温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种红外芯片发码功能测试方法及装置、电子设备和存储介质，该方法包括以下步骤：通过记录设备记录待测红外发码芯片的按键所发码型的编码格式信息，并将所述编码格式信息传送给测试设备；在所述红外发码芯片测试时，所述测试设备触发相同的按键，...
该专利属于苏州华芯微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州华芯微电子股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。