【技术实现步骤摘要】
一种DEBUG检测系统
[0001]本技术涉及故障排除领域，具体的说是一种DEBUG检测系统。
技术介绍
[0002]与DEBUG检测系统相比，以往的电子设备故障排查系统，往往需要多次向安全系统询问，且排查故障速度慢，占用CPU高从而导致系统卡顿，检查的漏洞往往不能彻底清除，未被清除的代码导致系统信息泄露，使得系统的安全系数降低，有的BUG甚至可以逃过故障排查系统的检测，继续对安全系统进行攻击。
技术实现思路
[0003]本技术针对已有检测系统检测方式的不足，提供了一种可以更全面检测的DEBUG检测系统。
[0004]本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：
[0005]提供了一种可以更全面检测的DEBUG检测系统包括：信号接入接口、SD卡模块、USB转串口模块、TTL232预留模块、以太网模块以及以太网外设模块，所述信号接入接口包括接口J1，所述SD卡模块负责信息的存储，所述USB转串口模块负责信号的转换，所述TTL232预留模块负责电平之间的通讯，所述以太网模块负责路由器与计算机之间的物理...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种DEBUG检测系统，其特征在于，包括：信号接入接口、SD卡模块、USB转串口模块、TTL232预留模块、以太网模块以及以太网外设模块，所述信号接入接口包括接口J1，所述SD卡模块负责信息的存储，所述USB转串口模块负责信号的转换，所述TTL232预留模块负责电平之间的通讯，所述以太网模块负责路由器与计算机之间的物理连接。2.根据权利要求1所述的DEBUG检测系统，其特征在于，所述接口J1的管脚1接3V3
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0电源，所述接口J1的管脚2接地，所述接口J1与以太网口模块相接。3.根据权利要求1所述的DEBUG检测系统，其特征在于，所述SD卡模块包括接口J3，所述接口J3的管脚4的第一引线经电容C1接地，第二引线经电阻R2接所述接口J3的管脚3，第三引线经电阻R3、R1后接所述接口J3的管脚9，第四引线接电源REG3V3，所述接口J3的管脚2经电阻R4后接地，所述接口J3的管脚6、10接地。4.根据权利要求1所述的DEBUG检测系统，其特征在于，所述USB转串口模块包括芯片U1和接口J4，所述芯片U1的管脚14接电源VCC，发光二极管LED1、电阻R11依次设置在电源VCC和所述芯片U1的管脚14之间，所述芯片U1的管脚7接电源VCC，发光二极管LED2、电阻R13依次设置在电源VCC和所述芯片U1的管脚14之间，所述芯片U1的管脚5、13接地，管脚11的第一引线经电容C9接地，第二引线经电阻R14接地，第三引线接电源，电阻R12设置在电源和所述芯片U1的管脚11之间，所述芯片U1的管脚10的第一引线接电源，第二引线经电容C4接地，所述芯片U1的管脚8经电阻R10接所述接口J4的管脚3、所述芯片U1的管脚9接所述接口J4的管脚2，所述接口J4的管脚1的第一引线经电感L0603、电容C8接地，第二引线经电感L0603、电容C7接地，所述接口J4的管脚2的第一引线经双向击穿二极管D2接地，第二引线经电容C6接地，所述接口J4的管脚3的第一引线经双向击穿二极管D1接地，第二引线经电容C5接地，所述接口J4的管脚5、6、8、9接地，所述接口J4的管脚7的第一引线经电阻R15接地，第二引线经电容C10接地，所述接口J4的型号为USB
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mini，所述芯片U1的型号为FT230XS。5.根据权利要求1所述的DEBUG检测系统，其特征在于，所述TTL232预留模块包括芯片U2和接口J5，所述芯片U2的管脚1经电容C14接所述芯片U2的管脚3，管脚2经电容C12接地，管脚4经电容C15后接所述芯片U2的管脚5，管脚11、12接所述芯片U1的管脚7、8，所述芯片U2的管脚15接地，管脚6经电容C13后接地，管脚13接所述接口J5的管脚1，管脚14接所述接口J5的管脚2，所述接口J5的管脚3接地，所述芯片U2的型号为SP3232EEN
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L/TR。6.根据权利要求1所述的DEBUG检测系统，其特征在于，所述以太网模块包括芯片U3、晶振Y1和接口J6，所述芯片U3的管脚12的第一引线经电容C18接地，第二引线接跳线接口REG3V3
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1，所述芯片U3的管脚1、27经电感L1接地，电容C19、C20、C21并联后设置在电源VDD...
【专利技术属性】
技术研发人员：崔小燕，顾成文，
申请(专利权)人：深圳市汇凌信息技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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