在所述红外发码芯片测试时，所述测试设备触发相同的按键，并记录所述按键所发码型的编码格式信息；以及所述测试设备判断其记录的编码格式信息和从所述记录设备接收到的编码格式信息的误差是否在所述测试误差内；若是，则所述红外发码芯片的发码功能正常。
[0009]在本专利技术的一个或多个实施方式中，所述编码格式信息包括：码型每一个有载波部分的时间长度和码型每一个无载波部分的时间长度。
[0010]在本专利技术的一个或多个实施方式中，所述方法还包括：在所述记录设备记录的时长达到总记录时长时，所述记录设备停止记录。
[0011]在本专利技术的一个或多个实施方式中，所述记录设备和所述测试设备可以是同一个设备，所述设备具备载波记录功能和模拟按键功能。
[0012]在本专利技术的另一个方面当中，提供了一种红外发码芯片发码功能测试的装置，其包括记录模块和测试模块。
[0013]记录模块，用于通过记录设备记录待测红外发码芯片的按键所发码型的编码格式信息，并将所述编码格式信息传送给测试设备。
[0014]测试模块，用于在所述红外发码芯片测试时，所述测试设备触发相同的按键，并记录所述按键所发码型的编码格式信息；以及所述测试设备判断其记录的编码格式信息和从所述记录设备接收到的编码格式信息的误差是否在所述测试误差内；若是，则所述红外发码芯片的发码功能正常。
[0015]在本专利技术的一个或多个实施方式中，所述记录模块还用于：在所述记录设备记录的时长达到总记录时长时，所述记录设备停止记录。
[0016]在本专利技术的一个或多个实施方式中，所述编码格式信息包括：码型每一个有载波部分的时间长度和码型每一个无载波部分的时间长度。
[0017]在本专利技术的一个或多个实施方式中，所述记录设备和所述测试设备可以是同一个设备，所述设备具备载波记录功能和模拟按键功能。
[0018]在本专利技术的另一个方面当中，提供了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及存储器，所述存储器存储指令，当所述指令被所述至少一个处理器执行时，使得所述至少一个处理器执行如上所述的红外发码芯片发码功能测试的方法。
[0019]在本专利技术的另一个方面当中，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如所述的红外发码芯片发码功能测试的方法的步骤。
[0020]与现有技术相比，根据本专利技术实施方式的红外芯片发码功能测试方法及装置、电子设备和存储介质，其能够通过对记录设备和测试设备记录的编码格式信息比较，进而判断红外发码芯片发码功能是否正常，该方法无需对红外集成电路发出来的码型进行解码，当有新码型时也不需要修改测试程序即可正确测试，无论红外集成电路发出来的码型是需要奇偶帧校验的，还是带简码重复功能的，需要测试一帧还是测试多帧，该测试方法都可以准确测试码型正确性，进而判断红外集成电路的功能是否正常。
附图说明
[0021]图1是根据本专利技术一实施方式的红外发码芯片发码功能测试的方法的流程图；图2是根据本专利技术一实施方式的红外发码芯片发码功能测试的方法的3010码型编码格式示意图；图3是根据本专利技术一实施方式的红外发码芯片发码功能测试的方法的6122码型编码格式示意图；图4是根据本专利技术一实施方式的红外发码芯片发码功能测试的方法的9012码型编码格式示意图；
图5是根据本专利技术一实施方式的红外发码芯片发码功能测试的方法的5104码型编码格式示意图；图6是根据本专利技术一实施方式的红外发码芯片发码功能测试的方法的编码格式信息示意图；图7是根据本专利技术一实施方式的红外发码芯片发码功能测试的装置的结构图；图8是根据本专利技术一实施方式的红外发码芯片发码功能测试的计算设备的硬件结构图。
具体实施方式
[0022]下面结合附图，对本专利技术的具体实施方式进行详细描述，但应当理解本专利技术的保护范围并不受具体实施方式的限制。
[0023]除非另有其它明确表示，否则在整个说明书和权利要求书中，术语“包括”或其变换如“包含”或“包括有”等等将被理解为包括所陈述的元件或组成部分，而并未排除其它元件或其它组成部分。
[0024]以下结合附图，详细说明本专利技术各实施例提供的技术方案。
[0025]实施例1如图1至图6所示，介绍本专利技术的一个实施例中红外发码芯片发码功能测试的方法，该方法包括如下步骤。
[0026]在步骤S101中，通过记录设备记录待测红外发码芯片的按键所发码型的编码格式信息，并将编码格式信息传送给测试设备。
[0027]初始化设置记录设备的总记录时长和允许的测试误差。通过记录设备将待测红外发码芯片的某一按键发送码型的所有信息（编码格式信息）记录下来，码型包括但不限于3010码型、6122码型、90本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种红外发码芯片发码功能测试的方法，其特征在于，所述方法包括：通过记录设备记录待测红外发码芯片的按键所发码型的编码格式信息，并将所述编码格式信息传送给测试设备；在所述红外发码芯片测试时，所述测试设备触发相同的按键，并记录所述按键所发码型的编码格式信息；以及所述测试设备判断其记录的编码格式信息和从所述记录设备接收到的编码格式信息的误差是否在所述测试误差内；若是，则所述红外发码芯片的发码功能正常。2.如权利要求1所述的红外发码芯片发码功能测试的方法，其特征在于，所述编码格式信息包括：码型每一个有载波部分的时间长度和码型每一个无载波部分的时间长度。3.如权利要求1所述的红外发码芯片发码功能测试的方法，其特征在于，所述方法还包括：在所述记录设备记录的时长达到总记录时长时，所述记录设备停止记录。4.如权利要求1所述的红外发码芯片发码功能测试的方法，其特征在于，所述记录设备和所述测试设备可以是同一个设备，所述设备具备载波记录功能和模拟按键功能。5.一种红外发码芯片发码功能测试的装置，其特征在于，所述装置包括：记...

【专利技术属性】
技术研发人员：张飞飞，吴登娥，
申请(专利权)人：苏州华芯微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：