【技术实现步骤摘要】
拉伸测试装置以及系统
[0001]本申请涉及半导体
，具体涉及一种拉伸测试装置以及系统。
技术介绍
[0002]目前，对于包括阳极层、阴极层、电子传输层以及空穴传输层的半导体发光器件(例如量子点器件、有机发光二极体等)，当该类型的半导体器件在进行光电转换时，带负电的电子将从价带激发到导带上，激发后的位置会留下带正电的空穴，而电子与空穴会进一步形成一个束缚对，即激子。
[0003]随着光电转换的进行激子密度增大，激子之间开始出现无规律碰撞并相互抵消的现象，即激子湮灭(EEA)现象，从而导致一定数量的激子能量以热量的形式消散，如果不加以抑制，将会导致半导体器件的光学特性(例如发光亮度)衰减。
技术实现思路
[0004]为此，本申请提供一种拉伸测试装置以及系统，旨在解决如何测量发光件在拉伸状态下光学特性的技术问题。
[0005]第一方面，本申请提供一种拉伸测试装置，包括：
[0006]第一测量机构，第一测量机构用于测量发光件的光学特性；
[0007]第一夹持机构以及第二夹持机构，第一夹持机构和第二夹持机构用于分别夹持发光件的两端；
[0008]驱动机构，驱动机构用于驱动第一夹持机构和第二夹持机构中的至少一者移动并拉伸发光件，以测量发光件在拉伸状态下的光学特性。
[0009]在一些实施例中，还包括遮光罩，遮光罩罩住至少部分发光件，第一测量机构位于遮光罩内。
[0010]在一些实施例中，遮光罩包括接触部以及位于接触部两侧的第一搭接部和第二搭接部；>[0011]第一搭接部与第一夹持机构接触，第二搭接部与第二夹持机构接触，接触部相对于第一搭接部和第二搭接部凸起并罩住部分发光件。
[0012]在一些实施例中，第一搭接部设有用于吸附第一夹持机构的第一磁铁，第二搭接部设有用于吸附第二夹持机构的第二磁铁；和/或者
[0013]第一夹持机构设有用于吸附第一搭接部的第三磁铁，第二夹持机构设有用于吸附第二搭接部的第四磁铁。
[0014]在一些实施例中，第一磁铁对第一夹持机构的磁力大于第二磁铁对第二夹持机构的磁力；和/或者
[0015]第三磁铁对第一搭接部的磁力大于第四磁铁对第二搭接部的磁力。
[0016]在一些实施例中，第一夹持机构包括第一紧固螺栓、第一上夹板以及第一下夹板，第二夹持机构包括第二紧固螺栓、第二上夹板以及第二下夹板；
[0017]第一紧固螺栓连接第一上夹板和第一下夹板，第二紧固螺栓连接第一上夹板和第一下夹板。
[0018]在一些实施例中，第一夹持机构设有第一电连接件，第二夹持机构设有第二电连接件；
[0019]第一电连接件设置于第一上夹板朝向第一下夹板的表面上，第二电连接件设置于第二下夹板朝向第二上夹板的表面上；或者
[0020]第一电连接件设置于第一下夹板朝向第一上夹板的表面上，第二电连接件设置于第二上夹板朝向第二下夹板的表面上。
[0021]在一些实施例中，第一下夹板固定有导向柱，第二下夹板设有与导向柱配合的导向槽。
[0022]在一些实施例中，驱动机构包括滚珠丝杠以及滚珠螺母，滚珠丝杠与导向柱平行设置；
[0023]滚珠螺母与滚珠丝杠转动配合，且滚珠螺母固定于第一夹持机构或第二夹持机构上。
[0024]在一些实施例中，驱动机构还包括角度传感器，角度传感器用于测量滚珠丝杠的转动角度。
[0025]在一些实施例中，还包括第二测量机构，第二测量机构用于测量发光件的温度；
[0026]第一测量机构和第二测量机构分别位于发光件的两侧。
[0027]第二方面，本申请还提供一种拉伸测试系统，包括如第一方面所述的测试装置。
[0028]本申请将发光件夹持在第一夹持机构和第二夹持机构上，通过驱动机构控制第一夹持机构和/或第二夹持机构移动对发光件进行拉伸，最终通过第一测量机构得到发光件的光学特性，为研究半导体器件在拉伸情况下的特性提供了解决方案，填补了现有技术的空白。
附图说明
[0029]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0030]图1是本申请实施例中提供的拉伸测试装置的一种结构示意图；
[0031]图2是本申请实施例中提供的拉伸测试装置的另外一种结构示意图；
[0032]图3是本申请实施例中提供的驱动机构与夹持机构的一种机构示意图；
[0033]图4是本申请实施例图3中A处的一种放大示意图；
[0034]图5是本申请实施例图3中B处的一种放大示意图；
[0035]图6是本申请实施例中提供的遮光罩的一种结构示意图。
[0036]其中：1发光件，10第一测量机构；
[0037]20第一夹持机构，21第一紧固螺丝，22第一上夹板，23第一下夹板，24 第一电连接件，25导向柱，26第三磁铁；
[0038]30第二夹持机构，31第二紧固螺丝，32第二上夹板，33第二下夹板，34 第二电连接
件，35导向槽，36第四磁铁；
[0039]40驱动机构，41滚珠丝杠，42滚珠螺母；
[0040]50遮光罩，51接触部，52第一搭接部，53第二搭接部，54测量空间，55 第一磁铁，56第二磁铁；
[0041]60第二测量机构。
具体实施方式
[0042]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0043]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0044]在本申请中，“示例性”一词用来表示“用作例子、例证或说明”。本申请中被描述为“示例性”的任何实施例不一定被解释为比其它实施例更优选或更具优势。为了使本领域任何技术人员能够实现和使用本技术，给出了以下描述。在以下描本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种拉伸测试装置，其特征在于，包括：第一测量机构，所述第一测量机构用于测量发光件的光学特性；第一夹持机构以及第二夹持机构，所述第一夹持机构和所述第二夹持机构用于分别夹持所述发光件的两端；驱动机构，所述驱动机构用于驱动所述第一夹持机构和所述第二夹持机构中的至少一者移动并拉伸所述发光件，以测量所述发光件在拉伸状态下的光学特性。2.如权利要求1所述的拉伸测试装置，其特征在于，还包括遮光罩，所述遮光罩罩住至少部分所述发光件，所述第一测量机构位于所述遮光罩内。3.如权利要求2所述的拉伸测试装置，其特征在于，所述遮光罩包括接触部以及位于所述接触部两侧的第一搭接部和第二搭接部；所述第一搭接部与所述第一夹持机构接触，所述第二搭接部与所述第二夹持机构接触，所述接触部相对于所述第一搭接部和所述第二搭接部凸起并罩住部分所述发光件。4.如权利要求3所述拉伸测试装置，其特征在于：所述第一搭接部设有用于吸附所述第一夹持机构的第一磁铁，所述第二搭接部设有用于吸附所述第二夹持机构的第二磁铁；和/或者所述第一夹持机构设有用于吸附所述第一搭接部的第三磁铁，所述第二夹持机构设有用于吸附所述第二搭接部的第四磁铁。5.如权利要求4所述拉伸测试装置，其特征在于，所述第一磁铁对所述第一夹持机构的磁力大于所述第二磁铁对所述第二夹持机构的磁力；和/或者所述第三磁铁对所述第一搭接部的磁力大于所述第四磁铁对所述第二搭接部的磁力。6.如权利要求1所述的拉伸测试装置，其特征在于，所述第一夹持机构包括第一紧固螺栓、第一上...
【专利技术属性】
技术研发人员：郭佺，洪佳婷，王成，芦子哲，袁密，关慧渝，
申请(专利权)人：TCL科技集团股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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