一种电容式触摸按键的自动化测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种电容式触摸按键的自动化测试系统，包括：MCU单元、n个模拟测试单元和n个灵敏度调节单元；MCU单元分别与模拟测试单元、灵敏度调节单元和受测芯片或电子产品电性连接；受测芯片或电子产品上具有n个待测按键；模拟测试单元分别与待测按键的金属圈和灵敏度调节单元一一对应电性连接，组成n组测试通路；MCU单元用于控制n组测试通路中，模拟测试单元的切换、打开及关断，且接收受测芯片或电子产品回馈的按键键值信息，并控制灵敏度调节单元的电容值的改变。本发明专利技术能够实现对受测芯片或电子产品中各个触摸按键的自动化测试，测试效率高、可靠性高、且能降低测试成本。且能降低测试成本。且能降低测试成本。

【技术实现步骤摘要】
一种电容式触摸按键的自动化测试系统


[0001]本专利技术涉及触摸按键验证和检测
，更具体的说是涉及一种电容式触摸按键的自动化测试系统。

技术介绍

[0002]目前，使用电容式触摸按键的产品在生活中比比皆是，在产品功能测试中一般采用如下的方法：1.人工每个按键进行触摸按键测试；2.制作机械臂，模拟人触摸按键，实现按键测试。以上两种方案存在以下弊端，如果是人工操作，效率低，成本高，且受到人为测试因素的影响，可能有漏测情况。如果是机械臂模拟人触摸按下，同样具有成本高，效率低，可靠性不够以及客观一致性不够的问题。
[0003]因此，如何提供一种能够实现自动化测试，确保每个电容式触摸按键功能正常，大幅利提高测试效率和测试可靠性的电容式触摸按键的自动化测试系统是本领域技术人员亟需解决的问题。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术提供了一种电容式触摸按键的自动化测试系统，能够实现对受测芯片或电子产品中各个触摸按键的自动化测试，测试效率高、可靠性高、且能降低测试成本。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术采本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电容式触摸按键的自动化测试系统，其特征在于，包括：MCU单元、n个模拟测试单元和n个灵敏度调节单元；所述MCU单元分别与所述模拟测试单元、所述灵敏度调节单元和受测芯片或电子产品电性连接；所述受测芯片或电子产品上具有n个待测按键；所述模拟测试单元分别与所述待测按键的金属圈和所述灵敏度调节单元一一对应电性连接，组成n组测试通路；所述MCU单元用于控制n组测试通路中，所述模拟测试单元的切换、打开及关断，且接收所述受测芯片或电子产品回馈的按键键值信息，并控制所述灵敏度调节单元的电容值的改变。2.根据权利要求1所述的一种电容式触摸按键的自动化测试系统，其特征在于，所述模拟测试单元包括电阻R1、电阻R2、三极管Q1和继电器K1；其中，电阻R1的一端与所述MCU单元的GPIO高低控制信号输出端连接，另一端分别与电阻R2的一端和三极管Q1的基极连接；电阻R2的另一端和三极管Q1的发射极均接地；三极管Q1的集电极与继电器K1线圈的一端连接，继电器K1线圈的另一端接VCC电源；继电器K1的常开触点的两端分别与所述灵敏度调节单元和所述待测按键的金属圈连接。3.根据权利要求1所述的一种电...

【专利技术属性】
技术研发人员：母大学，顾晗，郑国荣，马学伟，
申请(专利权)人：大唐半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：