【技术实现步骤摘要】
VerilogRTL代码加固方法及相关设备
[0001]本专利技术涉及编程
,尤其涉及一种Verilog RTL代码加固方法及相关设备。
技术介绍
[0002]当数字集成电路应用于航空、航天、医疗、工业场景等严苛环境时,集成电路常常会受到宇宙射线、带电粒子以及各种干扰的影响,导致电路内部出现数据的错误翻转。
[0003]如果错误翻转出现在存储电路当中,会导致存储的数值出现由0到1或由1到0的错误翻转,这是非常严重的错误。如果在SRAM、DRAM中出现误翻转,会导致数据出错;如果误翻转出现在触发器、锁存器中,则会导致数据出错、甚至更严重的电路功能出错。
技术实现思路
[0004]鉴于上述问题,本专利技术提供一种Verilog RTL代码加固方法及相关设备,主要目的在于解决目前缺少一种适当的加固方式以使电路能够抵抗0、1错误翻转的问题。
[0005]为解决上述至少一种技术问题,第一方面,本专利技术提供了一种Verilog RTL代码加固方法,该方法包括:
[0006]获取原始Veri ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
RTL代码加固方法。10.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括至少一个处理器、以及与所述处理器连接的至少一个存储器;其中,所...
【专利技术属性】
技术研发人员:谢元禄,张坤,呼红阳,霍长兴,习凯,季兰龙,卢年端,
申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。