【技术实现步骤摘要】
本公开总体上涉及电子设计自动化(eda)系统，并且更具体地，涉及用于有效自动测试模式生成(atpg)的系统和方法。
技术介绍
1、自动测试模式生成(atpg)是一种技术，该技术用于寻找输入测试序列，以确定正确的电路行为和由缺陷引起的故障电路行为。atpg对于硅质量和产品生命周期至关重要。示例用例包括在制造后测试半导体器件，以及协助确定故障的原因。atpg的机制包括获得紧凑的模式集合，该紧凑的模式集合可以被应用于硅以确保预期的功能。在硅前设计流程期间，测试模式生成被运行多次，以确保紧凑的模式集合可实现。随着设计变得越来越大，测试模式生成时间也增加，并且可能影响进入市场时间。因此，需要一种有效的测试模式生成机制。
技术实现思路
【技术保护点】
1.一种用于由异步自动测试模式生成ATPG机器执行ATPG的方法，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，还包括：
3.根据权利要求2所述的方法，还包括：
4.根据权利要求1所述的方法，还包括：
5.根据权利要求1所述的方法，还包括：
6.根据权利要求1所述的方法，还包括：
7.根据权利要求6所述的方法，其中所述规定的标准包括：
8.一种用于自动测试模式生成ATPG的系统，所述系统包括：
9.根据权利要求8所述的系统，其中所述一个或多个处理器还被配置为：
10.根据权利要求9所述的系统，其中由所述至少一个ATPG工作器进行的测试模式的所述第二集合的所述生成以及对故障的所述检测，与由所述多个ATPG工作器中的另一ATPG工作器进行的测试模式的所述第一集合的所述生成以及对与测试模式的所述第一集合相关联的故障的所述检测独立且并发地被执行。
【技术特征摘要】
1.一种用于由异步自动测试模式生成atpg机器执行atpg的方法，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，还包括：
3.根据权利要求2所述的方法，还包括：
4.根据权利要求1所述的方法，还包括：
5.根据权利要求1所述的方法，还包括：
6.根据权利要求1所述的方法，还包括：
7.根据权利要求6所述的方法，其中所述规定的标准包括：
8.一...
【专利技术属性】
技术研发人员：P·沃尔，K·阿布德尔哈菲兹，M·D·德索扎，
申请(专利权)人：美商新思科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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