一种用于与手电筒配合观察TPU薄膜表面晶点的工具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于与手电筒配合观察TPU薄膜表面晶点的工具，包括支架，所述支架包括第一立柱、第二立柱和横杆，所述横杆位于第一立柱、第二立柱之间，所述横杆的外侧设置有滑动块，所述滑动块的顶部表面设置有稳固框，所述稳固框相对的表面上均设置有稳固板，所述稳固框上设置有限位机构，所述限位机构包括第一定位柱、转动板、限位板和第一扭簧，所述第一定位柱贯穿转动板，所述转动板与限位板连接，所述第一扭簧的一端与稳固框连接，所述第一扭簧的另一端与转动板连接；TPU薄膜的边侧与稳固板贴合，限位板可夹住TPU薄膜的边侧，便于更换TPU薄膜，强光手电对着TPU薄膜进行照射，观察工具上的白色背景板可以清晰的看到晶点的大小和位置。点的大小和位置。点的大小和位置。

【技术实现步骤摘要】
一种用于与手电筒配合观察TPU薄膜表面晶点的工具


[0001]本技术属于TPU薄膜质量检验的
，具体涉及一种用于与手电筒配合观察TPU薄膜表面晶点的工具。

技术介绍

[0002]TPU材料是热塑性聚氨酯弹性体，它是一种高分子材料，具有高张力，高拉力，耐老化的特性。目前已广泛用于医疗卫生，电子电器，工业及体育等方面。在TPU薄膜的检验过程中，晶点的检测往往是用肉眼费时费力的去观测，TPU薄膜上的晶点肉眼不易观测，且会出现漏检错检的情况，不能快速便捷的评估TPU薄膜品质的高低，检测效率低，晶点观测不易。
[0003]现有的TPU薄膜晶点的检测肉眼不易观测的问题，为此我们提出一种用于与手电筒配合观察TPU薄膜表面晶点的工具。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种用于与手电筒配合观察TPU薄膜表面晶点的工具，以解决上述
技术介绍
中提出的TPU薄膜晶点的检测肉眼不易观测的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种用于与手电筒配合观察TPU薄膜表面晶点的工具，包括支架，所述支架包括第一立柱本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于与手电筒配合观察TPU薄膜表面晶点的工具，包括支架，其特征在于：所述支架包括第一立柱(1)、第二立柱(2)和横杆(3)，所述横杆(3)位于第一立柱(1)、第二立柱(2)之间，所述横杆(3)的外侧设置有滑动块(4)，所述滑动块(4)的顶部表面设置有稳固框(6)，所述稳固框(6)相对的表面上均设置有稳固板(11)，所述稳固框(6)上设置有限位机构，所述限位机构包括第一定位柱(13)、转动板(14)、限位板(12)和第一扭簧(15)，所述第一定位柱(13)贯穿转动板(14)，所述转动板(14)与限位板(12)连接，所述第一扭簧(15)的一端与稳固框(6)连接，所述第一扭簧(15)的另一端与转动板(14)连接，所述限位板(12)上设置有把手(7)，所述第二立柱(2)上设置有稳固杆(8)，所述稳固杆(8)上设置有白色背景板(9)。2.根据权利要求1所述的一种用于与手电筒配合观察TPU薄膜表面晶点的工具，其特征在于：所述滑动块(4)与横杆(3)滑动连接，所述滑动块(4)上设置有第一螺丝(5)，所述第一螺丝(5)与滑动块(4)之间通过螺纹旋合连接。3.根据权利要求1所述的一种用于与手电筒配合观...

【专利技术属性】
技术研发人员：钮敏杰，丁亮亮，叶苗波，
申请(专利权)人：江苏图研新材料科技有限公司，
类型：新型
国别省市：