用于检查牺牲器件上的静电放电效应的自动化方法技术

本公开的一些方面涉及用于检查牺牲器件上的静电放电(ESD)效应的自动化方法。例如，本公开的一些方面涉及一种方法，该方法包括：在电路设计中确定探针点，以用于确定探针点与接地之间的有效电阻，其中探针点在电路设计中的ESD路径上。该方法包括确定探针点和接地之间的电压。该方法还包括：由处理装置将ESD路径的基于在源点处的预定电流值和测量电压确定的电阻值与目标电阻值范围进行比较。该方法还包括在确定ESD路径的所确定的电阻值在目标电阻值范围之外时报告违规。值范围之外时报告违规。值范围之外时报告违规。

【技术实现步骤摘要】
用于检查牺牲器件上的静电放电效应的自动化方法


[0001]本申请要求于2020年11月20日提交的并且标题为“AN AUTOMATED METHOD TO CHECK ELECTROSTATIC DISCHARGE EFFECT ON A VICTIM DEVICE”的美国临时专利申请号63/116,647的权益，并且上述申请以其整体并入本文。
[0002]

[0003]本公开涉及电子设计自动化和工具的领域。更具体地，本公开涉及用于检查牺牲器件上的静电放电效应的自动化方法。

技术介绍

[0004]集成电路(IC)被设计为在几伏至几十伏操作。然而，在静电放电(ESD)事件期间，IC中的器件可能在其引脚两端经受数百伏，从而导致牺牲器件的严重故障和击穿。ESD保护电路装置被添加到IC以防止高电压损坏内部器件。ESD保护电路装置将与ESD事件相关联的高电流沿着被设计用于处理这些高电流的路径引导，通过这种方式限制或箝位可能损坏IC中的器件的电压。
[0005]ESD保护验证工具被用于确保IC具有足够的ESD保护以防止对内部器件的损坏。为了评估ESD保护方案的有效性，ESD保护检验工具测量ESD路径的端点之间的有效电阻并且将有效电阻与制造厂规定的规则进行比较。

技术实现思路

[0006]本公开的一些方面涉及一种用于实施自动化方法以检查牺牲器件上的静电放电效应的方法。例如，本公开的一些方面包括：在电路设计中确定探针点，以用于确定探针点与接地之间的有效电阻。探针点在电路设计中的静电放电(ESD)路径上。根据一些方面，该方法包括确定探针点与接地之间的电压。根据一些方面，该方法还包括由处理装置将ESD路径的基于在源点处的预定电流值和测量电压确定的电阻值与目标电阻值范围进行比较。根据一些方面，该方法还包括在确定ESD路径的所确定的电阻值在目标电阻值范围之外时报告违规。
[0007]本公开的一些方面涉及的方法还包括：确定源点与接地之间的电压；标识放电路径的、不对探针点与接地之间的电压作贡献的部分；以及从源点与接地之间的电压减去ESD路径的该部分两端的电压降。根据一些方面，确定探针点与接地之间的电压包括：确定逻辑分支点与接地之间的电压，其中探针点被连接到逻辑分支点。根据一些方面，从逻辑点流到探针点的电流在ESD事件期间为零。根据一些方面，目标电阻值范围由制造厂规则规定。根据一些方面，该方法还包括更新ESD路径中的电阻值以符合制造厂规则。根据一些方面，使用欧姆定律计算ESD路径的电阻值。
[0008]本专利技术的一些方面涉及存储指令的存储器，以及处理器，该处理器与存储器耦合且用于执行指令，并且指令在被执行时使处理器：在电路设计中确定探针点，以用于确定探针点与接地之间的有效电阻，其中探针点在电路设计中的静电放电(ESD)路径上。根据一些
方面，指令在被执行时还使处理器确定探针点与接地之间的电压。根据一些方面，指令在被执行时还使处理器将ESD路径的基于在源点处的预定电流值和测量电压确定的电阻值与目标电阻值范围进行比较。根据一些方面，指令在被执行时还使处理器在确定ESD路径的所确定的电阻值在目标电阻值范围之外时报告违规。
[0009]根据一些方面，指令在被执行时还使处理器：确定源点与接地之间的电压；标识放电路径的、不对探针点与接地之间的电压作贡献的部分；以及从源点与接地之间的电压减去ESD路径的该部分两端的电压降。根据一些方面，指令在被执行时还使处理器确定逻辑分支点与接地之间的电压，其中探针点被连接到逻辑分支点。根据一些方面，从逻辑点流到探针点的电流在ESD事件期间为零。根据一些方面，目标电阻值范围由制造厂规则规定。根据一些方面，指令在被执行时还使处理器更新ESD路径中的电阻值以符合制造厂规则。根据一些方面，使用欧姆定律计算ESD路径的电阻值。
[0010]本公开的一些方面涉及一种具有被存储的指令的非暂态计算机可读介质，指令在由处理器执行时使处理器执行操作，操作包括：在电路设计中确定探针点，以用于确定探针点与接地之间的有效电阻，其中探针点在电路设计中的静电放电(ESD)路径上。根据一些方面，操作包括通过ESD路径中的源点提供电流，以及确定探针点和接地之间的电压。根据一些方面，操作还包括：将ESD路径的基于在源点处的预定电流值和测量电压确定的电阻值与目标电阻值范围进行比较。根据一些方面，操作还包括在确定ESD路径的所确定的电阻值在目标电阻值范围之外时报告违规。
[0011]根据一些方面，由处理器执行的操作还包括：确定源点与接地之间的电压；标识放电路径的、不对探针点与接地之间的电压作贡献的部分；以及从源点与接地之间的电压减去ESD路径的该部分两端的电压降。根据一些方面，操作还包括确定探针点与接地之间的电压还包括确定逻辑分支点与接地之间的电压，其中探针点被连接到逻辑分支点。根据一些方面，从逻辑点流到探针点的电流在ESD事件期间为零。根据一些方面，目标电阻值范围由制造厂规则规定。根据一些方面，由处理器执行的操作还包括更新ESD路径中的电阻值以符合制造厂规则。
[0012]本
技术实现思路
不试图提供任何特定创新、实施例或示例的如其可以在商业中使用的完整意义。另外，本
技术实现思路
并不旨在表示创新、实施例或示例的关键元素或重要元素，或限制本公开的主题的范围。在本公开中发现的创新、实施例和/或示例不是全包含性的，而是描述了本主题的基本意义。因此，本
技术实现思路
的一个用途是下面给出的具体实施方式的序言。
附图说明
[0013]根据下面给出的详细描述和本公开的实施例的附图，将更全面地理解本公开。附图用于提供对本公开的实施例的知识和理解，并且不将本公开的范围限制于这些特定实施例。此外，附图不一定按比例绘制。
[0014]在附图中，类似的部件或特征可以具有相同或相似的呈标记形式的附图标记(诸如字母数字符号，例如附图标记)，并且可以表示类似或等同的功能。此外，相同类型的各种部件可以通过在附图标记之后跟着短划线和区分相似部件的第二标记而被区分。如果在说明书中仅使用第一附图标记，则不论第二附图标记如何，该描述适用于具有相同的第一附
图标记的任何类似的部件。下面是对附图的简要描述。
[0015]图1示出了示例性ESD保护电路中的ESD路径。
[0016]图2示出了根据本公开的一些实施例的示例性的经注释的ESD路径。
[0017]图3示出了根据本公开的一些方面的用于检查牺牲器件上的静电放电效应的示例方法。
[0018]图4示出了根据本专利技术的一些实施例的在集成电路的设计及制造期间使用的各种过程的流程图。
[0019]图5示出了本公开的实施例可以在其中被操作的示例计算机系统的抽象图。
[0020]在这样的各个附图中，可以省略附图标记，这与公认的工程实践一致；然而，本领域普通技术人员将理解，当在作为整体的图示和描述这些不同附图的随附公开内容的上下文中看时，很容易理解所示出的部件。
具体实施方式
[0021]本公开的各方面涉及一种用于检查牺牲器本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种方法，包括：在电路设计中确定探针点，以用于确定所述探针点与接地之间的有效电阻，其中所述探针点在所述电路设计中的静电放电ESD路径上；确定所述探针点与所述接地之间的电压；由处理装置将所述ESD路径的基于在源点处的预定电流值和测量电压确定的电阻值与目标电阻值范围进行比较；以及在确定所述ESD路径的所确定的电阻值在所述目标电阻值范围之外时报告违规。2.根据权利要求1所述的方法，其中确定所述探针点与所述接地之间的所述电压包括：确定所述源点与所述接地之间的电压；标识放电路径的不对所述探针点与所述接地之间的电压作贡献的部分；以及从所述源点与所述接地之间的电压减去所述ESD路径的所述部分两端的电压降。3.根据权利要求1所述的方法，其中确定所述探针点与所述接地之间的所述电压还包括：确定逻辑分支点与所述接地之间的电压，其中所述探针点被连接到所述逻辑分支点。4.根据权利要求3所述的方法，其中从所述逻辑点流到所述探针点的电流在ESD事件期间为零。5.根据权利要求1所述的方法，其中所述目标电阻值范围由制造厂规则规定。6.根据权利要求1所述的方法，还包括：更新所述ESD路径中的所述电阻值以符合制造厂规则。7.根据权利要求1所述的方法，其中使用欧姆定律计算所述ESD路径的所述电阻值。8.一种系统，包括：存储指令的存储器；以及处理器，与所述存储器耦合并且用于执行所述指令，所述指令在被执行时，使所述处理器：在电路设计中确定探针点，以用于确定所述探针点与接地之间的有效电阻，其中所述探针点在所述电路设计中的静电放电ESD路径上；确定所述探针点与所述接地之间的电压；将所述ESD路径的基于在源点处的预定电流值和测量电压确定的电阻值与目标电阻值范围进行比较；以及在确定所述ESD路径的所确定的电阻值在所述目标电阻值范围之外时报告违规。9.根据权利要求8所述的系统，其中执行所述指令还使所述处理器：确定所述源点与所述接地之间的电压；标识放电路径的不对所述探针点与所述接地之间的电压作贡献的部分；以及从所述源点与所述接地之间的电压减去所述ESD路径的所述部分两端的电压降。...

【专利技术属性】
技术研发人员：J，
申请(专利权)人：美商新思科技有限公司，
类型：发明
国别省市：