片材检查装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种能够实现省空间化、部件成本的削减以及维护工时的削减的片材检查装置。将用于检查片材的正面的瑕疵的第一光源部(Ls1)及第一检查部(S1)和用于检查片材的背面的瑕疵的第二光源部(Ls2)及第二检查部(S2)配置成如下位置关系：在片材上存在孔的情况下，第一检查部(S1)能够检测由第二光源部照射并透过了片材的孔的光。透过了片材的孔的光。透过了片材的孔的光。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】片材检查装置


[0001]本专利技术涉及片材检查装置。

技术介绍

[0002]以往，作为检查片状的被检查材料的正面和背面的缺陷、孔的片材检查装置，提出了具备分别检查被检查材料的正面侧和背面侧的瑕疵缺陷的两个瑕疵缺陷检查部和检查被检查材料的孔缺陷的透光式的孔缺陷检查部的结构(例如，参照专利文献1)。
[0003]但是，在采用光学式的检查装置作为瑕疵缺陷检查装置的情况下，需要设置分别照射被检查材料的正面背面的正面用光源及背面用光源、检测从正面用光源及背面用光源分别射出的光的来自被检查材料的反射光的正面用检测部及背面用检测部。因此，作为片材检查装置，加上被检查材料的孔检测用的透射光源以及检测从该透射光源射出并透过孔的光的孔用检测部，需要配置至少六个要素。
[0004]但是，在这样的片材检查装置组装于其他装置的一部分的情况下等，需要为了片材检查装置而确保较大的空间，阻碍装置整体的小型化。另外，片材检查装置的构成要素多，相应地成本上升，维护的工时也增加。
[0005]现有技术文献
[0006]专利文献
[0007]专利文献1：日本特开2001
‑
343331号公报

技术实现思路

[0008]专利技术所要解决的课题
[0009]本专利技术是鉴于上述那样的问题而完成的，其目的在于提供一种能够实现省空间化、部件成本的削减以及维护工时的减少的片材检查装置。
[0010]用于解决课题的手段
[0011]用于解决上述课题的本专利技术是一种片材检查装置，其对被检查材料的缺陷进行检查，该片材检查装置的特征在于，具备：第一光源部，其照射片状的所述被检查材料的第一面；第一检查部，其检测由所述第一光源部照射的光被所述被检查材料的所述第一面反射的反射光；第二光源部，其照射所述被检查材料的第二面；以及第二检查部，其检测由所述第二光源部照射的光被所述被检查材料的所述第二面反射的反射光，所述第一检查部配置在如下位置：在该位置处，在所述被检查材料存在孔的情况下，所述第一检查部能够检测到从所述第二光源部照射并透过了所述孔的光。
[0012]根据本专利技术，为了检查片材的第二面的缺陷而向片材的背面照射光线的第二光源部也作为用于检查片材的孔的光源发挥功能，并且用于检查片材的第一面的缺陷的第一检查部也作为用于检查片材的孔的孔检查部发挥功能。因此，能够省略用于检查片材的孔的单独的光源和检查部。这样，能够减少片材检查装置的部件数，因此能够实现省空间化以及低成本化，进而能够削减维护工时。
[0013]另外，在本专利技术中，也可以是，所述第一检查部检测由所述第一光源部照射的光被所述第一面反射的正反射光，所述第二检查部检测由所述第二光源部照射的光被所述第二面反射的正反射光。
[0014]由此，能够高精度地检查片材的第一面及第二面的缺陷。
[0015]另外，在本专利技术中，也可以是，由所述第一光源部照射的光的入射角和由所述第一检查部检测的正反射光的反射角均为10
±
5度，由所述第二光源部照射的光的入射角和由所述第二检查部检测的正反射光的反射角均为10
±
5度。
[0016]由此，能够可靠地检查厚度薄的被检查材料有无小孔。
[0017]专利技术效果
[0018]根据本专利技术，能够提供一种能够实现省空间化、部件成本的削减以及维护工时的减少的片材检查装置。
附图说明
[0019][图1]是表示本专利技术的实施例的检查装置的主要结构的图。
[0020][图2]是本专利技术的实施例的片材检查装置的功能框图。
具体实施方式
[0021]〔应用例〕
[0022]以下，参照附图对本专利技术的应用例进行说明。
[0023]在本专利技术中，如图1所示，将用于检查片材的正面的瑕疵的第一光源部Ls1及第一检查部S1和用于检查片材的背面的瑕疵的第二光源部Ls2及第二检查部S2配置成如下位置关系：在片材上存在孔的情况下，第一检查部S1能够检测由第二光源部照射并透过了片材的孔的光。
[0024]由此，不需要与用于检查片材的瑕疵的第一光源部、第一检查部、第二光源部以及第二检查部分开地另外设置用于检测片材的孔的光源部和检查部。这样，根据本专利技术，能够减少片材检查装置1的部件数，因此能够实现省空间化及低成本化，进而能够削减维护工时。
[0025]〔实施例1〕
[0026]以下，使用附图对本专利技术的实施例的片材检查装置1进行更详细的说明。
[0027]<装置结构>
[0028]图1表示本实施例的片材检查装置1的主要结构。
[0029]在图1中，输送作为片状的被检查材料的钢板等片材的片材输送路径T形成为沿水平方向(纸面的从左向右)输送片材。另外，片材输送路径T在与输送方向正交的方向(从纸面的近前侧向里侧与纸面正交的方向)上具有沿着片材的宽度方向的延长部分。虽然省略了图示，但片材被输送机等输送装置支承而沿着片材输送路T被输送。
[0030]片材的正面侧(纸面的上侧)的第一光源部Ls1配置为：在从第一光源部Ls1向片材照射的光线相对于片材输送路径T以向上方α度的角度入射时，从第一光源部Ls1入射并由片材正反射的光线(正反射光)、即相对于片材输送路径T以向上方α度的角度反射的光线入射到片材的正面侧的第一检查部S1。这样，从第一光源部Ls1到片材的光路L11和由片材反
射的光到第一检查部S1的光路L12相对于与片材输送路T正交的铅垂面V(从纸面的近前侧向里侧与纸面正交的面)所成的角度即入射角θ11和反射角θ12均呈90～α度的角度，处于相互面对称的位置。后述的片材检查装置1通过利用第一检查部S1检测这样由第一光源部Ls1照射并由片材的正面反射的光，来检查作为片材的正面的缺陷的瑕疵的有无。通过将第一检查部S1配置为检测由第一光源部Ls1照射的光的正反射光，能够高精度地检测片材的缺陷。在此，片材的正面对应于本专利技术的“第一面”。
[0031]片材的背面侧(纸面的下侧)的第二光源部Ls2配置为从第二光源部Ls2向片材照射的光线相对于片材输送路径T以向下方α度的角度入射。并且，片材的背面侧的第二检查部S2配置为从第二光源部Ls2入射并被片材正反射的光线(正反射光)、即相对于片材输送路径T以向下方α度的角度反射的光线入射到第二检查部S2。这样，从第二光源部Ls2到片材的光路L21和由片材反射的光到第二检查部S2的光路L22相对于与片材输送路T正交的铅垂面V所成的角度即入射角θ21和反射角θ22均呈90～α度的角度，处于相互面对称的位置。后述的片材检查装置1通过第二检查部S1检测这样由第二光源部Ls2照射并由片材的背面反射的光，由此检查作为片材的背面的缺陷的瑕疵的有无。通过将第二检查部S2配置为检测由第一光源部Ls2照射的光的正反射光，能够高精度地检测片材的缺陷。在此，片材的背面对应于本专利技术的“第二面”。
[0032]在此，配置为在从第二光源部Ls2向片材照射的光线由于在片材本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种片材检查装置，其对被检查材料的缺陷进行检查，该片材检查装置的特征在于，具备：第一光源部，其照射片状的所述被检查材料的第一面；第一检查部，其检测由所述第一光源部照射的光被所述被检查材料的所述第一面反射的反射光；第二光源部，其照射所述被检查材料的第二面；以及第二检查部，其检测由所述第二光源部照射的光被所述被检查材料的所述第二面反射的反射光，所述第一检查部配置在如下位置：在该位置处，在所述被检查材料存在孔的情况下，所述第一检查部能够检测到从所述第二光源部照射并透过了所述孔的光。...

【专利技术属性】
技术研发人员：川岛优人，
申请(专利权)人：欧姆龙株式会社，
类型：发明
国别省市：