一种芯片测试用定位装置制造方法及图纸

一种芯片测试用定位装置，包括操作平台、控制单元和测试机构，其特征在于，所述操作平台由定位机构、水平操作台、四个顶脚和配电箱组成；所述定位机构镶嵌在水平操作台内，且定位机构位于水平操作台中间；所述配电箱通过电线与控制单元、定位机构和测试机构连接；所述控制单元安装在水平操作台上，且控制单元通过导线与定位机构连接；所述测试机构与水平操作台螺栓连接；所述测试机构位于定位机构旁，且测试机构通过导线与控制单元连接；所述控制单元通过传输指令进行对测试机构和定位机构的控制；该装置能够精准的将芯片进行定位，且能够识别芯片是否加紧；能够提高芯片检测的检测效率，能够对不同尺寸形状的芯片进行定位测试。试。试。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试用定位装置


[0001]本技术涉及芯片制造领域，具体是一种芯片测试用定位装置。

技术介绍

[0002]芯片一般应用在电工电器上，也是电子产品里面最核心的一个部件，是一个集成电路的载体，承载着运算和储存的功能可以起到了一个传输的作用，芯片在生产的过程中需要进行测试，测试合格后的芯片才能够在市场上流通。
[0003]但芯片体积非常小，而且芯片上还有各种集成电路，传统的接触性固定装置，在固定的过程中会毁坏芯片，从而导致良品率的降低。

技术实现思路

[0004]本技术所要解决的技术问题是提供一种芯片测试用定位装置，可以有效解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为解决上述问题，本技术所采取的技术方案是：一种芯片测试用定位装置，包括操作平台、控制单元和测试机构，其特征在于，所述操作平台由定位机构、水平操作台、四个顶脚和配电箱组成；所述定位机构镶嵌在水平操作台内，且定位机构位于水平操作台中间；所述配电箱通过电线与控制单元、定位机构和测试机构连接；所述控制单元安装在水平操作台上，且控制单元通过导线与定位机构连接；所述测试机构与水平操作台螺栓连接；所述测试机构位于定位机构旁，且测试机构通过导线与控制单元连接；所述控制单元通过传输指令进行对测试机构和定位机构的控制。
[0006]作为本技术的进一步优选方案，所述水平操作台设有放置槽；所述放置槽呈正方形状，且放置槽的中间设有阶梯槽；所述阶梯槽的中间设有通孔；所述定位机构由夹紧组件、芯片定位槽和升降组件组成；所述夹紧组件与放置槽螺钉连接，且夹紧组件穿过芯片定位槽；所述芯片定位槽位于放置槽内部的中间；所述升降组件安装在放置槽的底部，且升降组件穿过阶梯槽中间的通孔。
[0007]作为本技术的进一步优选方案，所述夹紧组件由四个横向推动气缸组成，且四个横向推动气缸分别安装在放置槽的内壁上，四个横向推动气缸呈十字形方向排列；所述横向推动气缸均穿过芯片定位槽。
[0008]作为本技术的进一步优选方案，所述横向推动气缸顶部设有接触推杆，且横向推动气缸与接触推杆滑动套接；所述横向推动气缸与接触推杆之间设有弹性部件和感应部件。
[0009]作为本技术的进一步优选方案，所述升降组件由固定件和升降推动气缸组成；所述固定件与放置槽螺纹套接；所述升降推动气缸与固定件螺丝连接，且升降推动气缸从放置槽底部穿过阶梯槽中间的通孔。
[0010]作为本技术的进一步优选方案，所述固定件上方设有盖板，且固定件下方设有托板；所述盖板与放置槽顶部相贴合；所述托板与升降推动气缸螺丝连接。
[0011]作为本技术的进一步优选方案，所述配电箱设有电源接口。
[0012]与现有技术相比，本技术提供了一种芯片测试用定位装置，具备以下有益效果：
[0013]该装置能够精准的将芯片进行定位，且能够识别芯片是否加紧，避免夹力太过于大，从而导致芯片的损坏；能够提高芯片检测的检测效率，能够对不同尺寸形状的芯片进行定位测试。
附图说明
[0014]图1为本技术结构立体示意图；
[0015]图2为图1中标记101内部结构放大示意图；
[0016]图3为图2中标记101
‑
3伸出动作示意图；
[0017]图4为本技术结构底部立体示意图；
[0018]图5为本技术侧面结构示意图；
[0019]图6为图5中标记5结构放大示意图；
[0020]其中：1、操作平台，101、定位机构，101
‑
1、夹紧组件，101
‑
2、芯片定位槽，101
‑
3、升降组件，102、水平操作台，103、配电箱，2、控制单元，3、测试机构， 4、放置槽，401、阶梯槽，5、横向推动气缸，501
‑
1、接触推杆，501
‑
2、弹性部件，501
‑
3、感应部件，6、固定件，601、盖板，602、托板，7、升降推动气缸。
具体实施方式
[0021]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0022]参照图1
‑
6，本技术提供一种芯片测试用定位装置，包括操作平台1、控制单元2和测试机构3，其特征在于，所述操作平台1由定位机构101、水平操作台102、四个顶脚和配电箱103组成；所述定位机构101镶嵌在水平操作台102内，且定位机构101位于水平操作台102中间；所述配电箱103通过电线与控制单元2、定位机构101和测试机构3连接；所述控制单元2安装在水平操作台102上，且控制单元2通过导线与定位机构101连接；所述测试机构3与水平操作台102螺栓连接；所述测试机构3位于定位机构101旁，且测试机构3通过导线与控制单元2连接；所述控制单元2通过传输指令进行对测试机构3和定位机构101的控制。
[0023]作为本技术的进一步优选方案，所述水平操作台102设有放置槽4；所述放置槽4呈正方形状，且放置槽4的中间设有阶梯槽401；所述阶梯槽401的中间设有通孔；所述定位机构101由夹紧组件101
‑
1、芯片定位槽101
‑
2和升降组件101
‑
3组成；所述夹紧组件101
‑
1与放置槽4螺钉连接，且夹紧组件101
‑
1穿过芯片定位槽101
‑
2；所述芯片定位槽101
‑
2位于放置槽4内部的中间；所述升降组件101
‑
3安装在放置槽4的底部，且升降组件101
‑
3穿过阶梯槽401中间的通孔。
[0024]作为本技术的进一步优选方案，所述夹紧组件101
‑
1由四个横向推动气缸5组成，且四个横向推动气缸5分别安装在放置槽4的内壁上，四个横向推动气缸5呈十字形方向排列；所述横向推动气缸5均穿过芯片定位槽101
‑
2；所述横向推动气缸5受控制单元2控制，
当接受推动指令时，4个推动气缸5将同时缓慢伸出。
[0025]作为本技术的进一步优选方案，所述横向推动气缸5顶部设有接触推杆501
‑
1，且横向推动气缸5与接触推杆501
‑
1滑动套接；所述横向推动气缸5与接触推杆501
‑
1之间设有弹性部件501
‑
2和感应部件501
‑
3；感应部件501
‑
3分别设置在横向推动气缸5和接触推杆501
‑
1；接触推杆501
‑
1的接触面为硅胶材质；当接触推杆501
‑
1触碰到芯片时，有一个相反的力使接触推杆501
‑
1往横向推动气缸5本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试用定位装置，包括操作平台(1)、控制单元(2)和测试机构(3)，其特征在于，所述操作平台(1)由定位机构(101)、水平操作台(102)、四个顶脚和配电箱(103)组成；所述定位机构(101)镶嵌在水平操作台(102)内，且定位机构(101)位于水平操作台(102)中间；所述配电箱(103)通过电线与控制单元(2)、定位机构(101)和测试机构(3)连接；所述控制单元(2)安装在水平操作台(102)上，且控制单元(2)通过导线与定位机构(101)连接；所述测试机构(3)与水平操作台(102)螺栓连接；所述测试机构(3)位于定位机构(101)旁，且测试机构(3)通过导线与控制单元(2)连接；所述控制单元(2)通过传输指令进行对测试机构(3)和定位机构(101)的控制。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试用定位装置，其特征在于，所述水平操作台(102)设有放置槽(4)；所述放置槽(4)呈正方形状，且放置槽(4)的中间设有阶梯槽(401)；所述阶梯槽(401)的中间设有通孔；所述定位机构(101)由夹紧组件(101
‑
1)、芯片定位槽(101
‑
2)和升降组件(101
‑
3)组成；所述夹紧组件(101
‑
1)与放置槽(4)螺钉连接，且夹紧组件(101
‑
1)穿过芯片定位槽(101
‑
2)；所述芯片定位槽(101
‑
2)位于放置槽(4)内部的中间；所述升降组件(101
‑
3)安装在放置槽(4)的底部，且升降组件(1...

【专利技术属性】
技术研发人员：林志敏，林宏晖，谢凌晖，李晓婷，
申请(专利权)人：深圳市塬煌电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：