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本发明公开一种蜂巢式芯片老化检测平台，包括若干检测模块，所述检测模块呈柱形结构，且检测模块的横截面为正n边形，其中n为大于等于3的自然数，若干所述检测模块的侧面一一贴合连接形成蜂巢式结构，每一所述检测模块内均设有n个多功能PCB板以及与多功...
该专利属于上海菲莱测试技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海菲莱测试技术有限公司授权不得商用。

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