基于透射成像的检测方法和检测装置以及检测系统制造方法及图纸

本申请提供了基于透射成像的检测方法和检测装置以及检测系统。基于本申请，可以利用第一透射成像组件对待检对象处于第一检测位置的目标部位透射成像，第一透射成像组件产生的第一透射成像数据，可以用于调节第二透射成像组件所使用的透射成像参数配置集，并且，当该目标部位到达第二检测位置时，第二透射成像组件可以基于透射成像参数配置集对该目标部位透射成像，得到用于生成检测图像的第二透射成像数据。由于第二透射成像数据是基于与目标透射部位相适配的透射成像参数配置集产生的，因而有助于由其表征的目标部位的内部构造信息在检测图像中的呈现效果达到期望的清晰度和对比度等指标，从而有助于提高检测图像的成像质量。像质量。像质量。

【技术实现步骤摘要】
基于透射成像的检测方法和检测装置以及检测系统


[0001]本申请涉及检测领域，特别涉及一种基于透射成像的检测方法、一种基于透射成像的检测装置、以及一种基于透射成像的检测系统。

技术介绍

[0002]利用诸如X射线等透射射线对待检对象透射成像，可以获得待检对象的内部构造信息。例如，在安检领域，待检对象可以为包裹或便携箱包，通过透射成像可以检测出包裹或便携箱包内部的危险物品或有害物品。再例如，在工业检测领域，待检测对象可以为食品或工业零部件，利用透射成像可以检测出食品内部的异物或工业零部件的结构缺陷。
[0003]透射成像的成像质量受透射成像参数的影响，若配置的透射成像参数不能使透射射线适当地穿透待检对象后触发合理的感应成像，则，待检对象的内部构造信息在检测图像中的呈现效果不能达到期望的清晰度和对比度等指标，导致检测图像的质量不高。
[0004]因此，如何通过配置透射成像参数，改善透射成像的成像质量，成为现有技术中有待解决的技术问题。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，本申请的各实施例分别提供了一种基于透射成像的检测方法、一种基于透射成像的检测装置、以及一种基于透射成像的检测系统，有助于改善透射成像的成像质量。
[0006]在一个实施例中，提供了一种基于透射成像的检测方法，包括：
[0007]获取第一透射成像组件对待检对象在第一检测位置处的目标部位透射成像得到的第一透射成像数据，其中，所述第一检测位置为所述目标部位到达第二检测位置之前的前置检测位置；
[0008]基于所述第一透射成像数据，为所述第二检测位置对应的第二透射成像组件确定与所述目标部位相适配的透射成像参数配置集；
[0009]控制所述透射成像参数配置集在所述第二透射成像组件的配置生效，以使得所述第二透射成像组件响应于所述目标部位从所述第一检测位置到达所述第二检测位置，基于所述透射成像参数配置集对所述目标部位透射成像，得到用于生成所述待检对象的检测图像的第二透射成像数据。
[0010]可选地，所述基于所述第一透射成像数据，为所述第二检测位置对应的第二透射成像组件确定与所述目标部位相适配的透射成像参数配置集，包括：基于所述第一透射成像数据，确定所述待检对象在所述目标部位的对象部位属性；以及，基于所述对象部位属性，确定所述透射成像参数配置集。
[0011]可选地，所述对象部位属性包括部位衰减属性和部位构造属性中的至少之一，其中，所述部位衰减属性用于表征透射射线在所述目标部位的衰减能力，并且，所述部位构造属性用于表征所述目标部位物质构造；所述基于所述第一透射成像数据，确定所述待检对
象在所述目标部位的对象部位属性，包括：基于所述第一透射成像数据，确定所述第一透射成像组件产生的透射射线在所述目标部位的部位衰减程度、所述目标部位的等效原子序数、以及所述目标部位的部位构造拓扑中的至少之一；基于所述部位衰减程度、所述等效原子序数以及所述部位构造拓扑中的至少之一，确定所述部位衰减属性和所述部位构造属性中的至少之一。
[0012]可选地，所述基于所述衰减程度、所述原子序数以及所述构造拓扑中的至少之一，确定所述部位衰减属性和所述部位构造属性中的至少之一，包括：确定所述部位衰减程度所对应的部位等效穿透厚度，和/或，确定所述等效原子序数的原子序数取值，和/或，确定所述部位构造拓扑所对应的部位构造复杂程度，和/或，确定所述等效原子序数所对应的部位物质种类数量；其中，所述部位衰减属性包括所述部位等效穿透厚度和所述原子序数取值中的至少之一；并且，所述部位构造属性包括所述部位构造复杂程度和所述部位物质种类数量中的至少之一。
[0013]可选地，所述对象部位属性包括部位衰减属性，其中，所述部位衰减属性用于表征透射射线在所述目标部位的衰减能力；所述基于所述对象部位属性，确定所述透射成像参数配置集，包括：确定与所述部位衰减属性相适配的射线特性参数，其中，所述射线特性参数用于配置所述第二透射成像组件产生的透射射线的射线特性。
[0014]可选地，所述部位衰减属性包括所述目标部位的部位等效穿透厚度和原子序数取值中的至少之一；所述确定与所述部位衰减属性相适配的射线特性参数，包括：基于所述部位等效穿透厚度和所述原子序数取值，确定所述第二透射成像组件产生的透射射线的射线能谱和射线强度中的至少之一，其中，所述射线特性参数包括所述射线能谱和所述射线强度中的至少之一。
[0015]可选地，所述对象部位属性包括部位构造属性，其中，所述部位构造属性用于表征所述目标部位的物质构造；所述基于所述对象部位属性，确定所述透射成像参数配置集，包括：确定与所述部位构造属性相适配的成像感应参数，其中，所述成像感应参数用于配置所述第二透射成像组件对透射射线的感应特性。
[0016]可选地，所述部位构造属性包括所述目标部位的部位构造复杂程度和部位物质种类数量中的至少之一；所述确定与所述部位构造属性相适配的成像感应参数，包括：基于所述部位构造复杂程度和所述部位物质种类数量，确定所述成像感应参数，其中，所述成像感应参数包括下述至少一个参数：所述第二透射成像组件对透射射线感应成像的积分时间、所述第二透射成像组件对透射射线感应成像的成像分辨率、以及所述第二透射成像组件对透射射线的感应灵敏度。
[0017]可选地，所述控制所述透射成像参数配置集在所述第二检测位置对应的第二透射成像组件的配置生效，包括：基于对所述目标部位相对于所述第二透射成像组件的相对位置变化的预测结果，确定所述透射成像参数配置集的配置生效时刻。
[0018]可选地，所述待检对象的彼此邻接的多个部位依次作为所述目标部位，引发所述多个部位中的每个部位对应的所述第一透射成像数据产生、所述每个部位对应的所述透射成像参数配置集的确定、所述每个部位对应的所述透射成像参数配置集在所述第二透射成像组件的配置生效、以及所述每个部位对应的所述第二透射成像数据的产生；所述检测方法进一步包括：对所述待检对象的所述多个部位分别对应的所述第二透射成像数据进行灰
度校正处理，得到所述多个部位分别对应的透射成像校正数据，其中，所述灰度校正处理用于补偿所述多个部位之间的成像灰度差异，所述成像灰度差异与所述多个部位分别对应的所述透射成像参数配置集之间的参数差异关联；利用所述多个部位分别对应的所述透射成像校正数据，得到所述待检对象的检测图像。
[0019]可选地，所述第一透射成像组件被配置为基于缺省透射成像参数配置集，依次以所述多个部位中的每个部位为所述目标部位产生对应的所述第一透射成像数据；所述对所述待检对象的所述多个部位分别对应的所述第二透射成像数据进行灰度校正处理，得到所述多个部位分别对应的透射成像校正数据，包括：以所述多个部位中的每个部位对应的所述第一透射成像数据为校正参考数据，对该部位对应的所述第二透射成像数据进行灰度校正处理，得到所述多个部位分别对应的所述透射成像校正数据。
[0020]在另一个实施例中，提供了一种基于透射成像的检测装置，包括：
[0021]前置本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于透射成像的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：获取第一透射成像组件对待检对象在第一检测位置处的目标部位透射成像得到的第一透射成像数据，其中，所述第一检测位置为所述目标部位到达第二检测位置之前的前置检测位置；基于所述第一透射成像数据，为所述第二检测位置对应的第二透射成像组件确定与所述目标部位相适配的透射成像参数配置集；控制所述透射成像参数配置集在所述第二透射成像组件的配置生效，以使得所述第二透射成像组件响应于所述目标部位从所述第一检测位置到达所述第二检测位置，基于所述透射成像参数配置集对所述目标部位透射成像，得到用于生成所述待检对象的检测图像的第二透射成像数据。2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述基于所述第一透射成像数据，为所述第二检测位置对应的第二透射成像组件确定与所述目标部位相适配的透射成像参数配置集，包括：基于所述第一透射成像数据，确定所述待检对象在所述目标部位的对象部位属性；基于所述对象部位属性，确定所述透射成像参数配置集。3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述对象部位属性包括部位衰减属性和部位构造属性中的至少之一，其中，所述部位衰减属性用于表征透射射线在所述目标部位的衰减能力，并且，所述部位构造属性用于表征所述目标部位物质构造；所述基于所述第一透射成像数据，确定所述待检对象在所述目标部位的对象部位属性，包括：基于所述第一透射成像数据，确定所述第一透射成像组件产生的透射射线在所述目标部位的部位衰减程度、所述目标部位的等效原子序数、以及所述目标部位的部位构造拓扑中的至少之一；基于所述部位衰减程度、所述等效原子序数以及所述部位构造拓扑中的至少之一，确定所述部位衰减属性和所述部位构造属性中的至少之一。4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述基于所述衰减程度、所述原子序数以及所述构造拓扑中的至少之一，确定所述部位衰减属性和所述部位构造属性中的至少之一，包括：确定所述部位衰减程度所对应的部位等效穿透厚度，和/或，确定所述等效原子序数的原子序数取值，和/或，确定所述部位构造拓扑所对应的部位构造复杂程度，和/或，确定所述等效原子序数所对应的部位物质种类数量；其中，所述部位衰减属性包括所述部位等效穿透厚度和所述原子序数取值中的至少之一；并且，所述部位构造属性包括所述部位构造复杂程度和所述部位物质种类数量中的至少之一。5.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述对象部位属性包括部位衰减属性，其中，所述部位衰减属性用于表征透射射线在
所述目标部位的衰减能力；所述基于所述对象部位属性，确定所述透射成像参数配置集，包括：确定与所述部位衰减属性相适配的射线特性参数，其中，所述射线特性参数用于配置所述第二透射成像组件产生的透射射线的射线特性。6.根据权利要求5所述的检测方法，其特征在于，所述部位衰减属性包括所述目标部位的部位等效穿透厚度和原子序数取值中的至少之一；所述确定与所述部位衰减属性相适配的射线特性参数，包括：基于所述部位等效穿透厚度和所述原子序数取值，确定所述第二透射成像组件产生的透射射线的射线能谱和射线强度中的至少之一，其中，所述射线特性参数包括所述射线能谱和所述射线强度中的至少之一。7.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述对象部位属性包括部位构造属性，其中，所述部位构造属性用于表征所述目标部位的物质构造；所述基于所述对象部位属性，确定所述透射成像参数配置集，包括：确定与所述部位构造属性相适配的成像感应参数，其中，所述成像感应参数用于配置所述第二透射成像组件对透射射线的感应特性。8.根据权利要求7所述的检测方法，其特征在于，所述部位构造属性包括所述目标部位的部位构造复杂程度和部位物质种类数量中的至少之一；所述确定与所述部位构造属性相适配的成像感应参数，包括：基于所述部位构造复杂程度和所述部位物质种类数量，确定所述成像感应参数，其中，所述成像感应参数包括下述至少一个参数：所述第二透射成像组件对透射射线感应成像的积分时间、所述第二透射成像组件对透射射线感应成像的成像分辨率、以及所述第二透射成像组件对透射射线的感应灵敏度。9.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述控制所述透射成像参数配置集在所述第二检测位置对应的第二透射成像组件的配置生效，包括：基于对所述目标部位相对于所述第二透射成像组件的相对位置变化的预测结果，确定所述透射成像参数配置集的配置生效时刻。10.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述待检对象的彼此邻接的多个部位依次作为所述目标部位，引发所述多个部位中的每个部位对应的所述第一透射成像数据产生、所述每个部位对应的所述透射成像参数配置集的确定、所述每个部位对应的所述透射成像参数配置集在所述第二透射成像组件的配置生效、以及所述每个部位对应的所述第二透射成像数据的产生；所述检测方法进一步包括：对所述待检对象的所述多个部位分别对应的所述第二透射成像数据进行灰度校正处理，得到所述多个部位分别对应的透射成像校正数据，其中，所述灰度校正处理用于补偿所述多个部位之间的成...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵中玮，冉友明，吴剑锋，刘晨，
申请(专利权)人：杭州睿影科技有限公司，
类型：发明
国别省市：