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本发明公开了一种用于天线OTA测试的球面采样方法，包括步骤1：根据待测天线口径，计算θ轴最小采样间隔Δθ及赤道线上φ轴的最小采样间隔Δφ；步骤2：计算θ点数；步骤3：取i＝0，根据步骤2计算的θ点数，计算θ角度坐标θ
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该专利属于山东大学所有，仅供学习研究参考，未经过山东大学授权不得商用。

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