三维摄影测量变形分析系统技术方案

本申请公开了一种三维摄影测量变形分析系统，包括：三维摄影模块，用于利用相机及软件对变形前及变形后的物体各角度进行拍摄，并数据采集并生成三维图像；对齐模块，将变形前的三维图像与变形后的三维图像对齐；校对模块，将物体变形前与变形后对三维图像进行比较并计算两三维图像对应点之间对最近距离，并确定每个最近距离区间，计算出变形分布；显示模块，将变形量通过图表形式进行直观反应并且将变形前和变形后的三维图像在显示屏上显示，在变形后的三维图像上用不同色彩标注变形的区间范围。该分析系统能够精确高效的对产品变形做出分析，且能直观的显示，更加便捷高效。更加便捷高效。更加便捷高效。

【技术实现步骤摘要】
三维摄影测量变形分析系统


[0001]本申请涉及三维摄影测量领域，特别是一种三维摄影测量变形分析系统。

技术介绍

[0002]目前，市面上的系统还没有对产品变形进行分析的功能，不能够分析产品变形情况，从而不便于产品应力的分析。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种三维摄影测量变形分析系统，以克服现有技术中的不足。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
[0005]本申请实施例公开了三维摄影测量变形分析系统，其特征在于：包括：三维摄影模块，用于利用相机及软件对变形前及变形后的物体各角度进行拍摄，并数据采集并生成三维图像；对齐模块，将变形前的三维图像与变形后的三维图像对齐；校对模块，将物体变形前与变形后对三维图像进行比较并计算两三维图像对应点之间对最近距离，并确定每个最近距离区间，计算出变形分布；显示模块，将变形量通过图表形式进行直观反应并且将变形前和变形后的三维图像在显示屏上显示，在变形后的三维图像上用不同色彩标注变形的区间范围。
[0006]优选的，在上述的三维摄影测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种三维摄影测量变形分析系统，其特征在于：包括：三维摄影模块，用于利用相机及软件对变形前及变形后的物体各角度进行拍摄，并数据采集并生成三维图像；对齐模块，将变形前的三维图像与变形后的三维图像对齐；校对模块，将物体变形前与变形后对三维图像进行比较并计算两三维图像对应点之间对最近距离，并确定每个最近距离区间，计算出变形分布；显示模块，将变形量通过图表形式进行直观反应并且将变形前和变形后的三维图像在显示屏上显示...

【专利技术属性】
技术研发人员：任文涛，范生宏，陈坚，
申请(专利权)人：北京普达迪泰科技有限公司，
类型：发明
国别省市：