一种实时校正测厚仪X射线不稳定性的装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及测量技术领域，且公开了一种实时校正测厚仪X射线不稳定性的装置及方法。本发明专利技术在X射线测厚仪测量过程中，设置两个探测器，分别为用于获取X光机发出的X射线的强度的X光探测器、用于获取X光机发出的X射线经过钢带后的强度的X光经过钢带后探测器,两个探测器信号同时接入信号采集板以供上位机使用；以X光探测器检测到X射线的强度作为参照值，通过对比X光探测器和X光经过钢带后探测器测得的X射线的强度便可得出待测钢带的厚度。本发明专利技术解决了目前由于生产环境及设备自身稳定性而造成的影响测厚仪测量精度的问题。此外，本发明专利技术采用的探测器均为碘化铯探测器，具有稳定先进、易操作，不会随温度的变化而有太大的变化等优点。等优点。等优点。

【技术实现步骤摘要】
一种实时校正测厚仪X射线不稳定性的装置及方法


[0001]本专利技术涉及测量
，尤其涉及一种实时校正测厚仪X射线不稳定性的装置及方法。

技术介绍

[0002]随着我国经济水平的不断增长以及工业化水平的不断提高，钢铁材料在各行各业的应用已经越来越广泛，而且随着我国制造业的不断进步，对钢铁材料的质量要求也越来越高，其中钢铁材料的厚度更是所有质量指标要求最严格的。因此，测厚仪的测量精度与稳定性，决定了整个轧机系统性能的优劣，进而决定了整个钢铁产业的工艺水平。
[0003]目前，常用电离室探测器对钢铁材料的厚度进行测量，但是电离室探测器在使用时存在以下缺点：随着工作时间的增加探测器的温度会逐渐升高，温度升高后，需要对探测器进行不断的校正。
[0004]作为非接触式的能实现快速测量的X射线测厚仪是现代化轧机厚度控制系统的关键测量设备。对不同厚度板材的测量，可以通过调节设置不同的射线强度以提高测量精度，对于X射线测厚仪而言，在影响测量精度的诸多因素中，X射线强度的变化对测量精度的影响占主要因素。由于生产现场电气设备多，环境条件较差，电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种实时校正测厚仪X射线不稳定性的装置，其特征在于：包括C型架，所述C型架的底部安装有车轮，所述C型架设置在导轨上，所述导轨上设置有位置传感器，所述C型架的下悬臂上安装有用于驱动C型架沿导轨长度方向往复运动的驱动电机，所述驱动电机上装有链轮，链轮连接拖链；所述C型架上悬臂的内侧安装有X光机和X光探测器，所述X光探测器设置在X光机的下方，用于获取所述X光机发出的X射线的强度，C型架下悬臂的内侧位于X光机下方的位置安装有X光经过钢带后探测器，X光探测器和X光经过钢带后探测器之间设置有钢带，所述X光经过钢带后探测器用于获取所述X光机发出的X射线经过钢带后的强度，所述X光探测器、X光经过钢带后探测器同时与信号采集板连接，所述信号采集板与上位机连接并将其采集到的信号反馈给上位机。2.根据权利要求1所述的一种实时校正测厚仪X射线不稳定性的装置，其特征在于：所述X光探测器和X光经过钢带后探测器均为碘化铯探测器。3.根据权利要求1所述的一种实时校正测厚仪X...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁国良，
申请(专利权)人：太原泓博科技有限公司，
类型：发明
国别省市：