伸缩型探针用测试机制造技术

本实用新型专利技术公开了一种伸缩型探针用测试机，适用对待测探针进行测试，包括机台、装配所述机台上的龙门架、装配于所述龙门架的升降机构、装配于所述机台并用于装夹所述待测探针的测试台及装配于所述升降机构之输出端并位于所述测试台对应上方的测试探针。所述测试台开设有供所述待测探针装夹且使该待测探针的伸缩针头朝下布置的工装位，所述测试探针的伸缩针头朝下布置并与装夹于所述工装位中的待测探针相对齐；以确保待测探针于测试过程中接触稳定可靠，从而确保测试品质。从而确保测试品质。从而确保测试品质。

【技术实现步骤摘要】
伸缩型探针用测试机


[0001]本技术涉及测试领域，尤其涉及一种用于对待测探针进行测试的伸缩型探针用测试机。

技术介绍

[0002]众所周知，探针广泛地应用于电子产品当中，是电子产品不可或缺的连接元器件。
[0003]其中，对于探针来说，它主要由针头、针套及弹簧组成，针头套装于针套中，而弹簧套于针头并抵接于针套与针头，使得针头借助弹簧所提供的弹力而可相对针套做伸缩的滑移，从而使得针头与外界的元器件时刻地保持紧密接触的状态，因而确保信号传输的可靠性。
[0004]为了确保电子产品等所使用的探针符合设计的要求，故需要对探针进行性能测试，因此，离不开测试设备的使用。
[0005]但是，在现有的测试设备中，由于它的测试台上的工装位使得待测探针的针头朝上布置，且测试设备的位于测试台上的测试机构中的测试针为硬性针，故在测试过程中，虽然测试针在向下压紧待测探针的过程中与待测探针的针头为柔性接触，但是，待测探针的针套却是与测试台上的测试结构为硬性碰撞接触，这样会导致待测探针在测试过程中存在接触不好而影响到测试的品质。
[0006]因此，急需要一种接触稳定可靠以确保测试品质的伸缩型探针用测试机来克服上述的缺陷。

技术实现思路

[0007]本技术的目的在于提供一种接触稳定可靠以确保测试品质的伸缩型探针用测试机。
[0008]为了实现上述目的，本技术的伸缩型探针用测试机适用对待测探针进行测试，包括机台、装配所述机台上的龙门架、装配于所述龙门架的升降机构、装配于所述机台并用于装夹所述待测探针的测试台及装配于所述升降机构之输出端并位于所述测试台对应上方的测试探针，所述测试台开设有供所述待测探针装夹且使该待测探针的伸缩针头朝下布置的工装位，所述测试探针的伸缩针头朝下布置并与装夹于所述工装位中的待测探针相对齐。
[0009]较佳地，本技术的伸缩型探针用测试机还包括装配于所述机台的前后驱动机构，所述前后驱动机构沿所述机台的前后方向布置，所述前后驱动机构还从所述龙门架所围的空间中穿过，所述测试台沿所述机台的前后方向滑设于所述机台，所述测试台还与所述前后驱动机构的输出端装配连接。
[0010]较佳地，所述前后驱动机构包含旋转电机、前后丝杆及前后丝母，所述前后丝杆从所述龙门架所围的空间中穿过，所述旋转电机装配于所述机台，所述旋转电机还与所述前后丝杆装配连接，所述前后丝母滑动地套装于所述前后丝杆，所述前后丝母还与所述测试
台装配连接。
[0011]较佳地，所述旋转电机位于所述龙门架的后侧旁边。
[0012]较佳地，所述升降机构包括升降电机、升降丝杆、升降丝母及升降座，所述升降电机装配于所述龙门架，所述升降丝杆沿所述机台的上下方向延伸布置，所述升降丝杆还与所述升降电机装配连接，所述升降丝母可滑动地套装于所述升降丝杆，所述升降丝母还与所述升降座装配连接，所述升降座沿所述机台的上下方向滑设于所述龙门架，所述测试探针装配于所述升降座，所述测试探针的伸缩针头还向下伸出所述升降座。
[0013]较佳地，所述升降电机位于所述升降丝杆的上方，所述升降电机的输出端朝下布置，所述升降电机的输出端与所述升降丝杆的上端装配连接。
[0014]较佳地，所述龙门架设有向前方凸向所述升降座的左凸侧壁和右凸侧壁，所述升降丝杆和升降丝母各位于所述左凸侧壁和右凸侧壁之间的空间。
[0015]较佳地，所述测试探针为多个且沿所述机台的左右方向排列成行，每个所述测试探针对应一个所述工装位。
[0016]较佳地，所述机台呈方形。
[0017]与现有技术相比，由于本技术的伸缩型探针用测试机还包括装配于升降机构之输出端并位于测试台对应上方的测试探针，测试台开设有供待测探针装夹且使该待测探针的伸缩针头朝下布置的工装位，测试探针的伸缩针头朝下布置并与装夹于工装位中的待测探针相对齐；故在测试过程中，测试探针在升降机构的驱使下使得伸缩针头与待测探针的针套柔性接触，同时，待测探针的伸缩针头也是与测试台上的测试结构柔性接触，从而避免硬性碰撞，因而达到接触稳定可靠，从而确保了测试的品质。
附图说明
[0018]图1是本技术的伸缩型探针用测试机的平面图。
[0019]图2是图1中D部分的放大图。
[0020]图3是图2在显示出待测探针时的放大图。
[0021]图4是图1所示的伸缩型探针用测试机在隐藏升降机构及测试探针后的立体图。
[0022]图5是本技术的伸缩型探针用测试机中装配在一起的升降机构和测试探针的立体图。
[0023]图6是本技术的伸缩型探针用测试机中的前后驱动机构的结构简示图。
具体实施方式
[0024]为了详细说明本技术的
技术实现思路
、构造特征，以下结合实施方式并配合附图作进一步说明。
[0025]请参阅图1至图3，本技术的伸缩型探针用测试机100适用对待测探针200进行测试，例如电流测试或电压测试等，但，这是本领域所熟知的，故在此不对测试原理进行详细说明。其中，本技术的伸缩型探针用测试机100包括机台10、装配机台10上的龙门架20、装配于龙门架20的升降机构30、装配于机台10并用于装夹待测探针200的测试台40及装配于升降机构30之输出端并位于测试台40对应上方的测试探针50。测试台40开设有供待测探针200装夹且使该待测探针200的伸缩针头210朝下布置的工装位41，状态见图3所示；测
试探针50的伸缩针头51朝下布置并与装夹于工装位41中的待测探针200相对齐，状态也见图3所示。具体地，结合图4所示，本技术的伸缩型探针用测试机100还包括装配于机台10的前后驱动机构60，前后驱动机构60沿机台10的前后方向布置，前后驱动机构60还从龙门架20所围的空间21中穿过，测试台40沿机台10的前后方向滑设于机台10，测试台40还与前后驱动机构60的输出端装配连接，以借助前后驱动机构60的设计，便于测试台40自动地滑移至与测试探针50相对的测试位置或滑移至与测试探针50相错位的下料位置，从而便于待测探针200于测试台40上的上下料操作；另，机台10呈方形，以便于机台10的制造加工，当然，机台10根据实际需要还可设计为其它形状，故不以附图所示为限。更具体地，如下：
[0026]如图1、图4及图6所示，前后驱动机构60包含旋转电机61、前后丝杆62及前后丝母63。前后丝杆62从龙门架20所围的空间21中穿过，旋转电机61装配于机台10，由机台10为旋转电机61提供支撑的作用及装配的场所，旋转电机61还与前后丝杆62装配连接，具体是旋转电机61的输出轴611与前后丝杆62装配连接，由旋转电机61驱使前后丝杆62做旋转的运动；前后丝母63滑动地套装于前后丝杆62，前后丝母63还与测试台40装配连接；故在旋转电机61的工作下，驱使前后丝杆62做旋转的运动，由旋转运动的前后丝杆62带动前后丝母63连同测试台40一起于前后丝杆62上滑移，实现前后驱动机构60精准地控制测试台4本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种伸缩型探针用测试机，适用对待测探针进行测试，包括机台、装配所述机台上的龙门架、装配于所述龙门架的升降机构及装配于所述机台并用于装夹所述待测探针的测试台，其特征在于，所述伸缩型探针用测试机还包括装配于所述升降机构之输出端并位于所述测试台对应上方的测试探针，所述测试台开设有供所述待测探针装夹且使该待测探针的伸缩针头朝下布置的工装位，所述测试探针的伸缩针头朝下布置并与装夹于所述工装位中的待测探针相对齐。2.根据权利要求1所述的伸缩型探针用测试机，其特征在于，还包括装配于所述机台的前后驱动机构，所述前后驱动机构沿所述机台的前后方向布置，所述前后驱动机构还从所述龙门架所围的空间中穿过，所述测试台沿所述机台的前后方向滑设于所述机台，所述测试台还与所述前后驱动机构的输出端装配连接。3.根据权利要求2所述的伸缩型探针用测试机，其特征在于，所述前后驱动机构包含旋转电机、前后丝杆及前后丝母，所述前后丝杆从所述龙门架所围的空间中穿过，所述旋转电机装配于所述机台，所述旋转电机还与所述前后丝杆装配连接，所述前后丝母滑动地套装于所述前后丝杆，所述前后丝母还与所述测试台装配连接。4.根据权利要求3所述的伸缩型探针用测试机，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：虞新剑，
申请(专利权)人：东莞市旭锐精密科技有限公司，
类型：新型
国别省市：