一种蜂巢式芯片老化检测平台制造技术

本发明专利技术公开一种蜂巢式芯片老化检测平台，包括若干检测模块，所述检测模块呈柱形结构，且检测模块的横截面为正n边形，其中n为大于等于3的自然数，若干所述检测模块的侧面一一贴合连接形成蜂巢式结构，每一所述检测模块内均设有n个多功能PCB板以及与多功能PCB板一一对应电连接的n个老化冶具，所述老化冶具上放置有若干个检测芯片。本发明专利技术检测模块一一贴合形成蜂巢式结构，每一检测模块内可设置多个老化冶具和多功能PCB板，蜂巢式结构能够充分利用设备空间，从而大大提高老化检测效率，可根据实际产能需求来自由组合检测模块，模块化设计，便于客户增加产能和扩充设备容量。便于客户增加产能和扩充设备容量。便于客户增加产能和扩充设备容量。

【技术实现步骤摘要】
一种蜂巢式芯片老化检测平台


[0001]本专利技术涉及芯片检测
，具体涉及一种蜂巢式芯片老化检测平台。

技术介绍

[0002]芯片在制造完成后需要进行严格的老化测试，随着光芯片性能突破以及市场对芯片数量要求的急速上升，现有的老化检测设备的作业效率已无法满足需求。
[0003]现有的老化检测平台采用抽屉式结构，通过将抽屉从检测箱内拆下进行上料，芯片固定在抽屉内的老化冶具上，之后将抽屉插入检测箱中芯片通电开始检测。每一抽屉仅能设置单一一组芯片，整个检测箱可设置的抽屉数量十分有限，对内部空间的利用率较低，导致芯片检测产能低，并且检测机构复杂，导致扩产过程中的改造压力大。如果直接采用投入更多设备的方式来扩大产能，则还要面临增加无尘车间面积等一系列工作，成本压力过大。
[0004]因此，开发一种能够有效提高检测箱空间利用率、提高检测效率、简化检测机构的老化检测平台十分有必要。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种蜂巢式芯片老化检测平台，以解决现有技术中存在的老化检测平台采用抽屉式结构，检测箱可设置的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种蜂巢式芯片老化检测平台，其特征在于，包括若干检测模块，所述检测模块呈柱形结构，且检测模块的横截面为正n边形，其中n为大于等于3的自然数，若干所述检测模块的侧面一一贴合连接形成蜂巢式结构，每一所述检测模块内均设有n个多功能PCB板以及与多功能PCB板一一对应电连接的n个老化冶具，所述老化冶具上放置有若干个检测芯片。2.根据权利要求1所述的蜂巢式芯片老化检测平台，其特征在于，所述检测模块包括：柱体，两端开口设置，所述柱体由n个侧板首尾连接组成，且每一侧板的内侧面均设有一所述多功能PCB板；盖板，可拆卸固定在所述柱体一端开口，所述盖板内侧面设有与n个所述多功能PCB板一一对应的n个所述老化冶具，所述盖板盖合在所述柱体开口时，所述老化冶具与所述多功能PCB板电连接；散热单元，设置在所述柱体另一端开口处。3.根据权利要求2所述的蜂巢式芯片老化检测平台，其特征在于，所述柱体内部设有隔板单元，所述隔板单元将所述柱体内部分割成与n个所述多功能PCB板一一对应的独立的检测空间。4.根据权利要求3所述的蜂巢式芯片老化检测平台，其特征在于，所述隔板单元包括位于所述柱体中心的筒体，所述筒体沿所述柱体轴向延伸设置，且筒体外环面与所述柱体内部边角处之间设有n个隔板，所述隔板靠近所述盖板一侧端部还设有上密封板，所述上密封板、隔板和侧板配合形成n个所述检测空间，每一所述检测空间均设有一所述多功能PCB板，所述多功能PCB板的探针穿过所述上密封板与所述老化冶具连接。5.根据权利要求4所述的蜂巢式芯片老化检测平台，其特征在于，所述隔板上开设有用于固定所述多功能PCB板的槽口，所述多功能P...

【专利技术属性】
技术研发人员：张华，薛银飞，宁振坤，
申请(专利权)人：上海菲莱测试技术有限公司，
类型：发明
国别省市：