多存储卡的测试方法、装置、计算机设备及存储介质制造方法及图纸

本申请属于存储技术领域，涉及一种多存储卡的测试方法、装置、计算机设备及存储介质，所述方法包括步骤：获取将数据和多存储卡的编号写入多存储卡的写入命令，所述写入命令携带所述数据和所述编号；解析所述写入命令，获得所述数据和所述编号，将所述数据按照所述编号写入多存储卡中；从每两个不同编号的多存储卡中读取所述数据，将读取到的数据放入比对电路中进行异或运算，根据异或运算结果判断多存储卡是否正常。采用本申请，通过对多存储卡进行编号，将数据同时写入多个多存储卡，毋须依赖人力，能自动化执行存储卡的测试，节省成本且能够提升测试效率，测试可靠且易于实现，可普遍适用于存储卡的测试中。适用于存储卡的测试中。适用于存储卡的测试中。

【技术实现步骤摘要】
多存储卡的测试方法、装置、计算机设备及存储介质


[0001]本申请涉及存储
，尤其涉及多存储卡的测试方法、装置、计算机设备及存储介质。

技术介绍

[0002]随着信息处理技术的发展，对存储装置的需求显著增加。小型的存储装置，如存储卡，由于携带方便、高数据储存量及易于存取的优点而广为使用。基于存储卡的需求增加，于存储卡量产前，存储卡测试流程的重要性也相对提升，并进一步确保存储卡的效能及兼容性。因此，对系统制造商及设计者而言，低成本及高效能的存储卡测试成为一个重要的课题。
[0003]传统对存储卡测试时，需测试人员手动及逐步地处理测试，用以确保存储卡的效能。举例来说，需通过测试人员手动地插入或拔除每一张存储卡来进行测试。在测试流程中，需要各种不同的测试装置，用以确保存储卡的效能及兼容性。可见传统使用的存储卡测试流程不仅费时也成本昂贵。现有技术中对存储卡的测试原理是，将同一笔数据写入多个存储卡中，然后将数据读出来，验证读出来的数据和写入的数据的吻合度，以此来进行存储卡的操作。
[0004]此项测试操作有几个特点：一是数据量比较大本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多存储卡的测试方法，其特征在于，包括下述步骤：获取将数据和多存储卡的编号写入多存储卡的写入命令，所述写入命令包括所述数据和所述编号；解析所述写入命令，获得所述数据和所述编号，将所述数据按照所述编号写入多存储卡中；从每两个不同编号的多存储卡中读取所述数据，将读取到的数据存入比对电路中进行异或运算，根据异或运算的结果来判断所述两个不同编号的多存储卡是否正常。2.根据权利要求1所述的多存储卡的测试方法，其特征在于，在所述获取将数据和多存储卡的编号写入多存储卡的写入命令，所述写入命令携带所述数据和所述编号的步骤之前还包括：设置写入命令的规则。3.根据权利要求1所述的多存储卡的测试方法，其特征在于，所述解析所述写入命令，获得所述数据和所述编号，将所述数据按照所述编号写入多存储卡中的步骤具体包括：解析所述写入命令，获得所述数据和所述编号；将获得的所述数据缓存至缓存区中；将缓存区中的数据按照所述编号写入多存储卡中。4.根据权利要求1所述的多存储卡的测试方法，其特征在于，所述从每两个不同编号的多存储卡中读取所述数据，将读取到的数据放入比对电路中进行异或运算，根据异或运算结果判断多存储卡是否正常的步骤具体包括：按照多存储卡的编号进行两两分组；从每两个不同编号的多存储卡中读取所述数据，将读取到的数据放入比对电路中进行异或运算；如果异或运算结果为0，则判断这两个不同编号的多存储卡是正常的，如果异或运算结果为1，则判断这两个不同编号的多存储卡有一个卡是异常的；对有异常的多存储卡的组别进行标识，再将有异常的多存储卡的组别中的每一个多存储卡与已经检测出的正常的多存储卡进行异或运算，直到检测出所有...

【专利技术属性】
技术研发人员：赖振楠，王嗣钧，
申请(专利权)人：深圳宏芯宇电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：