【技术实现步骤摘要】
一种基于五芯光纤的低损耗五模模分复用器及D型传感器
[0001]本专利技术属于光纤器件领域,涉及一种基于五芯光纤的低损耗五模模分复用器及D型传感器
技术介绍
[0002]信息技术是推动社会进步的重要技术之一,信息现代化已成为推动社会发展的重要动力。特别是随着5G、6G、物联网、远程诊疗和智慧城市等的兴起,大容量的信息化传输能力已成为信息现代化的必要基础,而干线的传输容量已近极限,因此大力发展新的空分或模分复用技术已成必然。
[0003]模分复用是引入模式作为一个新的自由度来对传输信道进行扩容的一种技术,在基于光纤结构的模分复用系统中每一种模式都被认为是一独立的信道。模分复用系统的核心在于模分复用器的设计,目前的技术主要有基于自由空间光路的相位屏、“光子灯笼”、全光纤型耦合器等。现有的模分复用器,存在尺寸较大且难以与后续长距离光纤模式复用波导对接的问题,这使得难以适用于小型化和集成化模分复用系统。
[0004]近年,表面等离子体共振效应(SPR)已被广泛应用于微结构光纤的传感领域之中。其中,基于表面等离子体共振型光子晶体光纤(PCF)传感器的工作原理是在PCF包层中通过选择一些空气孔作为传感通道,并利用高压微流体化学气相沉积的方法在PCF的空气孔中沉积金属线、纳米颗粒或金属薄膜,然后,将待测的分析物填充到涂覆金属材料的空气孔内,就实现了该型传感器的设计。然而,通过上述方法获得的传感器在实际实施中难度很大。
[0005]随着现代信息技术的发展,光纤通信系统对器件的集成化及小型化提出了较高的要求。单 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于五芯光纤的低损耗五模模分复用器及D型传感器,其特征在于:包括基底材料(6)以及高折射率掺杂棒(7);所述高折射率掺杂棒(7)位于基底材料(6)内;所述基底材料(6)进行D型化侧抛处理;所述高折射率掺杂棒(7)包括第一高折射率掺杂棒(1)、第二高折射率掺杂棒(2)、第三高折射率掺杂棒(3)、第四高折射率掺杂棒(4)、第五高折射率掺杂棒(5);所述第一高折射率掺杂棒(1)位于基底材料(6)的中心位置,第二、三、四、五高折射率掺杂棒(7)按顺序依次分布在第一高折射率掺杂棒(1)的外围;第二、三、四、五高折射率掺杂棒(7)的直径相等,所述第一高折射率掺杂棒(1)直径大于第二、三、四、五高折射率掺杂棒(7)直径;所述第二高折射率掺杂棒(2)、第三高折射率掺杂棒(3)、第四高折射率掺杂棒(4)、第五高折射率掺杂棒(5)与第一高折射率掺杂棒(1)的几何中心的距离逐渐增大;所述第一高折射率掺杂棒(1)区域构成模分复用器的中心纤芯,所述第二高折射率掺杂棒(2)区域构成模分复用器的右侧旁芯,所述第三高折射率掺杂棒(3)区域构成模分复用器的左侧旁芯,所述第四高折射率掺杂棒(4)区域构成模分复用器的上侧旁芯,所述第五高折射率掺杂棒(5)区域构成模分复用器的下侧旁芯;中心纤芯用作复用信号的输出纤芯,各旁芯用作模式调制信号的输入纤芯及传感检测纤芯。2.根据权利要求1所述的一种基于五芯光纤的低损耗五模模分复用器及D型传感器,其特征在于:所述第一高折射率掺杂棒(1)的直径r1为16μm。3.根据权利要求2所述的一种基于五芯光纤的低损耗五模模分复用器及D型传感器,其特征在于:所述第二、三、四、五高折射率掺杂棒(7)的直径r2均为7μm。4.根据权利要求1所述的一种基于五芯光纤的低损耗五模模分复用器及D型传感器,其特征在于:所述第二高折射率掺杂棒(2)与第一高折射率掺杂棒(1)的几何中心的距离d1为16.5μm;第三高折射率掺杂棒(3)与第一高折射率掺杂棒(1)的几何中心的距离d2为18.5μm。5.根据权利要求4所述的一种基于五芯光纤的低损耗五模模分复用器及D型传感器,其特征在于:所述第四高折射率掺杂棒(4)与第一高折射率掺杂棒(1)的几何中心的距离d3为20μm;第五高折射率掺杂棒(5)与第一高折射率掺杂棒(1)的几何中心的距离d4为29μm。6.根据权利要求1
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5任一所述的一种基于五芯光纤的低损耗五模模分复用器及D型传感器,其特征在于:所述第一高折射率掺杂棒(1)的材料折射率n1为1.45485;所述第二高折射率掺杂棒(2)的材料折射率n2为1.456442;所述第三高折射率掺杂棒(3...
【专利技术属性】
技术研发人员:李建设,王晓凯,李曙光,卢辉斌,杜会静,韩颖,丁钰鑫,孟潇剑,郭英,
申请(专利权)人:燕山大学,
类型:发明
国别省市:
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