一种集成电路对插测试结构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种集成电路对插测试结构，涉及集成电路技术领域。该集成电路对插测试结构，包括机体，所述机体的内壁上固定连接有电动滑轨，所述电动滑轨上滑动连接有移动杆，所述移动杆的外端固定连接有插座，所述机体的内部设置有传动装置，所述传动装置包括滑槽一，所述滑槽一开设在机体的内壁上，所述滑槽一上滑动连接有滑块，所述滑块的底部固定连接有齿杆，所述齿杆贯穿且滑动连接在滑槽一的底部，所述滑块的外端设置有夹持装置。通过设置夹持装置，使本装置可以通过旋钮一与旋钮二控制夹紧不同大小待测试的插头，可以根据插头的大小来调整，无需更换另外的夹具，使用起来更加方便，同时也提升了测试的效率。同时也提升了测试的效率。同时也提升了测试的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路对插测试结构


[0001]本技术涉及集成电路
，具体为一种集成电路对插测试结构。

技术介绍

[0002]集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。它在电路中用字母“IC”表示。集成电路专利技术者为杰克
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基尔比(基于锗(Ge)的集成电路)和罗伯特
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诺伊思(基于硅(Si)的集成电路)。当今半导体工业大多数应用的是基于硅的集成电路。
[0003]在集成电路进行连接测试时，需要使用对插测试装置对插头与插座进行对插测试来测试插头的吻合度，现有的测试装置无法夹持不同大小的插头，导致在测试不同插头时需要更换夹持装置，导致测试效率降低。鉴于此，我们提出了一种集成电路对插测试结构。

技术实现思路

[0004](一)解决的技术问题
[0005]针对现有技术的不足，本技术提供了一种集成电路对插测试结构，解决了上述
技术介绍
提到的问题。
[0006](二)技术方案
[0007]为实现以上目的，本技术通过以下技术方案予以实现：一种集成电路对插测试结构，包括机体，所述机体的内壁上固定连接有电动滑轨，所述电动滑轨上滑动连接有移动杆，所述移动杆的外端固定连接有插座，所述机体的内部设置有传动装置，所述传动装置包括滑槽一，所述滑槽一开设在机体的内壁上，所述滑槽一上滑动连接有滑块，所述滑块的外端设置有夹持装置。
[0008]优选的，所述滑块的底部固定连接有齿杆，所述齿杆贯穿且滑动连接在滑槽一的底部，所述滑块通过弹簧与滑槽一的底部弹性连接。
[0009]优选的，所述齿杆与传动齿轮相啮合，所述传动齿轮转动连接在机体的内壁上，所述传动齿轮与半齿轮相啮合，所述半齿轮转动连接在机体的内壁上。
[0010]优选的，所述夹持装置包括外壳，所述外壳两端的内壁分别与双向螺纹杆的两端转动连接，所述双向螺纹杆的两端分别贯穿且螺纹连接有夹块一与夹块二，所述夹块一与夹块二的内侧均固定连接有摩擦垫，所述双向螺纹杆贯穿外壳的侧壁且与旋钮一固定连接。
[0011]优选的，所述外壳的底端转动连接有单向螺纹杆，所述单向螺纹杆的底端贯穿外壳的底端且与旋钮二固定连接，所述单向螺纹杆上贯穿且螺纹连接有支撑台，所述外壳的外壁上固定连接有固定块。
[0012]优选的，所述外壳的外壁上开设有滑槽二与滑槽三，所述滑槽二上滑动连接有夹块一与夹块二，所述滑槽三上滑动连接有支撑台。
[0013](三)有益效果
[0014]本技术提供了一种集成电路对插测试结构。具备以下有益效果：
[0015](1)、该集成电路对插测试结构通过设置夹持装置，使本装置可以通过旋钮一与旋钮二控制夹紧不同大小待测试的插头，可以根据插头的大小来调整，无需更换另外的夹具，使用起来更加方便，同时也提升了测试的效率。
[0016](2)、该集成电路对插测试结构通过设置传动装置，使本装置在测试时，可以启动半齿轮旋转带动传动装置运行，使本装置不仅能测试插头插座的吻合度，同时也能够对插头的插拔次数进行一定的检测，能够更深层次的检测插头的使用寿命，同时本装置的结构简单，成本低，便于工作人员操作。
附图说明
[0017]图1为本技术整体正面剖视结构示意图；
[0018]图2为本技术夹持装置侧面结构示意图；
[0019]图3为本技术夹持装置侧面剖视结构示意图。
[0020]图中：1、机体；2、电动滑轨；3、移动杆；4、插座；5、夹持装置；6、传动装置；51、外壳；52、双向螺纹杆；53、固定块；54、夹块一；55、摩擦垫；56、夹块二；57、旋钮一；58、支撑台；59、单向螺纹杆；510、滑槽二；511、滑槽三；512、旋钮二；61、滑块；62、滑槽一；63、弹簧；64、齿杆；65、传动齿轮；66、半齿轮。
具体实施方式
[0021]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0022]请参阅图1
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图3，本技术提供一种技术方案：一种集成电路对插测试结构，包括机体1，机体1的内壁上固定连接有电动滑轨2，电动滑轨2上滑动连接有移动杆3，通过电动控制移动杆3在电动滑轨2上进行移动，移动杆3的外端固定连接有插座4，机体1的内部设置有传动装置6，通过设置传动装置6，使本装置在测试时，可以启动半齿轮66旋转带动传动装置6运行，使本装置不仅能测试插头插座4的吻合度，同时也能够对插头的插拔次数进行一定的检测，能够更深层次的检测插头的使用寿命，同时本装置的结构简单，成本低，便于工作人员操作，传动装置6包括滑槽一62，滑槽一62开设在机体1的内壁上，滑槽一62上滑动连接有滑块61，滑块61的底部固定连接有齿杆64，齿杆64贯穿且滑动连接在滑槽一62的底部，滑块61通过弹簧63与滑槽一62的底部弹性连接，弹簧63使滑块61带动齿杆64进行复位，齿杆64与传动齿轮65相啮合，传动齿轮65转动连接在机体1的内壁上，传动齿轮65与半齿轮66相啮合，半齿轮66转动连接在机体1的内壁上，滑块61的外端设置有夹持装置5，通过设置夹持装置5，使本装置可以通过旋钮一57与旋钮二512控制夹紧不同大小待测试的插头，可以根据插头的大小来调整，无需更换另外的夹具，使用起来更加方便，同时也提升了测试的
效率。
[0023]本实施例中，夹持装置5包括外壳51，外壳51两端的内壁分别与双向螺纹杆52的两端转动连接，双向螺纹杆52的两端分别贯穿且螺纹连接有夹块一54与夹块二56，夹块一54与夹块二56的内侧均固定连接有摩擦垫55，双向螺纹杆52贯穿外壳51的侧壁且与旋钮一57固定连接，通过旋钮一57带动双向螺纹杆52旋转，使夹块一54与夹块二56相互靠拢，对插头进行固定，摩擦垫55增加夹块一54与插头的摩擦力。外壳51的底端转动连接有单向螺纹杆59，单向螺纹杆59的底端贯穿外壳51的底端且与旋钮二512固定连接，将插头放置在支撑台58上，通过旋转旋钮二512带动单向螺纹杆59旋转，使支撑台58沿着滑槽三511向上移动，支撑台58与固定块53相配合，对插头进行一定程度的固定。单向螺纹杆59上贯穿且螺纹连接有支撑台58，外壳51的外壁上固定连接有固定块53，外壳51的外壁上开设有滑槽二510与滑槽三511，滑槽二510上滑动连接有夹块一54与夹块二56，滑槽三511上滑动连接有支撑台58。
[0024]工作时(或使用时)，准备测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路对插测试结构，包括机体(1)，其特征在于：所述机体(1)的内壁上固定连接有电动滑轨(2)，所述电动滑轨(2)上滑动连接有移动杆(3)，所述移动杆(3)的外端固定连接有插座(4)，所述机体(1)的内部设置有传动装置(6)，所述传动装置(6)包括滑槽一(62)，所述滑槽一(62)开设在机体(1)的内壁上，所述滑槽一(62)上滑动连接有滑块(61)，所述滑块(61)的外端设置有夹持装置(5)。2.根据权利要求1所述的一种集成电路对插测试结构，其特征在于：所述滑块(61)的底部固定连接有齿杆(64)，所述齿杆(64)贯穿且滑动连接在滑槽一(62)的底部，所述滑块(61)通过弹簧(63)与滑槽一(62)的底部弹性连接。3.根据权利要求2所述的一种集成电路对插测试结构，其特征在于：所述齿杆(64)与传动齿轮(65)相啮合，所述传动齿轮(65)转动连接在机体(1)的内壁上，所述传动齿轮(65)与半齿轮(66)相啮合，所述半齿轮(66)转动连接在机体(1)的内壁上。4.根据权利要求1所述的一种集...

【专利技术属性】
技术研发人员：周梁，
申请(专利权)人：九江市青山科技有限公司，
类型：新型
国别省市：