用于测试比较器的方法和设备技术

本公开的实施例涉及用于测试比较器的方法和设备。一种用于片上系统SoC的设备，该设备包括：比较器，包括第一输入端口、第二输入端口和输出端口。第一输入信号和第二输入信号被划分成N个比特对，该N个比特对包括来自第一输入信号的一个比特和来自第二输入信号的一个比特。该比较器被配置为使得第一输入信号与第二输入信号之间的失配导致输出信号呈现第一预期状态。该设备还包括测试控制器，该测试控制器用于通过使N个比特对失配并验证输出信号呈现第一预期状态来执行第一可操作性测试。现第一预期状态来执行第一可操作性测试。现第一预期状态来执行第一可操作性测试。

【技术实现步骤摘要】
用于测试比较器的方法和设备


[0001]本专利技术涉及用于测试比较器的方法和设备。

技术介绍

[0002]比较器经常在测试和验证各种机器和设备的零部件是否正确操作方面扮演重要角色。在许多应用中，用户的健康和安全考虑可能取决于一个或多个比较器的可靠操作。但是，比较器本身可能会出现错误。利用内置自测试(Built
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in Self Test，BIST)测试比较器操作以检测比较器中的错误并防止它们影响设备的功能或验证设备的功能可以是有利的。这种BIST也可以测试自故障。

技术实现思路

[0003]根据本专利技术的实施例，一种用于片上系统(SOC)的内置自测试设备包括：比较器，设置在SOC上，该比较器包括：第一输入端口，用于接收第一输入信号；第二输入端口，用于接收第二输入信号；输出端口，用于产生输出信号；并且其中第一输入信号和第二输入信号被划分成N个比特对，每个比特对包括来自第一输入信号的一个比特和来自第二输入信号的一个比特；并且其中比较器被配置为使得第一输入信号与第二输入信号之间的失配导致输出信号包括第一预期状态。S本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于片上系统SOC的内置自测试设备，所述内置自测试设备包括：比较器，设置在所述SOC上，并且包括：第一输入端口，用于接收第一输入信号；第二输入端口，用于接收第二输入信号；输出端口，用于产生输出信号；其中所述第一输入信号和所述第二输入信号被划分成N个比特对，每个比特对包括来自所述第一输入信号的一个比特和来自所述第二输入信号的一个比特；并且其中所述比较器被配置为使得所述第一输入信号与所述第二输入信号之间的失配导致所述输出信号包括第一预期状态；以及测试控制器，设置在所述SOC上，并且与所述第一输入端口、所述第二输入端口和所述输出端口耦合，所述测试控制器被配置为通过以下来执行第一可操作性测试：生成针对所述N个比特对中的每个比特对的失配，并响应于针对所述N个比特对中的每个比特对的所述失配来验证所述输出信号包括所述第一预期状态。2.根据权利要求1所述的设备，其中所述测试控制器被配置为一次一个地使所述N个比特对失配。3.根据权利要求1所述的设备，其中所述比较器被配置为使得所述第一输入信号与所述第二输入信号之间的匹配导致所述输出信号包括第二预期状态；并且所述测试控制器被配置为通过使所述N个比特对匹配并验证所述输出信号包括所述第二预期状态来执行第二可操作性测试。4.根据权利要求1所述的设备，其中所述比较器包括：或树，包括用于产生或树输出信号的或树输出；以及N个异或门，每个异或门接收所述N个比特对中的一个比特对，并且每个异或门包括与所述或树的输入耦合的异或输出。5.根据权利要求4所述的设备，其中所述测试控制器被配置为：接收初始化信号以初始化所述第一可操作性测试；输出测试完成信号；以及输出测试结果信号。6.根据权利要求5所述的设备，进一步地其中：所述测试控制器包括：有限状态机，接收所述初始化信号；二进制计数器，与所述有限状态机通信，并且被配置为在所述有限状态机接收到所述初始化信号之后，从1到N初始化计数；并且其中所述测试控制器被配置为通过基于所述计数一次一个地生成所述N个比特对中的每个比特对的所述失配来执行所述第一可操作性测试。7.根据权利要求6所述的设备，进一步地其中：所述N个异或门中的每个异或门包括用于接收来自所述第一输入信号的第一比特的第一异或输入、以及用于接收来自所述第二输入信号的第二比特的第二异或输入；并且其中所述测试控制器还包括与所述二进制计数器耦合的二进制解码器，所述二进制解码器包括与所述N个异或门的所述第二异或输入耦合的N个二进制计数器输出。8.根据权利要求1所述的设备，还包括根据权利要求1的一个或多个附加的比较器，其中所述测试控制器与所述一个或多个附加的比较器中的每个附加的比较器的所述第一输
入端口、所述第二输入端口和所述输出端口耦合，并且被配置为针对所述一个或多个附加的比较器中的每个附加的比较器执行所述第一可操作性测试。9.一种系统，包括根据权利要求1所述的一个或多个设备，并且还包括错误测试控制器，所述错误测试控制器设置在所述SOC上，并且与所述一个或多个设备的每个测试控制器耦合，并且被配置为向所述一个或多个设备的每个测试控制器递送初始化信号以开始第一可操作性测试，并且所述错误测试控制器被配置为从所述测试控制器接收传达第一可操作性测试的结果的数据信号。10.根据权利要求9所述的系统，包括与所述错误测试控制器耦合的比较器收集器和根据权利要求1所述的多个设备，其中所述比较器收集器用于在所述错误测试控制器与所述多个设备的所述测试控制器之间路由初始化信号和数据信号。11.一种用于测试比较器的操作的系统，包括：所述比较器，包括：第一输入端口，被配置为接收N个比特；第二输入端口，被配置为接收N个比特，其中所述第二输入端口的所述N个比特和所述第一输入端口的所述N个比特被划分成N个比特对；以及输出端口，被配置为当所述N个比特对中的任何比特对失配时产生具有第一预期状态的输出信号；第一电路，被配置为产生包括N个比特的第一信号；第二电路，被配置为产生包括N个比特的第二信号；测试控制器，被配置为产生测试使能信号；选择电路，耦合到所述第一电路、所述第二电路和所述测试控制器，所述选择电路被配置为：当所述测试使能信号处于第一状态时，将所述第一信号传递到所述第一输入端口，并且将所述第二信号传递到所述第二输入端口，以及当所述测试使能信号处于第二状态时，将第一测试信号从所述测试控制器传递到所述第一输入端口，并且将第二测试信号从所述测试控制器传递到所述第二输入端口；并且其中所述测试控制器被配置为通过以下来对所述比较器执行可操作性测试：将所述测试使能信号设置为所述第二状态，并改变所述第一测试信号、所述第二测试信号或所述第一测试信号和所述第二测试信号两者以使所述N个比特对失配。12.根据权利要求11所...

【专利技术属性】
技术研发人员：V，
申请(专利权)人：意法半导体国际有限公司，
类型：发明
国别省市：