【技术实现步骤摘要】
再生PECVD设备或DRY ETCH设备腔体中的构件的方法
[0001]本公开涉及PECVD设备或DRY ETCH设备腔体中的构件的表面处理
,更特别涉及再生PECVD设备或DRY ETCH设备腔体中的构件的方法。
技术介绍
[0002]近年来,随着TFT
‑
LCD(薄膜晶体液晶显示器)行业的持续发展,对LCD面板的需求出现了爆发性增长。在LCD的制造流程中,通常需要使用PE CVD(等离子体增强化学气相沉淀法)以及DRY ETCH(干式蚀刻)两大核心工艺,因此不可避免地需要使用PECVD设备和DRY ETCH设备。
[0003]在实际生产中,PECVD设备和DRY ETCH设备腔体内通常包含多种构件(PARTS),这些构件由于处于等离子气体氛围(具有腐蚀性)且高压通电的环境下,会在表面形成成分复杂的沉积物。因此,一定寿命周期内需将构件取出,彻底剥离沉积物,以进行维修再生,从而实现重复利用。
[0004]然后,现有技术中,在构件的维修再生过程中,为了彻底去除表面(尤其是构件中包含的孔中 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.再生PECVD设备或DRY ETCH设备腔体中的构件的方法,包括以下连续步骤:(a)在2
‑
4kg的压力下,用120
‑
320目的喷料对所述构件的表面进行喷砂处理;(b)在45
‑
50℃下,用浓度为40
‑
100g/L的无机酸溶液清洗所述构件的表面;(f)对所述构件的表面进行研磨处理,以使得所述构件的平面粗糙度一致;(g)对所述构件的表面进行喷砂处理,以获得所需的粗糙度;(i)用酸性或碱性溶液对所述构件的表面进行化学刻蚀,以进行表面整平处理;(j)对所述构件的表面进行超声波清洗;(k)对所述构件的表面进行高压清洗;以及(l)干燥所述构件的表面。2.根据权利要求1所述的方法,还包括步骤:(c)检查所述构件的表面,当表面沉积物残留较少时,直接进入下一步骤,当表面沉积物残留过多时,重复所述步骤(a)和(b),直至沉积物残留较少后,进入下一步骤。3.根据权利要求1所述的方法,还包括步骤:(d)对所述构件的表面进行激光定点清洗;和/或,(e)对所述构件的表面进行超声波清洗;和/或,(h)任选地,使用干冰对所述构件的表面进行清洗。4.根据权利要求1所述的方法,其中所述喷料选自下组中的至少一种:铜矿砂、石英砂、金刚砂、铁砂、海砂、白刚玉砂和玻璃砂。5.根据权利要求1或2或3所述的方法,其中所述步骤(a)中的喷砂处理使用摆动式喷枪进行,所述喷枪的摆动幅度为+/
‑
15
°
至+/
‑
30
°
。6.根据权利要求1或2或3所述的方法,其中所述步骤(b)中的无机酸选自下组中的至少一种:硫酸和硝酸。7....
【专利技术属性】
技术研发人员:刘晓刚,黄来国,刘超,李仁杰,蔡广云,朱勇,
申请(专利权)人:合肥微睿光电科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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