一种用于天线OTA测试的球面采样方法技术

本发明专利技术公开了一种用于天线OTA测试的球面采样方法，包括步骤1：根据待测天线口径，计算θ轴最小采样间隔Δθ及赤道线上φ轴的最小采样间隔Δφ；步骤2：计算θ点数；步骤3：取i＝0，根据步骤2计算的θ点数，计算θ角度坐标θ

【技术实现步骤摘要】
一种用于天线OTA测试的球面采样方法


[0001]本专利技术涉及无线通信
，尤其是一种用于天线OTA测试的球面采样方法。

技术介绍

[0002]随着移动通信技术特别是5G通信的发展，阵列天线得到广泛应用，除移动终端外，基站天线系统也已经将射频处理部分与前端天线高度集成化，成为有源阵列天线系统，集成后很难将前后端分离，天线的增益也就无法直接测量，天线的总辐射功率(Total Radiated Power，TRP)已经是衡量其辐射性能的重要指标，因此TRP的测量在有源天线的研发生产中十分重要。
[0003]采样间隔对TRP的计算精度影响较大，现有技术中的采样方法有三种，第一种为：等角度采样的采样点分布如图2所示，从图中可以看出点在球面上分布并不均匀，在极点(θ＝0
°
)附近采样密度相对于赤道(θ＝90
°
)附近更高，要满足最稀疏位置的采样间隔要求，极点位置就会密度过高，产生冗余采样。
[0004]为了提高采样效率3GPP标准又给出了另外两种球面采样方式：等面积采样和Fibonacci采样，等本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于天线OTA测试的球面采样方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤1：根据待测天线口径，计算θ轴最小采样间隔Δθ及赤道线上φ轴的最小采样间隔Δφ；步骤2：计算θ点数，其中round为取整函数；步骤3：取i＝0，根据步骤2计算的θ点数，计算θ角度坐标其中offset为θ采样偏移值；步骤4：根据θ
i
取值，计算当前θ
i
角度下的φ点数其中round为取整函数；步骤5：取j＝0，根据步骤4计算的N
φi
，计算φ角度坐标记录当前采样点(θ
i
,φ
ij
)；步骤6：将j增加1，循环执行步骤5，直到φ
ij
≥2π或j>N
φi
‑
1；步骤7：将i增加1，循环执行步骤3～6，直到θ
i
≥π或i>N
θ
‑
1，完成采样点取值。2.根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜刘革，仝淑娴，呼延思腾，赵佳，
申请(专利权)人：山东大学，
类型：发明
国别省市：