一种用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统及控制方法技术方案

本发明专利技术公开了一种用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统及控制方法，包括：电源模块、测试主控模块和LPDDR4测试模块，所述电源模块与监测电脑电连接，所述电源模块设置在电源载板上，所述电源载板上还设置有第一连接座，所述测试主控模块设置在测试核心载板上，所述测试核心载板上还设置有第二连接座和第三连接座，所述第二连接座与所述第一连接座之间电连接，所述LPDDR4测试模块设置于待测载板上，所述待测载板上还设置有第四连接座，所述第四连接座与所述第三连接座电连接，所述待测载板上装载LPDDR4颗粒待测物；本发明专利技术由三个载板组成，能方便对载板进行更换，降低了成本，具有良好的市场应用价值。市场应用价值。市场应用价值。

【技术实现步骤摘要】
一种用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统及控制方法


[0001]本专利技术涉及LPDDR4颗粒测试平台领域，具体的说是一种用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统及控制方法。

技术介绍

[0002]LPDDR4可以说是全球范围内最广泛使用于移动设备的“工作记忆”内存，内存颗粒是内存条的核心部件，是内存的储存介质可以直接关系到内存的性能，目前大多生产厂商都针对内存颗粒进行验证平台开发，但主流做法是一体式，即将电源模块、主控测试芯片与待测物设计在同一载板上，此种做法通常只能测试相同封装样式的待测物，如用于测试200BALL封装样式的LPDDR4颗粒待测物的板子，通常无法直接用于测试254BALL封装样式的LPDDR4颗粒待测物，因此，在进行LPDDR4颗粒测试时，当LPDDR4颗粒待测物类型更换时，这种一体化的设计方式适配性差，同时，一体化的设计占用面积大，清洁不方便，当电路板一处出现损坏可能导致整板报废。

技术实现思路

[0003]本专利技术针对已有的一体化的LPDDR4颗粒的测试平台的不足，提供一种由三个载板组成，应用灵活的用于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统，其特征在于，包括：电源模块、测试主控模块和LPDDR4测试模块，所述电源模块设置在电源载板上，所述电源模块与监测电脑电连接，所述电源载板上还设置有第一连接座，所述测试主控模块设置在测试核心载板上，所述测试核心载板上还设置有第二连接座和第三连接座，所述第二连接座与所述第一连接座之间电连接，所述LPDDR4测试模块设置于待测载板上，所述待测载板上还设置有第四连接座，所述第四连接座与所述第三连接座电连接，所述待测载板用于装载LPDDR4颗粒待测物。2.根据权利要求1所述的用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统，其特征在于，所述LPDDR4颗粒待测物通过治具活动装载在所述待测载板上。3.根据权利要求1所述的用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统，其特征在于，所述电源模块包括总电源端口、控制芯片、第一电压电流检测电路和继电器控制电路，所述控制芯片经所述第一连接座和第二连接座与所述测试主控模块相连，与所述测试主控模块进行数据交换，所述总电源端口一端外接电源，另一端与所述第一电压电流检测电路相连，所述第一电压电流检测电路的第一引线与所述控制芯片连接，第二引线经所述第一连接座和第二连接座与所述测试主控模块相连，所述继电器控制电路的输入端接所述第一电压电流检测电路，使能端接所述控制芯片，输出端经所述第一连接座和第二连接座与所述测试主控模块相连，所述继电器控制电路用于控制所述测试主控模块的通断。4.根据权利要求3所述的用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统，其特征在于，所述电源模块还包括数据传输电路，所述数据传输电路的一端与所述控制芯片相连，另一端与所述监测电脑相连，用于所述控制芯片与监测电脑之间通讯。5.根据权利要求3所述的用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统，其特征在于，所述电源模块还包括复位电...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈宗廷，陈建光，杜兆航，戴洋洋，林国智，
申请(专利权)人：深圳市耀星微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：