测试治具制造技术

该实用新型专利技术公开了一种测试治具，包括上治具，所述上治具包括探针定位板、测试板和压板，所述探针定位板用于固定多个探针，所述多个探针的一端从所述探针定位板伸出，所述多个探针的另一端对应连接至所述测试板，所述压板与所述探针定位板连接以将所述测试板固定在所述压板与所述探针定位板之间，并与所述多个探针连接接触；下治具，所述下治具包括底板和用于放置测试部件的放置板，所述放置板固定在所述底板上；所述上治具与所述下治具之间、所述压板与所述测试板之间、所述测试板与所述探针定位板之间、所述底板和所述放置板之间中的至少一处设有密封件。所述测试治具，密封效果好，且拆卸和维修方便。拆卸和维修方便。拆卸和维修方便。

【技术实现步骤摘要】
测试治具


[0001]本技术涉及测试
，具体涉及一种测试治具。

技术介绍

[0002]现有技术的测试治具通过在上治具和下治具四周涂抹硅胶，待硅胶固化后达到密封的作用，然而在涂抹硅胶时很容易不均匀或涂抹不到位而导致产生缺陷而造成漏气，在使用过程中若测试治具漏气，修理周期较长，而且需要刮掉硅胶再重新涂抹，很是不方便，而且现有中测试治具的探针一般与测试板焊接连接，若测试板或单个探针故障时，无法单独拆卸维修，只能整体更换导致测试治具拆卸维修不便。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种测试治具，密封效果好，且拆卸和维修方便。
[0004]根据本技术实施例的测试治具包括上治具，所述上治具包括探针定位板、测试板和压板，所述探针定位板用于固定多个探针，所述多个探针的一端从所述探针定位板伸出，所述多个探针的另一端对应连接至所述测试板，所述压板与所述探针定位板连接以将所述测试板固定在所述压板与所述探针定位板之间，并与所述多个探针连接接触；下治具，所述下治具包括底板和用于放置测试部件的放置板，所述放置板固定在所述底板上；所述上治具与所述下治具之间、所述压板与所述测试板之间、所述测试板与所述探针定位板之间、所述底板和所述放置板之间中的至少一处设有密封件。
[0005]根据本技术的一些实施例，所述上治具与所述下治具之间、所述压板与所述测试板之间、所述测试板与所述探针定位板之间、所述底板和所述放置板之间均设有密封件。
[0006]根据本技术的一些实施例，所述探针定位板包括探针主定位板和探针辅定位板，所述多个探针穿设在所述探针主定位板上，所述探针辅定位板设有多个探针孔，所述探针主定位板与所述探针辅定位板连接且所述多个探针穿过所述多个探针孔与所述测试板连接接触。
[0007]根据本技术的一些实施例，所述探针定位板与所述测试板之间设有第一密封件，所述探针辅定位板设有环绕所述多个探针孔的凹槽，所述第一密封件位于所述凹槽内。
[0008]根据本技术的一些实施例，所述探针辅定位板设有暴露所述多个探针孔的安装槽，所述测试板和所述压板至少部分位于所述安装槽内以与所述探针辅定位板固定连接。
[0009]根据本技术的一些实施例，所述上治具和所述下治具之间设有第二密封件，所述第二密封件形成为环绕所述多个探针的环形密封圈。
[0010]根据本技术的一些实施例，所述探针定位板和所述底板中的一个上设有定位槽，所述第二密封件设在所述定位槽内。
[0011]根据本技术的一些实施例，所述底板与所述放置板之间设有第三密封件，所
述底板设有容纳所述第三密封件的容纳槽，所述第三密封件沿所述放置板的外边缘延伸且压紧在所述放置板与所述底板之间。
[0012]根据本技术的一些实施例，所述放置板包括板体和加热装置，所述加热装置设在所述板体内以为位于所述放置板上的所述测试部件提供测试温度。
[0013]根据本技术的一些实施例，所述加热装置包括多个加热棒和热电偶，所述多个加热棒沿所述板体的长度方向均匀间隔设置，所述热电偶设在所述板体上以用于检测测试温度。
[0014]由此根据本技术实施例的测试治具，通过压板将测试板与探针定位板压紧固定，使得多个探针与测试板连接接触，从而不需要将探针与测试板焊接，每个探针可单独拆卸，单个探针测试故障或测试板损坏时，可分别单独拆卸维修，而不需要将探针定位板和测试板整体更换，维修方便且能够减少成本。
[0015]而且测试治具的各部件之间通过密封件密封，而不需要通过涂抹硅胶，装配方便且操作要求低，也能够避免硅胶涂抹不均匀导致的漏气，在进行维修时，也不需要将硅胶刮掉重新涂抹，方便拆卸和维修。
附图说明
[0016]图1为根据本技术实施例的测试治具的上治具的结构示意图；
[0017]图2为根据本技术实施例的测试治具的下治具的结构示意图；
[0018]图3为根据本技术实施例的测试治具的放置板的结构示意图。
[0019]附图标记：
[0020]10：上治具，20：下治具；
[0021]1：探针定位板，11：探针主定位板，12：探针辅定位板，13：探针，14：凹槽，15：安装槽，16：容纳槽；2：测试板，3：压板；
[0022]4：底板，5：放置板，51：板体，52：加热装置，53：热电偶，54：加热棒，55：走线槽；
[0023]61：第一密封件，62：第二密封件，63：第三密封件，64：第四密封件；7：测试部件。
具体实施方式
[0024]以下结合附图和具体实施方式对本技术提出的一种测试治具作进一步详细说明。
[0025]下面参考附图1
‑
图3描述根据本技术实施例的测试治具，所述测试治具可用于对PCB板以及传感器等进行检测。
[0026]根据本技术实施例的测试治具可以包括上治具10和下治具20，下治具20和上治具10分别位于测试部件7的两侧，测试部件7位于上治具10和下治具20之间以进行测试，其中上治具10可位于下治具20的上方，也可位于下治具20的下方，下治具20和上治具10可根据需要设置，为了方便描述本实施例中以上治具10位于下治具20的上方为例进行描述。
[0027]上治具10包括多个探针13、探针定位板1、测试板2和压板3，探针定位板1用于固定多个探针13，多个探针13的一端从探针定位板1伸出，多个探针13的另一端对应连接至测试板2，压板3与探针定位板1连接以将测试板2固定在压板3与探针定位板1之间，并与多个探针13连接接触。
[0028]如图1所示，多个探针13呈阵列分布穿设在探针定位板1上，多个探针13的下端伸出探针定位板1以适于与放置在下治具20的测试部件7连接，测试板2位于多个探针13的上方并与探针定位板1固定连接，多个探针13的上端与测试板2连接接触，压板3设在测试板2上并将测试板2与探针定位板1压紧固定。可选地，压板3、测试板2和探针定位板1可通过螺纹紧固件连接，例如可通过螺钉穿过压板3、测试板2和探针定位板1以将压板3、测试板2和探针定位板1固定连接，从而使得探针13能够与测试板2紧密接触，防止探针13与测试板2接触不良而导致测试结果不准确，同时不需要将探针13与测试板2焊接，使得每个探针13均能够单独拆卸，也方便测试治具的维修和探针13的更换，在探针13与测试板2出现故障时，可不需要将探针定位板1、探针13以及测试板2整体更换，也能够减少成本。进一步地，探针13可以为双头探针13。
[0029]下治具20包括底板4和用于放置测试部件7的放置板5，放置板5固定在底板4上，下治具20可用于承载测试部件7，以为测试部件7提供测试平台和测试环境，在对测试部件7进行测试时，上治具10与下治具20结合以为测试部件7提供密封的测试空间，使得测试探针13和测试部件7位于一定压力测试环境内，例如，上治具10可压紧下治具20，多个探针13的下端本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试治具，其特征在于，包括：上治具，所述上治具包括探针定位板、测试板和压板，所述探针定位板用于固定多个探针，所述多个探针的一端从所述探针定位板伸出，所述多个探针的另一端对应连接至所述测试板，所述压板与所述探针定位板连接以将所述测试板固定在所述压板与所述探针定位板之间，并与所述多个探针连接接触；下治具，所述下治具包括底板和用于放置测试部件的放置板，所述放置板固定在所述底板上；所述上治具与所述下治具之间、所述压板与所述测试板之间、所述测试板与所述探针定位板之间、所述底板和所述放置板之间中的至少一处设有密封件。2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述上治具与所述下治具之间、所述压板与所述测试板之间、所述测试板与所述探针定位板之间、所述底板和所述放置板之间均设有密封件。3.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述探针定位板包括探针主定位板和探针辅定位板，所述多个探针穿设在所述探针主定位板上，所述探针辅定位板设有多个探针孔，所述探针主定位板与所述探针辅定位板连接且所述多个探针穿过所述多个探针孔与所述测试板连接接触。4.根据权利要求3所述的测试治具，其特征在于，所述探针定位板与所述测试板之间设有第一密封件，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：施伟，肖滨，李刚，
申请(专利权)人：昆山灵科传感技术有限公司，
类型：新型
国别省市：