本发明专利技术提供一种数据的分析/校正/方法及系统、存储介质、磁性编码器，所述数据的分析方法包括：采集所述磁性编码器生成的反馈数据信号；所述反馈数据信号用于反馈一电子设备的运行状况；计算所述反馈数据信号之间的差异；所述反馈数据信号之间的差异包括增益差异和/或偏置差异。本发明专利技术所述数据的分析方法/校正方法/系统、存储介质及磁性编码器可以实现增益的修正及增益的准确度，从而提高编码器的解码精度，实现电机旋转速度、电机转子位置的精确测量。测量。测量。
【技术实现步骤摘要】
数据的分析/校正/方法及系统、存储介质、磁性编码器
[0001]本专利技术属于编码器
，涉及一种校正方法和系统，特别是涉及一种数据的分析/校正/方法/系统、存储介质、磁性编码器。
技术介绍
[0002]为了实现电机旋转速度、电机转子位置的精确控制，一般使用编码器作为反馈元件，测量电机速度、转子位置。电机驱动器根据编码的反馈的位置信息，调节输出电压，实现电机按照设定速度、位置进行运行。
[0003]霍尔元件将磁环周围的磁场转化为电压信号，传输给MCU中的ADC模块，将电压信号数字化，通过MCU内部的软件，实现编码器的位置解算，将解算结果，传递到输出模块供给上位设备(如电机控制器)读取。配置模块用于编码器信息存储，如生产中编码器ID编码，增益的校正数据、偏置数据等。
[0004]对于磁性编码器解码器算法，由于磁环充磁性能、霍尔元件特性、焊接位置等因素影响，在同一个磁环的作用下，每个霍尔元件输出电压存在差异，直接影响编码器性能。
[0005]因此，如何提供一种数据的分析/校正/方法/系统、存储介质及磁性编码器，以解决现有技术无法精准地实现增益修正，导致编码器性能直接受影响等缺陷，实已成为本领域技术人员亟待解决的技术问题
技术实现思路
[0006]鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种数据的分析/校正/方法及系统、存储介质、磁性编码器，用于解决现有技术无法精准地实现增益修正，导致编码器性能直接受影响的问题。
[0007]为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术一方面提供一种数据的分析方法，应用于一磁性编码器；所述数据的分析方法包括：采集所述磁性编码器生成的反馈数据信号；所述反馈数据信号用于反馈一电子设备的运行状况；计算所述反馈数据信号之间的差异；所述反馈数据信号之间的差异包括增益差异和/或偏置差异。
[0008]于本专利技术的一实施例中，所述反馈数据信号为所述磁性编码器的各所述磁敏元件根据其对应的磁环转动后产生的电压信号序列。
[0009]于本专利技术的一实施例中，所述反馈数据信号之间的偏置差异的计算步骤包括：分别累加整数周期的正弦电压信号和余弦电压信号的电压值，以获取正弦电压累加和以及余弦电压累加和；所述正弦电压累加和以及余弦电压累加和分别除以累加次数，以获取正弦电压信号的平均电压信号和余弦电压信号的平均电压信号；其中，正弦电压信号的平均电压信号为所述磁性编码器的正弦偏置差异，余弦电压信号的平均电压信号为所述磁性编码器的余弦偏置差异。
[0010]于本专利技术的一实施例中，所述反馈数据信号之间的增益差异的计算步骤包括：以每个周期内对应的最大正弦电压信号的采样序号为中心，取指定采样序号范围内的电压信
号数据为正弦电压信号的拟合数据及以每个周期内对应的最大余弦电压信号的采样序号为中心，取指定采样序号范围内的电压信号数据为余弦电压信号的拟合数据；通过拟合算法分别计算出每个周期内正弦电压信号的最大拟合正弦电压信号以及每个周期内余弦电压信号的最大拟合余弦电压信号；分别将计算出的多个周期下的最大拟合正弦电压信号以及最大拟合余弦电压信号相加后进行平均，以获取所述磁性编码器的增益差异。
[0011]于本专利技术的一实施例中，计算每个周期内正弦电压信号的最大拟合正弦电压信号或计算每个周期内余弦电压信号的最大拟合余弦电压信号的步骤包括：以正弦电压信号或余弦电压信号的拟合数据的采样序号为变量，拟合一条关于正弦电压信号或余弦电压信号相关的二次拟合曲线；对所述二次拟合曲线求一阶导数，查找一阶导数为0时，对应的所述正弦电压信号的采样序号或余弦电压信号的采样序号；将所述正弦电压信号的采样序号或余弦电压信号的采样序号分别代入关于正弦电压信号或余弦电压信号相关的二次拟合曲线，计算出每个周期内正弦电压信号于指定采样序号范围内的最大拟合正弦电压信号或每个周期内余弦电压信号于指定采样序号范围内的最大拟合余弦电压信号；分别将计算出的多个周期下的最大拟合正弦电压信号或最大拟合余弦电压信号相加后进行平均，以获取所述磁性编码器的增益差异。
[0012]本实施例另一方面提供一种数据的校正方法，应用于一磁性编码器；所述数据的校正方法包括：获取磁性编码器的反馈数据信号之间的差异；所述反馈数据信号之间的差异包括增益差异和/或偏置差异；根据所述磁性编码器的反馈数据信号之间的差异，校正所述磁性编码器的属性参数，以控制所述电子设备的运行。
[0013]本专利技术又一方面提供一种数据的分析系统，应用于一磁性编码器；所述数据的分析系统包括：采集模块，用于采集所述磁性编码器生成的反馈数据信号；所述反馈数据信号用于反馈一电子设备的运行状况；计算模块，用于计算所述反馈数据信号之间的差异；所述反馈数据信号之间的差异包括增益差异和/或偏置差异。
[0014]本专利技术再一方面提供一种数据的校正系统，应用于一磁性编码器；所述数据的校正系统包括：数据获取模块，用于获取所述磁性编码器的反馈数据信号之间的差异；所述反馈数据信号之间的差异包括增益差异和/或偏置差异；校正模块，用于根据所述磁性编码器的反馈数据信号之间的差异，校正与所述磁性编码器连接的电机的属性参数，以控制所述电子设备的运行。
[0015]本专利技术还有一方面提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现所述数据的分析方法和/或实现所述数据的校正方法。
[0016]本专利技术一种磁性编码器，包括：处理器及存储器；所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器用于执行所述存储器存储的计算机程序，以使所述磁性编码器执行所述数据的分析方法或实现所述数据的校正方法。
[0017]如上所述，本专利技术所述的数据的分析/校正/方法及系统、存储介质、磁性编码器，具有以下有益效果：
[0018]本专利技术所述数据的分析/校正/方法及系统、存储介质、磁性编码器可以实现增益的修正及增益的准确度，从而提高编码器的解码精度，实现电机旋转速度、电机转子位置的精确测量。
附图说明
[0019]图1显示为本专利技术所应用的一电子设备的原理结构示意图。
[0020]图2显示为本专利技术的数据的分析方法于一实施例中的流程示意图。
[0021]图3显示为本专利技术的采集到的反馈数据信号的波形图。
[0022]图4显示为本专利技术的正弦电压信号的拟合数据或余弦电压信号的拟合数据拟合而成的拟合曲线示意图。
[0023]图5显示为本专利技术的数据的校正方法于一实施例中的流程示意图。
[0024]图6A显示本专利技术的数据的分析系统于一实施例中的原理结构示意图。
[0025]图6B显示为本专利技术的数据的校正系统于一实施例中的原理结构示意图。
[0026]元件标号说明
[0027]1ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
电子设备
[0028]11
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电机
[0029]12
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磁性编码器
[0030]13
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电机驱动器
[003本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种数据的分析方法，其特征在于，应用于一磁性编码器；所述数据的分析方法包括：采集所述磁性编码器生成的反馈数据信号；所述反馈数据信号用于反馈一电子设备的运行状况；计算所述反馈数据信号之间的差异；所述反馈数据信号之间的差异包括增益差异和/或偏置差异。2.根据权利要求1所述的数据的分析方法，其特征在于，所述反馈数据信号为所述磁性编码器的各所述磁敏元件根据其对应的磁环转动后产生的电压信号序列。3.根据权利要求2所述的数据的分析方法，其特征在于，所述反馈数据信号之间的偏置差异的计算步骤包括：分别累加整数周期的正弦电压信号和余弦电压信号的电压值，以获取正弦电压累加和以及余弦电压累加和；所述正弦电压累加和以及余弦电压累加和分别除以累加次数，以获取正弦电压信号的平均电压信号和余弦电压信号的平均电压信号；其中，正弦电压信号的平均电压信号为所述磁性编码器的正弦偏置差异，余弦电压信号的平均电压信号为所述磁性编码器的余弦偏置差异。4.根据权利要求1所述的数据的分析方法，其特征在于，所述反馈数据信号之间的增益差异的计算步骤包括：以每个周期内对应的最大正弦电压信号的采样序号为中心，取指定采样序号范围内的电压信号数据为正弦电压信号的拟合数据，及以每个周期内对应的最大余弦电压信号的采样序号为中心，取指定采样序号范围内的电压信号数据为余弦电压信号的拟合数据；通过拟合算法分别计算出每个周期内正弦电压信号的最大拟合正弦电压信号以及每个周期内余弦电压信号的最大拟合余弦电压信号；分别将计算出的多个周期下的最大拟合正弦电压信号以及最大拟合余弦电压信号相加后进行平均，以获取所述磁性编码器的增益差异。5.根据权利要求4所述的数据的分析方法，其特征在于，计算每个周期内正弦电压信号的最大拟合正弦电压信号或计算每个周期内余弦电压信号的最大拟合余弦电压信号的步骤包括：以正弦电压信号或余弦电压信号的拟合数据的采样序号为变量x，拟合一条关于正弦电压信号或余弦电压信号相关的二次拟合...
【专利技术属性】
技术研发人员：袁卫华，
申请(专利权)人：华大半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：
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